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表面阻抗分析儀產(chǎn)品及廠家

智能型雙電測(cè)四探針測(cè)試儀

智能型雙電測(cè)四探針測(cè)試儀，采用四探針組合雙電測(cè)量方法，液晶顯示，自動(dòng)測(cè)量，自動(dòng)量程，自動(dòng)系數(shù)補(bǔ)償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出；選配：pc軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)管理和處理.

更新時(shí)間:2024-12-11

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：寧波瑞柯微智能科技有限公司

lx-9831電壓降測(cè)試系統(tǒng) 本系統(tǒng)電壓降和接觸電阻是車(chē)用電線束插接器在強(qiáng)電流電路和弱電流電路下電性能評(píng)定指標(biāo)；在恒定電流狀態(tài)下，通過(guò)測(cè)試導(dǎo)線壓接和端子接觸區(qū)域的電壓降，還可以獲得接觸電阻數(shù)據(jù)；如果通過(guò)模擬環(huán)境試驗(yàn)測(cè)試后的汽車(chē)用插接器再進(jìn)行電壓降測(cè)試，數(shù)據(jù)能更真實(shí)反映產(chǎn)品本身的特性；適用于科研院所、企業(yè)研發(fā)、進(jìn)料檢驗(yàn)和質(zhì)量中心等技術(shù)部門(mén)提供更加精準(zhǔn)和可靠的數(shù)據(jù)保證 lx-9831電壓降測(cè)試系統(tǒng)

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電線束插接器壓降測(cè)試系統(tǒng)批發(fā)

電線束插接器壓降測(cè)試系統(tǒng)批發(fā),通過(guò)電流、電壓和時(shí)間，來(lái)檢測(cè)電線束插接器電壓降、接觸電阻和溫升變化關(guān)系，是汽車(chē)用插接器的主要電氣性能指標(biāo)，它直接影響汽車(chē)各電氣設(shè)備的信號(hào)傳輸和電氣連接，以及電氣設(shè)備的工作穩(wěn)定性和可靠性；不良的接觸電阻和壓降是汽車(chē)用插接器工作時(shí)產(chǎn)生溫升的主要原因。降低接觸電阻可有效控制溫升，從而提高插接器壽命和性能.

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端子壓降測(cè)試系統(tǒng)價(jià)格

端子壓降測(cè)試系統(tǒng),電線束壓降測(cè)試系統(tǒng) 本系統(tǒng)采用集成電路及高精度芯片控制，通過(guò)測(cè)量接觸電阻、電壓降及溫升等數(shù)據(jù)來(lái)檢測(cè)電線束插接器的電性能，恒流源供給更加穩(wěn)定的輸出，大液晶顯示屏幕更加直觀，各類(lèi)參數(shù)和功能設(shè)定通過(guò)薄膜面板實(shí)現(xiàn)，人性化設(shè)計(jì)符合人體工學(xué)原理，提供usb、232、485通訊接口；可以連接打印機(jī)、電腦和其他外接控制單元，配置pc軟件可以獲得更多過(guò)程數(shù)據(jù)，測(cè)試報(bào)表處理、存儲(chǔ)和數(shù)據(jù)分析有助于產(chǎn)

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FT-310A安徽瑞柯高導(dǎo)電粉末電阻率測(cè)試儀

采用高精度恒流恒壓源，自動(dòng)量程，無(wú)需手動(dòng)調(diào)節(jié)和設(shè)定。大液晶屏幕顯示，所有測(cè)試數(shù)據(jù)和設(shè)定數(shù)據(jù)均可顯示，當(dāng)選擇經(jīng)濟(jì)型手動(dòng)測(cè)量裝置匹配時(shí)能直觀的查看數(shù)據(jù)；如果在條件許可下可以選擇自動(dòng)測(cè)量裝置將獲得更高精確的重復(fù)性數(shù)據(jù)和消除操作誤差帶來(lái)的不確定性。

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FT-371隔熱導(dǎo)電膜四探針電阻率測(cè)試儀

