X熒光合金成分分析光譜儀

   Ux-320X熒光合金成分分析光譜儀是寧波普瑞思儀器科技有限公司經過3年研發(fā)，門針對金屬合金、礦物質分析的定機型，三重射線防護系統(tǒng)；人性化操作界面；寧波普瑞思獨創(chuàng)的VisualFp基本參數法分析軟件，可不用標準樣品標定，即可對客戶樣品進行全元素分析。精心設計的開放式工作曲線功能，別適用于工藝復雜材料的工廠元素檢測與合金成分分析。

Ux-320X熒光合金成分分析光譜儀的性能優(yōu)勢：
1、獨創(chuàng)的VisualFp基本參數法分析軟件，可不用標準樣品標定，即對樣品成分進行準確分析。
2、除可測試合金成分外，還可對礦產品、未知金屬樣品進行精確測量，開創(chuàng)了XRF對全元素檢測的全面技術。
3、軟件可根據樣品材質、形狀和大小自動設定光管功率，既能延長光管使用壽命又能充分發(fā)揮探測器性能，大幅提測量精度。
4、業(yè)內唯提供開放式工作曲線標定平臺，可為每家用戶量身定做佳的元素分析工作曲線。
5、三重射線防護（軟件、硬件、迷宮設計），確保操作人員人身安全與意外操作帶來的輻射傷害。
6、儀器外部對樣品微調設計，降低及防止樣品放置好后關閉樣品蓋產生振動而使測試位置發(fā)生變化導致的測試不準確性。
7、可根據用戶要求自行定制測試報告輸出格式（Excel、PDF等），符合工廠多種統(tǒng)計及格式要求。
8、業(yè)內第家對達克羅涂覆工藝厚度分析的軟件方法，完全取代金相顯微鏡技術在該行業(yè)的應用。
9、軟件對多次測試結果進行統(tǒng)計分析功能。
10、業(yè)內第家既可以測試鍍層厚度，又可以同時分析基材及鍍層成分的XRF。

Ux-320X熒光合金成分分析光譜儀的技術指標：
1、儀器尺寸：680(W)x400(D)x390(H)mm
2、樣品腔尺寸：300*360*100mm；
3、低檢測厚度：1nm
4、檢測厚度上限，50 - 80um（視材料而定）
5、多測試層數：10層
6、測量時間 ：60-200s ( 系統(tǒng)自動調整 )
7、佳分辨率：見下面探測系統(tǒng)詳細參數說明
8、準直器：Φ0.5mm、Φ1mm、Φ2mm、Φ4mm自動切換
9、濾光片：5種濾光片自動切換
10、CCD觀察：260萬像素清CCD
11、樣品微動范圍：XY15mm
12、輸入電源：AC220V～240V，50/60Hz
13、額定功率：350W
14、重量：約45Kg
15、工作環(huán)境溫度：溫度15—30℃
16、工作環(huán)境相對濕度：≤85%（不結露）
17、穩(wěn)定性：多次測量重復性誤差小于0.1%

Ux-320X熒光合金成分分析光譜儀的主體配置：
1、探測系統(tǒng)
類型：AMPTEK Si-PIN X-123(整套原裝美進口)
Be窗：1mil(0.0254mm)
佳分辨率：145±5eV
系統(tǒng)峰背比：≥ 6200/1
能量響應范圍：1keV — 40keV
推薦計數率：5000cps 2、X光管：
型號：科頤維(產)
電 壓：0～50 kV
大電流：1.0 mA
大功率：50 W
燈絲電壓：2.0V
燈絲電流：1.7 A
射線取出角：12°
靶材：Mo
Be窗厚度：400um 3、壓電源：
型號：Spellman(美原裝進口)
輸入電壓：DC +24V±10%
輸入電流：4.0A（大）
輸出電壓：0 -50KV & 1mA
