表面阻抗分析儀產(chǎn)品及廠家

電纜半導(dǎo)電屏蔽層電阻率測(cè)試儀的供應(yīng)商
電纜半導(dǎo)電屏蔽層電阻率測(cè)試儀的供應(yīng)商根據(jù)國(guó)標(biāo)gb11017-89所規(guī)定的測(cè)試方法和技術(shù)要求制造,用來(lái)測(cè)試高壓電纜半導(dǎo)電內(nèi)外屏蔽層的電阻率,四端法測(cè)試原理,通過(guò)測(cè)試裝置能夠滿足不同線徑之產(chǎn)品測(cè)量其屏蔽層電阻率。
更新時(shí)間:2024-12-11
系列雙電四探針?lè)勰╇娮杪蕼y(cè)試儀數(shù)據(jù)管理
系列雙電四探針?lè)勰╇娮杪蕼y(cè)試儀數(shù)據(jù)管理粉體受到壓縮直至平穩(wěn)時(shí),粉體空隙率非常小,壓實(shí)密度接近于真密度狀態(tài),則此時(shí)測(cè)試出來(lái)的粉末電導(dǎo)率為接近于理論值.
更新時(shí)間:2024-12-11
FT-333方阻測(cè)試儀
ft-333方阻測(cè)試儀 gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā?ft-333方阻測(cè)試儀
更新時(shí)間:2024-12-11
四探針電阻率測(cè)試儀,方阻儀
四探針電阻率測(cè)試儀,方阻儀 顯示讀數(shù):液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率 四探針電阻率測(cè)試儀,方阻儀
更新時(shí)間:2024-12-11
硅材料測(cè)試儀-四探針?lè)y(cè)試臺(tái)
硅材料測(cè)試儀-四探針?lè)y(cè)試臺(tái) 探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差,比市場(chǎng)上其他普通的四探針測(cè)試方法更加完善和進(jìn)步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測(cè)量,更加準(zhǔn)確.硅材料測(cè)試儀-四探針?lè)y(cè)試臺(tái)
更新時(shí)間:2024-12-11
四點(diǎn)探針測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)
四點(diǎn)探針測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)四探針電阻率測(cè)試儀 恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,運(yùn)輸安全、使用方便 ft-336四探針電阻率測(cè)試儀
更新時(shí)間:2024-12-11
FT-341雙電四探針測(cè)試儀,雙電四探針電阻率測(cè)試儀
ft-341雙電四探針測(cè)試儀,雙電四探針電阻率測(cè)試儀 選購(gòu)1.pc軟件; 選購(gòu)2.方形探頭; 選購(gòu)3.直線形探頭; 選購(gòu)4.測(cè)試平臺(tái) ft-341雙電四探針測(cè)試儀,雙電四探針電阻率測(cè)試儀
更新時(shí)間:2024-12-11
FT-343雙電四探針電阻率/方阻測(cè)試儀
ft-343雙電四探針電阻率/方阻測(cè)試儀 利用電流探針、電壓探針的變換,進(jìn)行兩次電測(cè)量,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析,自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響 ft-343雙電四探針電阻率/方阻測(cè)試儀
更新時(shí)間:2024-12-11
FT-345雙電測(cè)電四探針電阻率方阻測(cè)試儀
ft-345雙電測(cè)電四探針電阻率方阻測(cè)試儀 ft-345雙電測(cè)電四探針電阻率方阻測(cè)試儀
更新時(shí)間:2024-12-11
FT-346雙電測(cè)四探針電阻率測(cè)試儀
ft-346雙電測(cè)四探針電阻率測(cè)試儀 質(zhì)量輕便,運(yùn)輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動(dòng)生成報(bào)表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示 ft-346雙電測(cè)四探針電阻率測(cè)試儀
更新時(shí)間:2024-12-11
FT-347雙電測(cè)電四探針電阻率方阻測(cè)試儀
ft-347雙電測(cè)電四探針電阻率方阻測(cè)試儀 ft-347雙電測(cè)電四探針電阻率方阻測(cè)試儀,電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率
更新時(shí)間:2024-12-11
四探針測(cè)試儀檢測(cè)范圍
