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| 酚酞 | 熔點(diǎn)對(duì)照品 |
| 水楊酸片 | 溶出度校正片 |
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| 水楊酸 | 含量測(cè)定 |
| α－甲基吡啶 | 檢查用 |
HD-443產(chǎn)品簡(jiǎn)介：破裂機(jī)標(biāo)準(zhǔn)配件
產(chǎn)品名稱：X熒光鍍層測(cè)厚儀波譜校正片
產(chǎn)品型號(hào)：X熒光鍍層測(cè)厚儀CMI900，CMI920波譜校正片，測(cè)厚儀校正片，膜厚儀校正片
X-熒光鍍層測(cè)厚儀CMI900 / 920金屬鍍層厚度的準(zhǔn)確測(cè)量
CMI 900 / 920 系列X射線熒光測(cè)厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測(cè)量?jī)x器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確、快速的分析.基于Windows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版 SmartLink FP 應(yīng)用軟件包，實(shí)現(xiàn)了對(duì)CMI900/920主機(jī)的全面自動(dòng)化控制。
技術(shù)參數(shù)：
CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x，在技術(shù)上一直以來都領(lǐng)先測(cè)厚行業(yè)。
A CMI 900 能夠測(cè)量包含原子序號(hào)22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層
（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測(cè)量合金材料的成份百分含量可同時(shí)測(cè)定多達(dá)5層、15 種元素。
B ：精準(zhǔn)度領(lǐng)先行業(yè) ：數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式，以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求 ；如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測(cè)定位置的圖象、CAD文件等。
D ：統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、大值、小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對(duì)偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。CMI900/920系列X射線熒光測(cè)厚儀能夠測(cè)量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
E ：可測(cè)量任一測(cè)量點(diǎn)，可達(dá)0.025 x 0.051毫米樣品臺(tái)選擇：CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對(duì)大面積線路板樣品的測(cè)量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用，分別為： 一：手動(dòng)樣品臺(tái)1 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)：XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。 2 擴(kuò)展型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)：XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。 3 可調(diào)高度型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)：XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。
二：自動(dòng)樣品臺(tái)
1 程控樣品臺(tái)：XYZ軸自動(dòng)控制。 2 超寬程控樣品臺(tái)：XYZ軸自動(dòng)控制。
CMI920系列采用開閉式樣品室，以方便測(cè)定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。如右下圖所示。同樣，CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用，分別為：1 全程控樣品臺(tái)：XYZ 三軸程序控制樣品臺(tái)，可接納的樣品高度為150mm，XY 軸程控移動(dòng)范圍為 300mm x 300mm。 此樣品臺(tái)可實(shí)現(xiàn)測(cè)定點(diǎn)自動(dòng)編程控制。 2 Z軸程控樣品臺(tái)：XY軸手動(dòng)控制，Z軸自動(dòng)控制，可接納的樣品高度為270mm。
3 全手動(dòng)樣品臺(tái)：XYZ三軸手動(dòng)控制，可接納的樣品高度為356mm。 可擴(kuò)展式樣品臺(tái)用于接納超大尺寸樣品。
鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)校正片
產(chǎn)品類型： 配件及消耗品
產(chǎn)品名稱： X熒光鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片
產(chǎn)品型號(hào)： X熒光鍍層測(cè)厚儀CMI900 X-STRATA920適用的各種厚度、規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)片
測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片，專業(yè)用于X射線測(cè)厚儀（膜厚儀）在測(cè)金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測(cè)試檔案。也就是我們?cè)谀ず駵y(cè)試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線法，是測(cè)量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對(duì)應(yīng)關(guān)系，來得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。之后以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來測(cè)量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對(duì)于PCB、五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測(cè)厚儀來檢測(cè)品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。
英國牛津標(biāo)準(zhǔn)片，Oxford標(biāo)準(zhǔn)片，CMI標(biāo)準(zhǔn)片，測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片，校正片，又稱標(biāo)準(zhǔn)箔，膜厚片，通用于所有X射線鍍層測(cè)厚儀(進(jìn)口品牌Fischer、Oxford（CMI）、Thermo、Veeco、Micro Pioneer XRF-2000、Seiko SII等，國產(chǎn)天瑞，納優(yōu)等)。
1. 薄膜片,單層測(cè)量品種：鎳（Ni）；鉻（Cr）；銅（Cu）；鋅（Zn）；Cd（鎘）；錫（Sn）；銀（Ag）；金（Au）；鈀(Pd)等，其它鍍層可定制.
2. 鍍層標(biāo)準(zhǔn)片：雙鍍層：Au/Ni/xx， 三鍍層：Au/Pd/Ni/xx等.
3. 合金標(biāo)準(zhǔn)片：合金鍍層測(cè)量：Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni、Ni-P等.
4. 測(cè)量厚度范圍：0.01~300μm.
美國THERMO/CalMetrics X-RAY鍍層膜厚測(cè)試儀標(biāo)準(zhǔn)片
測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片,專業(yè)用于測(cè)厚儀（膜厚儀）在測(cè)金屬鍍層厚度的時(shí)候進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn).也就是我們?cè)谀ず駵y(cè)試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線法,是測(cè)量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量和強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對(duì)應(yīng)關(guān)系，來得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。之后以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來測(cè)量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對(duì)于PCB,五金電鍍,半導(dǎo)體等行業(yè)使用測(cè)厚儀來檢測(cè)品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。
測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片一般分為單鍍層片，雙鍍層片,多鍍層片,合金鍍層片,化學(xué)鍍層片。如:
單鍍層：Ag/xx, 雙鍍層：Au/Ni/xx , 三鍍層：Au/Pd/Ni/xx, 合金鍍層：Sn-Pb/xx, 化學(xué)鍍層：Ni-P/xx.
我們可以根據(jù)客戶不同的金屬元素,鍍層結(jié)構(gòu),鍍層厚度等要求向美國工廠定做標(biāo)準(zhǔn)片,并可出據(jù)標(biāo)準(zhǔn)片厚度值證書.
我公司是一精密測(cè)試儀器代理商，為香港儀高集團(tuán)附屬成員. 我集團(tuán)在中國和香港地區(qū)代理韓國MICRO PIONEER XRF-2000系列X-射線測(cè)厚儀及德國ROENTGENANALYTIK Compact eco系列X-射線測(cè)厚儀。此兩種儀器主要用于鍍層或涂層厚度的測(cè)量，而且特別適合于對(duì)微細(xì)表面積或超薄鍍層的測(cè)量。歡迎隨時(shí)來電咨詢或親臨我司測(cè)試及參觀!!!
多年來，我們一直于為PCB 廠商，電鍍行業(yè)，科研機(jī)構(gòu)，半導(dǎo)體生產(chǎn)等電子行業(yè)提供高性能的儀器和的售后服務(wù)。讓客戶滿意，為客戶創(chuàng)造最大的價(jià)值是我們始終追求的目標(biāo)，因?yàn)槲覀儓?jiān)信，客戶的需要就是我們前進(jìn)的動(dòng)力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍(lán)圖！
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