比表面積及介孔（中孔）微孔分析儀是金埃譜科技的主營產(chǎn)品，分為F-Sorb X400系列比表面積分析儀和V-SorbX800 Series系列比表面積及孔徑分析儀兩個系列。另外金埃譜科技在2012年新推出了高溫高壓氣體吸附儀儲氫性能分析測試儀器及真密度測試儀。金埃譜科技是國內(nèi)最早參與比表面積標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)標(biāo)定的機(jī)構(gòu),測試結(jié)果與國外數(shù)據(jù)可比性平行性最好,并獲取權(quán)威認(rèn)證機(jī)構(gòu)的檢測證書,同時金埃譜科技也是國內(nèi)同行業(yè)中現(xiàn)金注冊資本規(guī)模最大,唯一通過ISO9001質(zhì)量認(rèn)證的生產(chǎn)型企業(yè),雄厚實力和完善的質(zhì)量及服務(wù)體系,讓您選購的產(chǎn)品無后顧之憂!
比表面積儀又稱為比表面積分析儀，比表面積測定儀，比表面積測試儀，比表面積測量儀，比表面儀及BET比表面積儀，氮吸附比表面積儀，低溫氮吸附儀等，金埃譜比表面積儀分為2站式比表面積儀及4站式比表面積儀，均為全自動比表面積儀。帶孔徑分析的稱為比表面積及孔徑分析儀或者稱為比表面積孔隙度分析儀，比表面積孔結(jié)構(gòu)分析儀，比表面積孔徑分析儀，比表面積介孔分析儀，比表面積微孔分析儀，比表面積中孔分析儀，平均孔徑分析儀，孔徑分布測試儀，等溫線測定儀，介孔微孔分布測定儀等。
F-Sorb X400系列比表面積分析儀是基于流動色譜法（俗稱動態(tài)法）原理開發(fā)的。具有測試準(zhǔn)確，速度快，能適應(yīng)粉塵車間惡劣環(huán)境等優(yōu)點。流動色譜法采用氦氣做載氣，通過改變氮氣氦氣的流量比例實現(xiàn)氮氣分壓的調(diào)節(jié)。F-Sorb X400系列比表面積分析儀是常壓操作，無需抽真空，無需進(jìn)行體積標(biāo)定，同時進(jìn)行4路樣品分析，因此具有測試速度快的特點。F-Sorb X400系列比表面積分析儀除了具有BET多點比表面積測試功能外，同時具有直接對比法和單點BET功能。因此F-Sorb X400系列比表面積分析儀是電池材料（如：磷酸鐵鋰，錳酸鋰，鈷酸鋰，三元材料，石墨，堿性材料等），納米材料（如：納米氧化鋁，納米二氧化硅，納米氧化鈦，納米氧化鎂，納米氧化鈣，納米氧化鋇，納米氧化鋯，鈦等），金屬及金屬氧化物（如：鐵粉，銅粉，四氧化三鐵，氧化銅，鐵氧化物等）及塑料補(bǔ)強(qiáng)劑（如：白炭黑，炭黑，白碳黑，碳黑等）等材料比表面積生產(chǎn)監(jiān)控的最佳選擇。
金埃譜科技是北京市高新技術(shù)企業(yè),總部位于我國著名的高校云集,中科院研究院所匯聚的北京高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)區(qū)-中關(guān)村.公司起源和服務(wù)于中國兵器系統(tǒng)行業(yè),依托當(dāng)?shù)厝瞬刨Y源和兵器系統(tǒng)技術(shù)優(yōu)勢,致力于科學(xué)分析儀器的研發(fā),生產(chǎn)及銷售.以創(chuàng)立兵器和民用行業(yè)國有知名品牌為發(fā)展宗旨,通過與兵器系統(tǒng)密切合作,同時借鑒國外先進(jìn)技術(shù),研發(fā)具有自主知識產(chǎn)權(quán)的自動化及智能化檢測儀器,為我國科研單位及生產(chǎn)企業(yè)提供與國際產(chǎn)品接軌,高可靠性,高性價比的一流科研設(shè)備.
 V-SorbX800 Series系列比表面積及孔徑分析儀是基于靜態(tài)容量法的基本原理開發(fā)的物理吸附儀，氮氣作為常用的吸附氣體，故靜態(tài)容量法比表面積及孔徑分析儀又稱為氮吸附儀或者氮吸附比表面積儀。V-SorbX800 Series系列比表面積及孔徑分析儀較F-Sorb X400系列比表面積分析儀的相對測量原理相比較，V-SorbX800 Series系列比表面積及孔徑分析儀以氣體狀態(tài)方程PV=nRT為計算公式，以絕對測量的方式得到氣體吸附量，用于計算材料的比表面積及孔徑數(shù)據(jù)。采用絕對測量的原理是的V-SorbX800 Series系列比表面積及孔徑分析儀具有測試準(zhǔn)確度高，測試范圍廣等優(yōu)點。對于測試樣品種類繁多的檢測機(jī)構(gòu)及對測試結(jié)果要求精準(zhǔn)高的科研機(jī)構(gòu)、高�；蛘咂髽I(yè)研發(fā)部門，V-SorbX800 Series系列比表面積及孔徑分析儀是您的最佳選擇。
V-SorbX800 Series系列比表面積及孔徑分析儀可以得到的完整的吸脫附氮吸附等溫線，且根據(jù)等溫線可以得到多點BET比表面積值，單點BET比表面積值，中孔孔徑分布及孔容（包括中孔中值孔徑，平均孔徑，孔徑分布，不同孔徑區(qū)間孔容積貢獻(xiàn)率等），微孔孔徑分布（包括微孔孔徑分布，中值孔徑，微孔孔容，微孔面積等）等實驗數(shù)據(jù)。同時可以根據(jù)吸脫附等溫線的滯后環(huán)推測材料的孔結(jié)構(gòu)及一系列樣品的孔結(jié)構(gòu)差異，同XRD衍射結(jié)果及掃描電鏡結(jié)果相互佐證，定性樣品的結(jié)構(gòu)。V-SorbX800 Series系列比表面積及孔徑分析儀為您在材料分析方面提供必要的孔結(jié)構(gòu)、孔體積、孔隙率及孔分布的表征結(jié)果。
V-SorbX800 Series系列比表面積及孔徑分析儀廣泛應(yīng)用于分子篩（微孔分子篩：3A分子篩，4A分子篩，5A分子篩，13X分子篩及Y型分子篩；介孔分子篩：ZSM-5分子篩，SBA-15分子篩等），納米材料，介孔催化劑材料，微孔活性炭，硅膠填料，交換樹脂，化工填料等材料的氮吸附等溫線測定，比表面積測定，總孔容積測定，平均孔徑，孔徑分布中值孔徑，最可幾孔徑等參數(shù)的測定。