大功率：50W
電壓調整率：0.01% （從空載到滿載）
電流調整率：0.01% （從空載到滿載）
紋波系數：0.1% （P-P值）
8小時穩(wěn)定性：≤0.05% 4、微動平臺：
載物測試平臺，微調裝置在儀器外面，結合260萬像素的清CCD，對測試樣品進行精確定位，防止樣品放置好后關閉樣品蓋產生振動而使測試位置發(fā)生變化導致測試不準確； 5、分辨率CCD：
260萬像素的清CCD攝像頭，可有效的實時觀察測試區(qū)域狀況，并拍下物料照片，作為檢測報告的組成部分。 6、散熱系統(tǒng)：
效三維散熱系統(tǒng)，大幅度提供儀器的可靠性、穩(wěn)定性。 7、防輻射安全系統(tǒng)：
三重射線防護系統(tǒng)（軟件、硬件、迷宮式設計），開蓋測試自動警示系統(tǒng)。

Ux-320X熒光合金成分分析光譜儀的軟件配置：
1、軟件界面： 2、功能點：
（1）預置多條工作曲線，涵蓋銅基體、鐵基體、鋅基體等基體類型的常見元素分析，可滿足用戶常規(guī)元素測量的要求；
（2）寧波普瑞思獨創(chuàng)VisualFp基本參數法分析軟件，在分析基材合金成分的同時，還可分析鍍層成分含量，以及鍍層厚度，實用價值大大出客戶的想象空間；
（3）人性化的軟件界面與操作方法，使用獨有圖形顯示技術，既方便又直觀；結合大量操作經驗優(yōu)化操作步驟，極大方便用戶；
（4）完善的安全連鎖功能：配合硬件電路的防護措施，在不安全的操作發(fā)生時自動切斷X射線確保操作員不受X射線傷害；
（5）數據管理：由數據庫支持的業(yè)化報表生成、查詢打印等功能極大方便企業(yè)管理；
（6）智能化軟件保護，避免不當操作對光譜儀的損傷，延長儀器使用壽命；
（7）數據自動保存：所有樣品測試后的數據均會自動保存，測試結果具有可追溯性；
（8）穩(wěn)定性自檢功能：可即時對儀器當前穩(wěn)定性進行自動檢測；
（9）軟件具有對多次測試結果的統(tǒng)計功能，極大地方便客戶數據管理。

Ux-320X熒光合金成分分析光譜儀的軟件說明：
文件說明
[FpUx320.rar]解壓后，如下圖1及注釋說明： 解壓完成后，首先運行批處理文件[Setup.bat]，按提示順序安裝FlexCell表格控件、串口驅動和CCD驅動，安裝完成后進入硬件連接第二章及調試。

Ux-320X熒光合金成分分析光譜儀硬件連接及測試：
Ux-320/720與電腦的連接只需要條USB數據線，儀器與電腦連接好之后，啟動儀器電源，根據電腦提示安裝探測器（AMPTEK DPP）驅動。
1、設置壓和主板的端口號
啟動儀器電源，打開電腦設備管理器，根據設備管理器端口設置壓和主板的端口號，見下圖1所示： 壓和主板端口對應的配置文件在儀器配置文件system文件夾下面，見下圖2所示： 打開兩個配置文件口，分別將ComPort=改為COM5或者COM6，壓和主板端口配置正確后，打開調試程序[TestUxDllInSDI.exe]，如下圖3所示： 若打開軟件提示下圖4所示錯誤，點擊“確定”后，依然會打開調試軟件，但是此時儀器狀態(tài)顯示“未連接”，此時需將圖2中的兩個端口號進行互換，再打開調試程序。 2、設置準直器
打開調試軟件后，需要對準直器零點及步數，設置準直器零點和步數，如下圖5點擊Main Board， 彈出如下圖6所示界面： 點擊“設置”，彈出設置界面，如下圖7所示，根據硬件零點與步進電機步數設定各參數，確保準直器不會發(fā)生偏離，設置完成后分別點擊“OK”、“Hide”，回到主界面。 具體設置為：