四探針測(cè)試儀檢測(cè)范圍, 配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu). 四探針測(cè)試儀
更新時(shí)間:2024-12-11
粉末高阻測(cè)試儀,粉體阻抗分析儀
粉末高阻測(cè)試儀,粉體阻抗分析儀 絕緣材料存在的狀態(tài)有固態(tài)規(guī)則形狀如(長(zhǎng)方體,圓柱體等是固有形狀)及不規(guī)則狀態(tài)(如粉末狀,膏體狀,液態(tài)流動(dòng)狀),目前對(duì)絕緣體材料的測(cè)試方法和測(cè)量方式基本上是采用三環(huán)電極結(jié)構(gòu)測(cè)量規(guī)則形狀體,而不規(guī)則狀材料的測(cè)試較少,本機(jī)主要能滿足傳統(tǒng)的電阻測(cè)量外,還可以測(cè)試不規(guī)則狀態(tài)(如粉末狀,膏體狀,液態(tài)流動(dòng)狀)材料的電阻和電阻率 粉末高阻測(cè)試儀,粉體阻抗分析儀
更新時(shí)間:2024-12-11
絕緣粉末電阻率測(cè)試儀
絕緣粉末電阻率測(cè)試儀, 電路結(jié)構(gòu)采用集成電路及高精度芯片控制系統(tǒng),滿足測(cè)試數(shù)據(jù)的高效采集和數(shù)據(jù)的讀取.自動(dòng)量程轉(zhuǎn)換 絕緣粉末電阻率測(cè)試儀
更新時(shí)間:2024-12-11
FT-351高溫四探針電阻率測(cè)試系統(tǒng)
ft-351高溫四探針電阻率測(cè)試系統(tǒng) ,爐膛材料:采用復(fù)合陶瓷纖維材料,具有真空成型,高溫不掉粉的特征 usb通訊接口,軟件界面同步顯示、分析、保存和打印數(shù)據(jù) ft-351高溫四探針電阻率測(cè)試系統(tǒng)
更新時(shí)間:2024-12-11
四探針電導(dǎo)率測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)
四探針電導(dǎo)率測(cè)試儀技術(shù)參數(shù), 比市場(chǎng)上其他普通的四探針測(cè)試方法更加完善和進(jìn)步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測(cè)量,更加準(zhǔn)確 四探針電阻率儀
更新時(shí)間:2024-12-11
四探針探頭批發(fā),四探針臺(tái)
四探針探頭批,發(fā)四探針臺(tái) , 采用四探針組合雙電測(cè)量方法,液晶顯示,自動(dòng)測(cè)量,自動(dòng)量程,自動(dòng)系數(shù)補(bǔ)償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出;選配:pc軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)管理和處理.
更新時(shí)間:2024-12-11
智能型雙電測(cè)四探針測(cè)試儀
智能型雙電測(cè)四探針測(cè)試儀,采用四探針組合雙電測(cè)量方法,液晶顯示,自動(dòng)測(cè)量,自動(dòng)量程,自動(dòng)系數(shù)補(bǔ)償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出;選配:pc軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)管理和處理.
更新時(shí)間:2024-12-11
LX-9831電壓降測(cè)試系統(tǒng)
lx-9831電壓降測(cè)試系統(tǒng) 本系統(tǒng)電壓降和接觸電阻是車(chē)用電線束插接器在強(qiáng)電流電路和弱電流電路下電性能評(píng)定指標(biāo);在恒定電流狀態(tài)下,通過(guò)測(cè)試導(dǎo)線壓接和端子接觸區(qū)域的電壓降,還可以獲得接觸電阻數(shù)據(jù);如果通過(guò)模擬環(huán)境試驗(yàn)測(cè)試后的汽車(chē)用插接器再進(jìn)行電壓降測(cè)試,數(shù)據(jù)能更真實(shí)反映產(chǎn)品本身的特性;適用于科研院所、企業(yè)研發(fā)、進(jìn)料檢驗(yàn)和質(zhì)量中心等技術(shù)部門(mén)提供更加精準(zhǔn)和可靠的數(shù)據(jù)保證 lx-9831電壓降測(cè)試系統(tǒng)
更新時(shí)間:2024-12-11
電線束插接器壓降測(cè)試系統(tǒng)批發(fā)
電線束插接器壓降測(cè)試系統(tǒng)批發(fā),通過(guò)電流、電壓和時(shí)間,來(lái)檢測(cè)電線束插接器電壓降、接觸電阻和溫升變化關(guān)系,是汽車(chē)用插接器的主要電氣性能指標(biāo),它直接影響汽車(chē)各電氣設(shè)備的信號(hào)傳輸和電氣連接,以及電氣設(shè)備的工作穩(wěn)定性和可靠性;不良的接觸電阻和壓降是汽車(chē)用插接器工作時(shí)產(chǎn)生溫升的主要原因。降低接觸電阻可有效控制溫升,從而提高插接器壽命和性能.
