產(chǎn)品名稱 | 平面直徑d(mm) | 工作面平面性(μm) |
平面平晶 | 30 | 0.03 |
平面平晶 | 45 | |
平面平晶 | 60 | |
平面平晶 | 80 | |
平面平晶 | 100 | 0.05 |
平面平晶 | 150 | |
平面平晶 | 200 | |
平面平晶 | 250 | |
平面平晶 | 300 | 0.08 |
萊州市膠帶傳送帶防雨罩,運(yùn)輸機(jī)防塵罩粉塵輸送帶防塵罩的安裝步驟如下:一、工器具及材料準(zhǔn)備:準(zhǔn)備好相應(yīng)防雨罩及防雨罩的固定材料,二、做好相應(yīng)安全措施后,系好安全帶,準(zhǔn)備安裝三、將選擇好的防雨罩安放在繼電器上面,調(diào)整位置,將繼電器整個罩在里面,檢查是否有可能進(jìn)水的地方,在位置調(diào)整結(jié)束,檢查沒進(jìn)水的地方之后,用綁扎帶或者其他牢固的繩索將其固定,防止防雨罩自己脫落,不起作用;四、安裝需要爬上變壓器上面,所以在安裝過程中要系好安全帶,防止高空墜落;五、安裝結(jié)束后要檢查確認(rèn),查看是否安裝牢固可靠。六、整理工作現(xiàn)場,收拾工具后撤離工作現(xiàn)場。我公司的粉塵輸送帶防塵罩具有良好的抗沖擊能力,且價格合理,助力眾多企業(yè),減少粉塵污染情況,還能夠起到保護(hù)到輸送設(shè)備;還銷售皮帶機(jī)遮雨罩、皮帶機(jī)膠帶機(jī)防護(hù)罩、皮帶機(jī)卷簾式護(hù)罩、膠帶機(jī)防護(hù)罩、弧形皮帶機(jī)防護(hù)罩和彩瓦皮帶防塵罩;詳情請聯(lián)系熙卓客服,歡迎來電訂購。萊州市膠帶傳送帶防雨罩,運(yùn)輸機(jī)防塵罩隨著生產(chǎn)企業(yè)的多樣化,粉塵輸送帶防塵罩的使用范圍越來越廣了;很多用戶會購買防塵罩后,自行安裝;現(xiàn)在,熙卓工作人員_為大家介紹一下關(guān)于它的一些基本情況和安裝情況吧,希望對您的使用有所幫助。
產(chǎn)品名稱 | 平面直徑d(mm) | 工作面平面性(μm) |
平面平晶 | 30 | 0.03 |
平面平晶 | 45 | |
平面平晶 | 60 | |
平面平晶 | 80 | |
平面平晶 | 100 | 0.05 |
平面平晶 | 150 | |
平面平晶 | 200 | |
平面平晶 | 250 | |
平面平晶 | 300 | 0.08 |
檢測千分尺平行面用
*平行平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的誤差程度。*平行平晶具有高精度的平面性和平行性。*平行平晶用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。平行平晶共分四個系列,每個系列各分六組,每組四塊。
平行平晶技術(shù)要求
組別 | 兩工作面的平行度 | 工作面的平面度 | 2/3d范圍內(nèi)的平面度 |
I、II | 0.6 | 0.1 | 0.05 |
III | 0.8 | 0.1 | 0.05 |
IV | 1.0 | 0.1 | 0.05 |
*平行平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平行平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的誤差程度。*平行平晶具有高精度的平面性和平行性。*平行平晶用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。平行平晶共分四個系列,每個系列各分六組,每組四塊。
平行平晶技術(shù)要求及價格
組別 兩工作面的平行度 工作面的平面度 2/3d范圍內(nèi)的平面度 價格
I(0-25) 0.6 0.1 0.05 750
II(25-50) 0.6 0.1 0.05 1000
III(50-75) 0.8 0.1 0.05 1375
IV(75-100) 1.0 0.1 0.05 1750
平行平晶/平面平晶有兩個(或一個)光學(xué)測量平面的正圓柱形或長方形的量規(guī)。光學(xué)測量平面是表面粗糙度數(shù)值和平面度誤差都極小的玻璃平面,它能夠產(chǎn)生光波干涉條紋(見激光測長技術(shù))。平晶有平面平晶和平行平晶兩種。平面平晶用于測量高光潔表面的平面度誤差,為用平面平晶檢驗(yàn)量塊測量面的平面度誤差。平行平晶的兩個光學(xué)測量平面是相互平行的,用于測量兩高光潔表面的平行度誤差,例如千分尺兩測量面的平行度誤差.平晶用光學(xué)玻璃或石英玻璃制造。
產(chǎn)品名稱 | 規(guī)格 | 級別 | 精度 |
平面平晶 | φ30 | 一級 | 0.03μm |
φ45 | 一級 | 0.03μm | |
φ60 | 一級 | 0.03μm | |
φ80 | 一級 | 0.05μm | |
φ100 | 一級 | 0.05μm | |
φ150 | 一級 | 0.05μm | |
φ200 | 一級 | 0.1μm | |
φ250 | 一級 | 0.1μm | |
φ300 | 一級 | 0.1μm | |
φ500 | 二級 | 0.1μm | |
平行平晶 | 0-25 | 一級 | |
¥3900元
平行平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的誤差程度。*平行平晶具有高精度的平面性和平行性。*平行平晶用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。平行平晶共分四個系列,每個系列各分六組,每組四塊。
組別 | 兩工作面的平行度 | 工作面的平面度 | 2/3d范圍內(nèi)的平面度 | 價格 |
I(0-25) | 0.6 | 0.1 | 0.05 | 600 |
II(25-50) | 0.6 | 0.1 | 0.05 | 800 |
III(50-75) | 0.8 | 0.1 | 0.05 | 1100 |
IV(75-100) | 1.0 | 0.1 | 0.05 | 1400 |
*平行平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的誤差程度。*平行平晶具有高精度的平面性和平行性。*平行平晶用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。平行平晶共分四個系列,每個系列各分六組,每組四塊。
平行平晶技術(shù)要求
組別 | 兩工作面的平行度 | 工作面的平面度 | 2/3d范圍內(nèi)的平面度 |
I、II | 0.6 | 0.1 | 0.05 |
III | 0.8 | 0.1 | 0.05 |
IV | 1.0 | 0.1 | 0.05 |