a)頻率不得過1200Hz；
b)照相位離起點步數及準直器間隔步數的步數分別固定為2400和2683.3步；
c)準直器1號孔離起點步數（1號孔為4mm孔）有可能由于部件加工誤差需根據實際情況改動。也就是當準直器由拍照位向4 mm孔移動時，終偏差多少步就在準直器1號孔離起點步數的數值上加（或者減）多少步。
注意：同步硬件時鐘后面的滑動調節(jié)器是調節(jié)CCD燈的亮度，越往右表示燈越亮！
3、光管參數設置及光管老化
調試軟件顯示“待機”后，點擊待機右側的倒三角符號，點選“X-Ray Source”，彈出Dxm High Voltage Power Monitor對話框，如圖8和9所示。 注意：首先要檢查“設置燈絲”，對于Ux-320/720使用的50W科頤維光管，其設置參數為燈絲電流1.9A，功率50W。
對于新光管需要進行光管老化試驗，點擊“設置管流管壓”，輸入參數點選“OK”，然后點擊“Start Record”，界面將會記錄光管老化的管壓管流實時曲線，老化完成后點擊“Stop Record”，老化過程中若曲線異常，需重置曲線可選擇“Reset”，老化曲線將重新開始記錄，老化完成后可以點選“Save File”將老化參數進行保存。
注意：光管老化過程中，若是連續(xù)設置光管參數，需要對后面部分進行局部放大時，雙擊要查看曲線的起點，軟件會將曲線前面部分切除，切除部分將不可見，需慎用！
4、設置探測器
探測器參數設置，將初始化多元素樣品放入儀器樣品托盤上面，關閉儀器大蓋，在圖5界面右上角設置好初級濾光片（#4）、準直器（#1）和管壓管流、目標計數率及時間，點擊“切換到當前條件”，待機界面將會變?yōu)?ldquo;準備好收譜”，點選Detector，如下圖10所示，彈出DPP Viewer界面，如圖11所示。 點擊，彈出DPP Config Dialog界面，如圖2.12所示，按圖2.12將探測器各參數進行設定，注意設定Fast Channel時定要注意，設定完成后，點擊，點擊OK，回到圖11的DPP Viewer界面。 點擊，探測器開始收譜，點擊右面AgKa峰點，會出現AgKa當前的峰位，如圖13所示，根據峰位去調整圖12的Fine Gain值，并寫入DPP，直調到AgKa峰位為1111道為止。 5、設定CCD中心點
用類似如下圖14所示的夾具固定根細純銅絲（其他純金屬絲也可），水平放在載物平臺上，如圖15所示。 在圖16界面右上角設置好初級濾光片（#2）、準直器（#4）和管壓管流、時間（要足夠長），點擊“切換到當前條件”，待界面變?yōu)?ldquo;準備好收譜”后，點選界面右下角的“連續(xù)采樣”，然后調節(jié)Y軸，直到調節(jié)到計數率大值（右下角顯示）為止，點擊“結束”，儀器恢復到待機狀態(tài)，點擊CCD下面的“中心點”確定水平位置。 然后再將銅絲垂直放置，按上述方法調節(jié)X軸大計數率點，這樣就確定了CCD中心點。
別說明：在調試CCD中心位置時，建議適當調整硬件，好能將CCD中心調整到Video Setup界面的中心位置！

Ux-320X熒光合金成分分析光譜儀的軟件界面介紹：