更新時(shí)間:2024-12-11
端子壓降測(cè)試系統(tǒng)價(jià)格
端子壓降測(cè)試系統(tǒng),電線束壓降測(cè)試系統(tǒng) 本系統(tǒng)采用集成電路及高精度芯片控制,通過(guò)測(cè)量接觸電阻、電壓降及溫升等數(shù)據(jù)來(lái)檢測(cè)電線束插接器的電性能,恒流源供給更加穩(wěn)定的輸出,大液晶顯示屏幕更加直觀,各類(lèi)參數(shù)和功能設(shè)定通過(guò)薄膜面板實(shí)現(xiàn),人性化設(shè)計(jì)符合人體工學(xué)原理,提供usb、232、485通訊接口;可以連接打印機(jī)、電腦和其他外接控制單元,配置pc軟件可以獲得更多過(guò)程數(shù)據(jù),測(cè)試報(bào)表處理、存儲(chǔ)和數(shù)據(jù)分析有助于產(chǎn)
更新時(shí)間:2024-12-11
安徽瑞柯高導(dǎo)電粉末電阻率測(cè)試儀
采用高精度恒流恒壓源,自動(dòng)量程,無(wú)需手動(dòng)調(diào)節(jié)和設(shè)定。大液晶屏幕顯示,所有測(cè)試數(shù)據(jù)和設(shè)定數(shù)據(jù)均可顯示,當(dāng)選擇經(jīng)濟(jì)型手動(dòng)測(cè)量裝置匹配時(shí)能直觀的查看數(shù)據(jù);如果在條件許可下可以選擇自動(dòng)測(cè)量裝置將獲得更高精確的重復(fù)性數(shù)據(jù)和消除操作誤差帶來(lái)的不確定性。
更新時(shí)間:2024-12-11
隔熱導(dǎo)電膜四探針電阻率測(cè)試儀
隔熱導(dǎo)電膜四探針電阻率測(cè)試儀,本品為解決四探針?lè)y(cè)試超高阻值材料方阻及電阻率,最大可以測(cè)試到1010ω方阻值,是目前同行業(yè)中能測(cè)量到的最大方阻值,此儀器是瑞柯新品,主要用于測(cè)超高阻。
更新時(shí)間:2024-12-11
重慶導(dǎo)電窗膜表面阻抗分析儀廠家
本儀器配置各類(lèi)測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示,無(wú)需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能,電阻率單位自動(dòng)選擇,儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程,無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。
更新時(shí)間:2024-12-11
通用型粉末電阻率測(cè)試儀
通用型粉末電阻率測(cè)試儀本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門(mén),是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算,配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).使用薄膜按鍵開(kāi)關(guān)面板,操作簡(jiǎn)單,耐用,符合人體工學(xué)操作規(guī)范.
更新時(shí)間:2024-12-11
絕緣材料高溫表面和體積電阻率測(cè)試儀
絕緣材料高溫表面和體積電阻率測(cè)試儀適用標(biāo)準(zhǔn):gb/t 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗(yàn)方法》;en 1149-1-1995 《防護(hù)服 靜電性能 第1部分表面電阻檢驗(yàn)方法和要求》;gb/t 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》(與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)iec93-1980等效);fz/t 64013-2008 《靜電植絨毛絨》.
更新時(shí)間:2024-12-11
導(dǎo)體材料高溫電阻率測(cè)試儀
導(dǎo)體材料高溫電阻率測(cè)試儀廣泛用于:生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)對(duì)導(dǎo)體材料在高溫下電阻率數(shù)據(jù)的測(cè)量.同時(shí)顯示液晶顯示:電阻、電阻率、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、電導(dǎo)率,配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).
更新時(shí)間:2024-12-11
材料低電阻率測(cè)試儀
材料低電阻率測(cè)試儀滿足標(biāo)準(zhǔn): gb/t6717、gb/t 24525-2009、ys/t63.2、 iso 11713-2000、ys/t63.2-2005、ys/t 64-1993。gb3048.2-2007、gb/t3048.4-2007、gb/t3952-2008、gb/t3953-2009、gb/t3954-2008、gb/t3955-2009、gb/t3956-2008.