隔熱導(dǎo)電膜四探針電阻率測(cè)試儀，本品為解決四探針?lè)y(cè)試超高阻值材料方阻及電阻率，最大可以測(cè)試到1010ω方阻值，是目前同行業(yè)中能測(cè)量到的最大方阻值，此儀器是瑞柯新品，主要用于測(cè)超高阻。

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FT-371重慶導(dǎo)電窗膜表面阻抗分析儀廠家

本儀器配置各類(lèi)測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。

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FT-300III通用型粉末電阻率測(cè)試儀

通用型粉末電阻率測(cè)試儀本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).使用薄膜按鍵開(kāi)關(guān)面板，操作簡(jiǎn)單，耐用，符合人體工學(xué)操作規(guī)范.

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絕緣材料高溫表面和體積電阻率測(cè)試儀

絕緣材料高溫表面和體積電阻率測(cè)試儀適用標(biāo)準(zhǔn)：gb/t 22042-2008《服裝防靜電性能表面電阻率試驗(yàn)方法》；en 1149-1-1995 《防護(hù)服靜電性能第1部分表面電阻檢驗(yàn)方法和要求》；gb/t 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》（與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)iec93-1980等效）；fz/t 64013-2008 《靜電植絨毛絨》.

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FT-352導(dǎo)體材料高溫電阻率測(cè)試儀

導(dǎo)體材料高溫電阻率測(cè)試儀廣泛用于：生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)對(duì)導(dǎo)體材料在高溫下電阻率數(shù)據(jù)的測(cè)量.同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).

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材料低電阻率測(cè)試儀

材料低電阻率測(cè)試儀滿足標(biāo)準(zhǔn)： gb/t6717、gb/t 24525-2009、ys/t63.2、 iso 11713-2000、ys/t63.2-2005、ys/t 64-1993。gb3048.2-2007、gb/t3048.4-2007、gb/t3952-2008、gb/t3953-2009、gb/t3954-2008、gb/t3955-2009、gb/t3956-2008.

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雙電測(cè)電四探針測(cè)試儀

雙電測(cè)電四探針測(cè)試儀采用四探針雙電測(cè)量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類(lèi)測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。

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FT-333四探針?lè)阶鑳x

四探針?lè)阶鑳x按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā�、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)，本機(jī)配置232電腦接口及usb兩種接口.

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方塊電阻測(cè)試儀

方塊電阻測(cè)試儀按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā�、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn).

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FT-336薄膜方阻測(cè)試儀

薄膜方阻測(cè)試儀按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā贰b/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)

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FT-303絕緣粉末/液體電阻率測(cè)試儀測(cè)定方法

絕緣粉末/液體電阻率測(cè)試儀測(cè)定方法，絕緣材料存在的狀態(tài)有固態(tài)規(guī)則形狀如（長(zhǎng)方體，圓柱體等是固有形狀）及不規(guī)則狀態(tài)（如粉末狀,膏體狀，液態(tài)流動(dòng)狀），目前對(duì)絕緣體材料的測(cè)試方法和測(cè)量方式基本上是采用三環(huán)電極結(jié)構(gòu)測(cè)量規(guī)則形狀體，而不規(guī)則狀材料的測(cè)試較少，本機(jī)主要能滿足傳統(tǒng)的電阻測(cè)量外，還可以測(cè)試不規(guī)則狀態(tài)。

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FT-300III糖粉粉末電阻率測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)

糖粉粉末電阻率測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)，功能介紹：本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試

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FT-371河南瑞柯金屬化標(biāo)簽四探針測(cè)試儀

本品為解決四探針?lè)y(cè)試超高阻值材料方阻及電阻率，最大可以測(cè)試到1010ω方阻值，是目前同行業(yè)中能測(cè)量到的最大方阻值，選購(gòu)：本機(jī)還可以配合各類(lèi)環(huán)境溫度試驗(yàn)箱體使用，通過(guò)不同的測(cè)量治具滿足不同環(huán)境溫度下測(cè)量方阻和電阻率的需求.采用高精度ad芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。