VisualFpV1.0主界面窗口[FpClas1]主要分為：A菜單欄、B工具欄、C儀器狀態(tài)顯示欄、D工作曲線設定及樣品測試區(qū)、E測試進度及譜處理狀態(tài)區(qū)、F譜圖顯示區(qū)、G樣品照片顯示、H結果顯示區(qū)共8個欄位。如圖1所示。 下面就組成軟件界面的各個部分做以簡要介紹：
、菜單欄（A區(qū)）：
菜單欄由System、查看、窗口以及幫助部分組成。
（1）System： System Config——XRF系統(tǒng)參數定義，如下圖3所示，儀器X光管、DPP、系統(tǒng)幾何參數、探測器效率定義。 Peroidic Table——元素周期表
Condiyions Set——測試條件集，用于預定義測試條件，如下圖4。 能量刻度功能介紹：
點選“能量刻度”，彈出如圖5（左）所示能量刻度界面，點擊“采集譜”，彈出CCD界面（此時已放入多元素樣品），點擊“確定”，收譜自動進行，完成后如圖5（右）所示，先后點擊“重新計算”和“OK”，回到圖4，再點擊“OK”，能量刻度完成。 退出：退出軟件。
（2）查看菜單：
用于查看工具欄與狀態(tài)欄。
（3）窗口菜單：
FpClas1的顯示方式。
（4）幫助菜單：
關于FpClass：顯示軟件版本號和版權所有。 二、工具欄（B區(qū)）
：菜單欄的部分定義圖標。
三、儀器狀態(tài)顯示（C區(qū)）
該區(qū)域儀器當前狀態(tài)，包括管壓、管流數值，當前濾光片和準直器情況，系統(tǒng)預置時間，活時間、實時間以及DPP快計數率、慢計數率及死時間。
另外顯示儀器當前狀態(tài)，與以上因素都有關聯，當儀器長時間不使用時，界面會顯示：系統(tǒng)長時間無操作，自動進入休眠！，此時儀器狀態(tài)顯示“關機狀態(tài)”。
除此之外，點擊狀態(tài)旁邊的設置按鈕會彈出關于主機對話框，如下圖7所示，在該對話框會顯示主機型號，編號，光管工作時間，DPP型號及FPGA版本和主機配置。 設置右面的倒三角為X光管、下位機主板、CCD和探測器的設置按鈕。
四、工作曲線設定及樣品測試區(qū)（D區(qū)）
應用包括創(chuàng)建、打開和編輯三個按鈕。
創(chuàng)建——用于創(chuàng)建工作曲線，下章將會詳細介紹；
打開——打開已建立的工作曲線，打開工作曲線會在應用下面顯示。比如當前打開“Cu鍍Au”工作曲線，如下圖8所示，點擊工作曲線前面的“+”，會顯示參考樣品及測試樣品，對于新建的工作曲線，沒有參考樣品，只會顯示測試樣品。
在參考樣品下會顯示所有的標準樣品及是否測試狀態(tài)。在參考樣品下單擊右鍵，可以添加標準樣品，重新計算/測試標準樣品，也可以定義校正曲線等操作，如圖8所示。 在測試樣品下面可以查看已測試的樣品結果，也可以重測樣品，測試新的樣品要在E區(qū)點擊樣品測試。
編輯——編輯當前打開工作曲線的配置文件。
——快速找到當前正在測試的樣品信息。
注意：為了防止誤操作，當樣品正在測試時，應用下面的3個按鈕將變?yōu)榛疑�，不能進行操作！
五、測試進度及譜處理（E區(qū)） 定性分析：
對于未知樣品測試，測試前操作人員無法預知其樣品性，可以采用定性分析功能。
點擊“定性”按鈕，彈出“樣品定性測量”對話框，如圖10所示，選擇測試條件，點擊“Measure”按鈕，彈出CCD窗口，打開儀器樣品蓋，放入樣品。然后輸入樣品名稱，選擇準直器和設定時間系數（可使用默認值），如圖11所示，點擊“確定”，收譜自動進行，待10s以后，“譜線識別”顯示黑色，點擊“譜線識別”，譜線上將會標識元素元素符號，根據元素譜圖判別樣品屬性，操作人員很方便根據樣品屬性選擇相應工作曲線。 測試樣品：