更新時(shí)間:2024-12-11
雙電測(cè)電四探針測(cè)試儀
雙電測(cè)電四探針測(cè)試儀采用四探針雙電測(cè)量方法,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén),是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類(lèi)測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示,無(wú)需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能,電阻率單位自動(dòng)選擇,儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程,無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。
更新時(shí)間:2024-12-11
四探針?lè)阶鑳x
四探針?lè)阶鑳x按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)(astm f84)及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā贰b/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn),本機(jī)配置232電腦接口及usb兩種接口.
更新時(shí)間:2024-12-11
方塊電阻測(cè)試儀
方塊電阻測(cè)試儀按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)(astm f84)及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā贰b/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn).
更新時(shí)間:2024-12-11
薄膜方阻測(cè)試儀
薄膜方阻測(cè)試儀按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)(astm f84)及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā贰b/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)
更新時(shí)間:2024-12-11
絕緣粉末/液體電阻率測(cè)試儀測(cè)定方法
絕緣粉末/液體電阻率測(cè)試儀測(cè)定方法,絕緣材料存在的狀態(tài)有固態(tài)規(guī)則形狀如(長(zhǎng)方體,圓柱體等是固有形狀)及不規(guī)則狀態(tài)(如粉末狀,膏體狀,液態(tài)流動(dòng)狀),目前對(duì)絕緣體材料的測(cè)試方法和測(cè)量方式基本上是采用三環(huán)電極結(jié)構(gòu)測(cè)量規(guī)則形狀體,而不規(guī)則狀材料的測(cè)試較少,本機(jī)主要能滿足傳統(tǒng)的電阻測(cè)量外,還可以測(cè)試不規(guī)則狀態(tài)。
更新時(shí)間:2024-12-11
糖粉粉末電阻率測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)
糖粉粉末電阻率測(cè)試儀技術(shù)參數(shù),功能介紹:本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門(mén),是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算,配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試
更新時(shí)間:2024-12-11
河南瑞柯金屬化標(biāo)簽四探針測(cè)試儀
本品為解決四探針?lè)y(cè)試超高阻值材料方阻及電阻率,最大可以測(cè)試到1010ω方阻值,是目前同行業(yè)中能測(cè)量到的最大方阻值,選購(gòu):本機(jī)還可以配合各類(lèi)環(huán)境溫度試驗(yàn)箱體使用,通過(guò)不同的測(cè)量治具滿足不同環(huán)境溫度下測(cè)量方阻和電阻率的需求.采用高精度ad芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,運(yùn)輸安全、使用方便;適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén),是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。
更新時(shí)間:2024-12-11
瑞柯電熱膜導(dǎo)電性測(cè)試儀哪里有賣(mài)
液晶顯示,無(wú)需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能,電阻率單位自動(dòng)選擇,儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程,無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。
更新時(shí)間:2024-12-11
東北瑞柯電炭制品電阻率測(cè)試儀
直流恒流源輸出系統(tǒng)結(jié)合集成電路及高精度芯片控制,大液晶顯示屏幕更加直觀,直讀電阻,電壓降,電阻率,高精度的測(cè)試量程;各類(lèi)參數(shù)和功能設(shè)定通過(guò)薄膜面板實(shí)現(xiàn),人性化設(shè)計(jì)符合人體工學(xué)原理,提供usb、232、485通訊接口;可以連接打印機(jī)、電腦和其他外接控制單元。
更新時(shí)間:2024-12-11
金屬薄膜四探針電阻率測(cè)試儀驗(yàn)證流程
金屬薄膜四探針電阻率測(cè)試儀驗(yàn)證流程,適用于覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類(lèi)箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試,電性橡膠,導(dǎo)電性薄膜,金屬薄膜,抗靜電材料.
更新時(shí)間:2024-12-11
瑞柯導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀的的適用范圍
瑞柯導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀的的適用范圍 本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門(mén),是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。
更新時(shí)間:2024-12-11
恒流恒壓電壓降檢測(cè)儀
lx-9830g恒流恒壓電壓降檢測(cè)儀該儀器適用于測(cè)量不可重接插頭插銷(xiāo)與連接插頭引出線等類(lèi)似接線口的電壓降,從而判斷接線口優(yōu)劣,也可檢查插頭線在完成標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的彎曲試驗(yàn)次數(shù)后的斷線情況。該儀器同時(shí)適用于測(cè)量開(kāi)關(guān)觸點(diǎn)、繼電器、開(kāi)關(guān)、線材線束、壓接線端子、連接器等相關(guān)產(chǎn)品之電壓降測(cè)試本儀器有可調(diào)的大電流輸出,微電壓測(cè)試,數(shù)碼管顯示。滿足標(biāo)準(zhǔn):sae/uscar38 2009
更新時(shí)間:2024-12-11
鋰電池粉末電阻率測(cè)試儀
鋰電池粉末電阻率測(cè)試儀 采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門(mén),是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。滿足:yst 587.6-2006 炭陽(yáng)極用煅后石油焦檢測(cè)方法 第6部分 粉末電阻率的測(cè)定.