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FT-371瑞柯電熱膜導(dǎo)電性測(cè)試儀哪里有賣(mài)

液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。

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FT-701東北瑞柯電炭制品電阻率測(cè)試儀

直流恒流源輸出系統(tǒng)結(jié)合集成電路及高精度芯片控制，大液晶顯示屏幕更加直觀，直讀電阻，電壓降，電阻率，高精度的測(cè)試量程；各類(lèi)參數(shù)和功能設(shè)定通過(guò)薄膜面板實(shí)現(xiàn)，人性化設(shè)計(jì)符合人體工學(xué)原理，提供usb、232、485通訊接口；可以連接打印機(jī)、電腦和其他外接控制單元。

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FT-332金屬薄膜四探針電阻率測(cè)試儀驗(yàn)證流程

金屬薄膜四探針電阻率測(cè)試儀驗(yàn)證流程,適用于覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類(lèi)箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試,電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料.

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FT-300瑞柯導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀的的適用范圍

瑞柯導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀的的適用范圍本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。

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LX-9830G恒流恒壓電壓降檢測(cè)儀

lx-9830g恒流恒壓電壓降檢測(cè)儀該儀器適用于測(cè)量不可重接插頭插銷(xiāo)與連接插頭引出線等類(lèi)似接線口的電壓降,從而判斷接線口優(yōu)劣,也可檢查插頭線在完成標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的彎曲試驗(yàn)次數(shù)后的斷線情況。該儀器同時(shí)適用于測(cè)量開(kāi)關(guān)觸點(diǎn)、繼電器、開(kāi)關(guān)、線材線束、壓接線端子、連接器等相關(guān)產(chǎn)品之電壓降測(cè)試本儀器有可調(diào)的大電流輸出,微電壓測(cè)試,數(shù)碼管顯示。滿足標(biāo)準(zhǔn)：sae/uscar38 2009

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FT-300I鋰電池粉末電阻率測(cè)試儀

鋰電池粉末電阻率測(cè)試儀采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。滿足：yst 587.6-2006 炭陽(yáng)極用煅后石油焦檢測(cè)方法第6部分粉末電阻率的測(cè)定.

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四探針?lè)勰╇娮杪蕼y(cè)試儀

四探針?lè)勰╇娮杪蕼y(cè)試,粉末電阻儀本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、方阻、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求

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FT-300I 高精度粉末電阻率測(cè)試儀

ft-300i 高精度粉末電阻率測(cè)試儀ft-300i 高精度粉末電阻率測(cè)試儀粉末電阻率測(cè)試儀一、功能介紹：本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求

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FT-300Ⅳ半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀

ft-300ⅳ半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀ft-300ⅳ半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀滿足：yst 587.6-2006 炭陽(yáng)極用煅后石油焦檢測(cè)方法第6部分粉末電阻率的測(cè)定；

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電線電阻率測(cè)試儀電纜電阻率測(cè)量?jī)x

電線電阻率測(cè)試儀測(cè)量金屬材料體積電阻率和質(zhì)量電阻率時(shí)，可以測(cè)量全規(guī)格銅桿、銅線、銅線坯、鋁桿、鋁線、硬鋁錢(qián)、硅合金線的電阻率。選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表.電纜電阻率測(cè)量?jī)x 電線電阻率測(cè)試儀電纜電阻率測(cè)量?jī)x

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材料電導(dǎo)性能測(cè)試儀,自動(dòng)電阻率測(cè)試儀

材料電導(dǎo)性能測(cè)試儀,自動(dòng)電阻率測(cè)試儀ft-320 材料超低電阻及電阻率測(cè)試儀一.本儀器采用四端測(cè)量方式，測(cè)試材料超低電阻、電阻率和高導(dǎo)電性能數(shù)據(jù)。該儀器采用高精度直流恒流恒壓源，高效率，穩(wěn)定度和準(zhǔn)確性高；有手動(dòng)和自動(dòng)設(shè)定模式；并根據(jù)測(cè)試產(chǎn)品特性自動(dòng)轉(zhuǎn)換測(cè)試量程，無(wú)需手動(dòng)調(diào)節(jié)和設(shè)定。4.3吋液晶屏幕顯示，自動(dòng)顯示測(cè)試測(cè)試電流、電壓、溫度、電阻率、電導(dǎo)率、電

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FT-300A1導(dǎo)體材料電阻率測(cè)試儀

ft-300a1導(dǎo)體材料電阻率測(cè)試儀配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).使用薄膜按鍵開(kāi)關(guān)面板，操作簡(jiǎn)單，耐用，符合人體工學(xué)操作規(guī)范.