確定樣品屬性后，選擇相應工作曲線，點擊“測試樣品”按鈕，彈出CCD窗口，如圖12所示，然后輸入樣品名稱，確定測試次數、準直器和測試時間，點擊“OK”，硬件自動調整到位，樣品測試自動進行，見進度條顯示，此時軟件邊收譜，邊計算，見軟件D區(qū)顯示，樣品測試完成，軟件顯示儀器處于待機狀態(tài)，測試結果在譜圖下面顯示。 樣品測試時，發(fā)現放錯樣品或者選錯工作曲線，可以點選“中斷”按鈕，此時軟件會提示是否進行此操作，如下圖13所示。 選擇“是”，測試停止，儀器待機準備，待機后會彈出“清除未測”對話框，選擇是，軟件會將沒有測試完的樣品刪除。
選擇“否”，本次測試完成后再結束，對于多次重復測樣，后面的就不會自動測試。
選擇“取消”，將不會進行操作，測試繼續(xù)進行。
注意：
a)時間系數的設定，在標定時默認時間為×4，測試時默認時間為×1，操作者可以根據后面的“*2和/2”進行調整。
b)CCD照片將自動保存在G區(qū)。
c)收譜完成后，測試并沒有結束，軟件還處于精確計算階段（FP在不停地迭代），此時譜圖下面的各測試元素后面顯示會是○和●共存，若全部顯示●后，測試結束，軟件顯示待機狀態(tài)，對于成分過于復雜樣品，尤其是微量元素的迭代時間后比較長，若是對這些元素不太關心的話，可以點選“Iter OK”結束迭代；但若是樣品測試進度條還在前進的話，點此按鈕軟件將拒絕反應。
六、譜圖顯示（F區(qū)）
顯示當前所測試樣品的譜圖或打開的樣品譜圖。
七、樣品照片顯示（G區(qū)）
圖5拍攝的樣品照片顯示或者打開譜文件時顯示的照片，當打開的譜文件無照片時，該區(qū)域顯示系統(tǒng)設置的默認照片。
八、結果顯示（H區(qū)） 如圖14所示，顯示當前被測樣品的測試結果，其結果有FP和修正兩個，FP結果表示沒有標樣，由FP法直接算出的結果，修正結果表示通過標定的工作曲線，對測試結果進行修正，當計算強度無限接近實測強度時，迭代下顯示●，當二者存在偏差時顯○。

Ux-320X熒光合金成分分析光譜儀的標定與測試：
1、標定
在應用下打開要標定的工作曲線，然后分別點擊工作曲線名稱和參考樣品前的“+”，下拉出標樣列表，如下圖15所示，首先檢查測量配置，點擊“編輯”，打開配置文件對話框，如下圖16所示，檢查測試條件（測試條件、時間、對齊方式和需要測試的元素、對齊譜線、準直器、報告單位等），確定無誤后，點保存無誤后退出。 注意：
（1）定要將“允許實時能量刻度以修正峰位”前面的對勾打上，這樣的話，只要將能量刻度做好就不需要進行每次開機做峰位微調了。
（2）若是需要測試的元素在組分里沒有添加的話，可以點擊右上角的“=”，在彈出的元素周期表中添加，添加后點擊“自動獲取可用的定量譜線”，在彈出的對話框中連續(xù)點擊“是”，“是”，“確定”，“OK”，“OK”，軟件就自動獲取相應的譜線了。
（3）若需要更換測試條件，在系統(tǒng)預定義條件下選擇相應的條件，點擊“加入到測試條件”，然后選中之前的測試條件，點選“不再使用”，測試條件就更新了（慎用�。�。
（4）“修改濾波器”的參數沒有研發(fā)中心同意，千萬不要擅自作主張自行修改。