更新時(shí)間:2024-12-11
四探針?lè)勰╇娮杪蕼y(cè)試儀
四探針?lè)勰╇娮杪蕼y(cè)試,粉末電阻儀本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門(mén),是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示電阻值、電阻率、方阻、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算,配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求
更新時(shí)間:2024-12-11
FT-300I 高精度粉末電阻率測(cè)試儀
ft-300i 高精度粉末電阻率測(cè)試儀ft-300i 高精度粉末電阻率測(cè)試儀 粉末電阻率測(cè)試儀 一、功能介紹:本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門(mén),是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算,配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求
更新時(shí)間:2024-12-11
FT-300Ⅳ半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀
ft-300ⅳ半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀ft-300ⅳ半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀滿足:yst 587.6-2006 炭陽(yáng)極用煅后石油焦檢測(cè)方法 第6部分 粉末電阻率的測(cè)定;
更新時(shí)間:2024-12-11
電線電阻率測(cè)試儀 電纜電阻率測(cè)量?jī)x
電線電阻率測(cè)試儀 測(cè)量金屬材料體積電阻率和質(zhì)量電阻率時(shí),可以測(cè)量全規(guī)格銅桿、銅線、銅線坯、鋁桿、鋁線、硬鋁錢(qián)、硅合金線的電阻率。選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動(dòng)生成報(bào)表.電纜電阻率測(cè)量?jī)x 電線電阻率測(cè)試儀 電纜電阻率測(cè)量?jī)x
更新時(shí)間:2024-12-11
材料電導(dǎo)性能測(cè)試儀,自動(dòng)電阻率測(cè)試儀
材料電導(dǎo)性能測(cè)試儀,自動(dòng)電阻率測(cè)試儀ft-320 材料超低電阻及電阻率測(cè)試儀一.本儀器采用四端測(cè)量方式,測(cè)試材料超低電阻、電阻率和高導(dǎo)電性能數(shù)據(jù)。該儀器采用高精度直流恒流恒壓源,高效率,穩(wěn)定度和準(zhǔn)確性高;有手動(dòng)和自動(dòng)設(shè)定模式;并根據(jù)測(cè)試產(chǎn)品特性自動(dòng)轉(zhuǎn)換測(cè)試量程,無(wú)需手動(dòng)調(diào)節(jié)和設(shè)定。4.3吋液晶屏幕顯示,自動(dòng)顯示測(cè)試測(cè)試電流、電壓、溫度、電阻率、電導(dǎo)率、電
更新時(shí)間:2024-12-11
FT-300A1導(dǎo)體材料電阻率測(cè)試儀
ft-300a1導(dǎo)體材料電阻率測(cè)試儀 配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).使用薄膜按鍵開(kāi)關(guān)面板,操作簡(jiǎn)單,耐用,符合人體工學(xué)操作規(guī)范.
更新時(shí)間:2024-12-11
FT-300A2通用型材料電阻率測(cè)試儀
ft-300a2通用型材料電阻率測(cè)試儀 本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算,配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。
更新時(shí)間:2024-12-11
FT-301多功能粉末電阻率測(cè)試儀
ft-301多功能粉末電阻率測(cè)試儀輸出采用高精度芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,運(yùn)輸安全、使用方便. ft-301多功能粉末電阻率測(cè)試儀優(yōu)勢(shì):1.本機(jī)自帶軟件由電腦自動(dòng)控制儀器工作
更新時(shí)間:2024-12-11
方塊電阻測(cè)定儀,雙電測(cè)四探針測(cè)試儀
方塊電阻測(cè)定儀,雙電測(cè)四探針測(cè)試儀 方塊電阻測(cè)定儀,雙電測(cè)四探針測(cè)試儀
更新時(shí)間:2024-12-11

最新產(chǎn)品

熱門(mén)儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見(jiàn)分光光度計(jì) 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計(jì)(PH計(jì)) 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