（5）點擊“保存應用”退出后，軟件會彈出如下圖17對話框，若是測試條件發(fā)生變更，要重新測試標樣，點擊確定，以前測試的譜圖將自動全部刪除，若是測試條件沒有變更，點擊“取消”，之前測試的譜圖還會保存，只需重新計算即可！ 確定測量配置后，檢查或者添加參考樣品（新建工作曲線），若是標樣不齊，先右鍵“添加參考樣品”或者“批量添加參考樣品”，然后再右鍵點擊“參考樣表”，彈出“查看標樣”對話框，如圖18所示，可以對標樣信息直接進行編輯。 確定測量配置和標樣信息后，可以開始標定了，在樣品平臺中放入標樣，雙擊對應的標樣名稱，彈出CCD視窗，確定準直器和測試時間（默認時間為設定的4倍），點擊“確定”，標樣收譜自動進行，所有標樣都收譜完成后，右鍵單擊參考樣品，點選“定義校正曲線”彈出查看含量校準曲線對話框，如下圖19，對各工作曲線進行擬合，擬合完成后點擊“退出”。 擬合工作曲線操作及注意事項如下：
（1）在對話框左面的列表下選擇擬合元素，對于各標樣點都在曲線附近時，分別點擊“擬合曲線”、“確認校正系數”即可；
（2）若某些點不希望其參加擬合，雙擊該點，該點變?yōu)?ldquo;”形狀，不參與曲線擬合；
（3）若某元素的各標樣點離散顯示，說明該元素標稱值存在問題，此時不要按第步操作，應點選“使用缺省值”，那么測試未知樣時，軟件自動FP法計算，否則會導致結果與真實值存在較大偏差；
（4）二次曲線和自定義校正關系非業(yè)人士慎用，否則會導致錯誤結果產生；
（5）強制過零可以根據測試需要自行選擇。
工作曲線擬合完成后，為了驗證工作曲線的好壞和儀器的穩(wěn)定性，需要做實用性檢驗，選擇適當的標樣放入測試平臺，右鍵單擊相對應的標樣名稱，點選“作未知樣檢測”，軟件彈出CCD視窗，確定測試次數，點擊“OK”，實用性檢驗自動進行，測試完成后，在測試樣品下找到相應樣品名稱，右鍵查看報告，彈出單個樣品結果報告，如下圖20所示，可根據測試結果統(tǒng)計確定儀器性能及工作曲線制備情況，若測試次數不夠，可右鍵再測次（可多次點擊），再行查看報告。 實用性檢驗滿足要求后，則該工作曲線制備完成，可進行其他工作曲線標定或樣品測試。
2、樣品測試
測試流程如下圖： 鍍層測厚測試注意事項：
（1）標定的工作曲線與實際樣品測試可能會存在差異，從而導致鍍層測試結果與實際情況存在較大差異，為了避免此類情況的出現，需要先確認測試樣品的基材，若無法確定測試基材與標樣基材致時，建議先將鍍層某部分去掉，進性基材分析，確定基材后，再進行測試。比如測試個銅合金鍍層樣品時，先在銅合金半定量工作曲線中將基材進行測試，測試完成后，右鍵樣品名稱，選中復制到剪切板，然后再打開相應的鍍層工作曲線，點選編輯，選中Base，點選“從剪切板添加”，點擊“確定”，這樣，基材信息就添加到工作曲線中，如下圖21所示，保存應用后就可對該基材進行鍍層測試了。 （2）若鍍層材質非單材質，而是合金時，要在測量配置中將鍍層組分填寫完成，否則會導致測試偏差，比如銅合金樣品上鍍鎳再鍍鈀鎳合金（假定鈀鎳合金的成分比例為4:1），那么在測量配置中要將外層成分配置如下圖22所示，并且在設定該層的密度時，不能是Ni或者Pd的密度，要將其設為0，有軟件根據二者的成分自動計算，除非已知該合金的真實密度，否則密度設錯也會出現錯誤的測試結果。
（3）若鍍層基材為合金材料時，若已知基材具體成分，可在測量配置中將基材屬性設為輸入，測量前根據提示輸入相應成分；若基材成分未知，可將定量改為待計算值，并選取相應的定量譜線，軟件會自動計算基材成分，但此值僅供參考。 （4）對于鍍層為達克羅等涂覆工藝技術時，其設定更為復雜，建議根據實際工藝情況，與研發(fā)中心確認后再行建立工作曲線測試，否則測試結果也會出現較大偏差。

Ux-320X熒光合金成分分析光譜儀的新工作曲線建立：
儀器出廠時都會對常見的工作曲線進行標定，但是客戶在實際應用中往往會發(fā)現自己的很多工藝找不到對應的工作曲線，造成測試困擾，為了幫助客戶解決此類問題，我公司研發(fā)中心耗費了近3年的心血，終于本軟件問世——VisualFP法。
當遇到以上問題時，請新建工作曲線對樣品進行測試，具體操作步驟為如下： 要點說明：
（1）創(chuàng)建前好打開個類似的工作曲線，比如要建立個Cu鍍Ni鍍Pd的工作曲線，可先打開Cu鍍Ni鍍Au的工作曲線，再點擊“創(chuàng)建”，在命名后，勾選樣品結構和測試條件，可減少當前工作曲線的些設置。
（2）定義測量配置，先要設定基材，然后點擊插上層，并該鍍層輸入信息及組分，鍍層信息完成后添加測試條件，然后點選測試條件，軟件會詢問是否自動獲取該條件的分析譜線，點選“是”，各層元素的分析譜線和測試時間就會自動獲取，操作人員只需確定對齊譜線和報告單位、默認準直器，測量配置就定義完成。
（3）由于本軟件算法已經實現無標樣算法，工作曲線創(chuàng)建完成即可測試，不需要別的樣品進行標定，若是客戶能提供標樣的話，可對測試結果進行修正，但定要確認提供的標樣信息準確。

附錄A： 水晶頭銅芯接觸片金屬鍍層測厚指南
水晶頭是網絡連接中重要的接口設備，是種能沿固定方向插入并自動防止脫落的塑料接頭，用于網絡通訊，因其外觀像水晶樣晶瑩透亮而得名為“水晶頭”。主要用于連接網卡端口、集線器，交換機、電話等。
市面上常見的水晶頭分普通和檔兩種，通過外觀其區(qū)分為：普通水晶頭（全塑料+銅芯接觸片）檔水晶頭（金屬包邊+塑料+ 銅芯接觸片）。通過材料區(qū)分，普通水晶頭的銅芯接觸片為銅合金材質，然后在外面鍍上Ni再鍍上Au，檔水晶頭的銅芯接觸片為紫銅鍍上Ni再鍍上Au，保證良好通訊。
由于現代網絡通訊已經滲透到我們生活的每個角落，水晶頭的作用愈來愈重要，為此需要對水晶頭銅芯接觸片的金屬鍍層進行厚度分析，以下是筆者整理的測試心得，希望對大家有定的幫助和啟發(fā)。
1、樣品拆分及固定 由上圖A.1（中）可以看出，銅芯接觸片并不是全部鍍金，為了節(jié)約成本，通常只會在銅芯接觸片的接觸端鍍金，當然鍍Ni通常是整體鍍的。這為我們的精確測試帶來了很大的難度。
所需工具：鑷子；
固定樣品治具：包裝泡棉、輕粘土（橡皮泥）等。
2、樣品放置
平時我們對條形樣品進行RoHS測試時，般都會將條形樣品沿著X射線出射方向放置（下文稱“橫向”），因為這樣放置盡可能多的使樣品受到X射線激發(fā)，保證穩(wěn)定性，對于單均質的樣品以上方法是比較好的，但是對于銅芯接觸片這類不均勻的鍍層測厚，橫向放置樣品會為測試帶來問題。
如上圖A.1（右）所示固定的樣品，由于樣品是幾塊薄片疊在起，薄片之間難免存在縫隙，若是橫向放置，X射線除了激發(fā)到要測試的Au部分，還會激發(fā)到樣品邊緣的Au較薄的地方，這樣測試就會導致Ni的測試值比實際值�？梢詮囊韵伦V圖予以佐證（圖A.2）。 從圖A.2的計算結果可以看出Ni的厚度為5.74um，通過Ni的Ka峰來判斷，Ni的計算譜與實測譜完全重合，結果應該不存在問題，但是該樣品是銅基鍍Ni再鍍Au的，我們再看CuKb1,3的分析譜線比實測譜線低很多，說明很大部分Ni沒有對CuKb1，3進行吸收，也就是說我們測試的Ni的峰其實并不全是鍍層的峰，那么實際上的Ni應該比測試結果低。
對于以上樣品，若是我們將樣品放置方向旋轉90°（即條形樣品與X射線出射方向垂直，縱向放置，下文稱“縱向”），那么其測試譜圖如下圖A.3所示。 同樣品縱向放置后的譜圖如圖3所示，此時Ni厚度的計算結果為2.02um，再看CuKb1,3的譜圖（局部放大），分析譜線與實測譜線完全重合，說明Ni厚度的測試結果應該更接近于真實值。
當然這樣縱向放置樣品進行測試，對于樣品靠近X射線面肯定受到X射線激發(fā)，但是由于樣品測試面與測試薄膜垂直，樣品本身把樣品側面受激發(fā)產生的熒光給擋住了，即側面產生的X熒光不會進入探測器；而靠近探測器面由于樣品本身不會受到原級X射線激發(fā)，不會產生熒光，從而探測器所接受的X熒光全部為測試面所產生的，因此測試結果可信度非常。
3、測試分析
對于以上樣品的測試結果，初步確認縱向結果更為可靠，但是僅靠這樣的分析還是不夠的，還應該對樣品譜圖進行更深入的剖析，比如樣品是不是放置在佳測試點，這就需要根據實際的測試情況進行分析，對于以上樣品譜圖，我們再繼續(xù)放大觀察，檢查譜圖的每個細節(jié)，看計算譜與實測譜是否致，如果不致，要分析其原因，比如圖A.3樣品，由于樣品比較小，只能靠包裝泡棉、輕粘土（橡皮泥）等材料固定，測試前需要做以下確認：
1)將輔助材料測試遍，確認其對測試結果沒有影響；
2)對于小樣品，要選擇合適的準直器；
3)要結合CCD與計數率，確認樣品測試位置足夠準確。
對于圖A.3的樣品，將X軸稍稍移動下，準直器依然選擇1mm，再測試次，其計算結果為：Ni2.10um，Au0.092um，與第次測試結果差距不大，但將譜圖局部放大后，MoKa-C處譜圖的計算譜與實測譜存在差異，如圖A.4所示，相較而言第次測試結果（圖A.3）就更為可靠。 4、結果處理
份好的測試報告不定是你的所有測試值完全在客戶的心里范圍之內，當然這很重要，但要做到卻很難，因為你不定都了解客戶樣品的屬性，儀器也不可能每次都會如你所想，但個人認為對于任個樣品的測試，我們都很仔細的去分析，在測試結果中將有可能的干擾因素及解決方案都寫的很清楚，如果我是客戶的話，我會更樂于接受后種，畢竟終的使用者是客戶。
如果我們不這樣做，每次測試僅僅是草草將測試結果報告給客戶了事，不做任何分析，畢竟不是每個客戶對我們的儀器和方法都很了解，在不了解的情況下，客戶能夠做的就只有將我們的測試結果與他所謂的標稱值進行比對，如果兩者存在定的差異，而我們又沒有任何分析解釋，那么我們終得到的結果就是華唯的儀器測不準，所有機會也將隨之失去！

Ux-320X熒光合金成分分析光譜儀的外圍設備：
1、儀器標配設備示意圖 2、儀器標配設備參數
（1）計算機
CPU：intel雙核
內存：2G
硬盤：500G
顯示器：19英寸
（2）噴墨打印機
彩色噴墨印機
（3）儀器隨機配件及技術資料
測試薄膜 50片
保險管 五個
保修卡 份
合格證 份
儀器操作手冊 本
輻射安全檢測報告 份

Ux-320X熒光合金成分分析光譜儀的售后服務：
1、為客戶免費提供操作培訓,培訓期至三天。
2、整機保修年，全聯網售后保修，并終身提供技術服務支持。
3、保修期內的非人為因素儀器損壞，免費維修。

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