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FT-300A2通用型材料電阻率測(cè)試儀

ft-300a2通用型材料電阻率測(cè)試儀本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。

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FT-301多功能粉末電阻率測(cè)試儀

ft-301多功能粉末電阻率測(cè)試儀輸出采用高精度芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便. ft-301多功能粉末電阻率測(cè)試儀優(yōu)勢(shì)：1.本機(jī)自帶軟件由電腦自動(dòng)控制儀器工作

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方塊電阻測(cè)定儀,雙電測(cè)四探針測(cè)試儀

方塊電阻測(cè)定儀,雙電測(cè)四探針測(cè)試儀方塊電阻測(cè)定儀,雙電測(cè)四探針測(cè)試儀

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上海四探針?lè)綁K電阻測(cè)試儀

上海四探針?lè)綁K電阻測(cè)試儀、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求上海四探針?lè)綁K電阻測(cè)試儀

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FT-332四探針?lè)阶铚y(cè)試儀操作方法

四探針?lè)阶铚y(cè)試儀操作方法按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針 ft-332四探針四點(diǎn)探針四探針測(cè)試儀

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數(shù)字式四探針測(cè)試儀

數(shù)字式四探針測(cè)試儀本儀器本儀器采用四探針雙電測(cè)量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類(lèi)測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。

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自動(dòng)導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀

自動(dòng)導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀采用一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，將粉末比電阻的測(cè)量與粉體電阻率/電導(dǎo)率分析為一體，測(cè)量與數(shù)據(jù)分析通過(guò)pc軟件完成，粉體壓強(qiáng)與電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值的變化關(guān)系

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FT-342雙電測(cè)電四探針電阻率測(cè)試儀

雙電測(cè)電四探針電阻率測(cè)試儀本儀器配置各類(lèi)測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。

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FT-336薄膜電阻率測(cè)試儀

薄膜電阻率測(cè)試儀該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā贰b/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)

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FT-335薄膜或涂層方塊電阻測(cè)試儀

薄膜或涂層方塊電阻測(cè)試儀該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā�、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)

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導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀

導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).

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端子電壓降測(cè)試儀

端子電壓降測(cè)試儀滿足標(biāo)準(zhǔn)：qc/t 730-2005 ;iso 6722：2002 gb/t 2951—1997; gb/t 3048—1994 qc/t29106-2004; qc/t413-2002 ;qc/t413-2002;同時(shí)滿足德國(guó)、法國(guó)、韓國(guó)、日本、等國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求和測(cè)試規(guī)范，電壓降實(shí)驗(yàn)按qc/t29106-2004標(biāo)準(zhǔn)5.7進(jìn)行實(shí)驗(yàn) qc/t29106-2004標(biāo)準(zhǔn).

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經(jīng)濟(jì)型表面電阻和體積電阻測(cè)試儀

經(jīng)濟(jì)型表面電阻和體積電阻測(cè)試儀適用于測(cè)量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質(zhì)材料、電線電纜、防靜電產(chǎn)品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房防靜電活動(dòng)地板等電阻值等絕緣性能的檢驗(yàn)和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測(cè)量。本儀器測(cè)量高電阻測(cè)微電流。

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FT-310炭素材料電阻率測(cè)試儀

ft-310炭素材料電阻率測(cè)試儀四端測(cè)試法測(cè)量碳素材料，石墨等塊狀棒狀及粉末材料常溫下高導(dǎo)電性能。該儀器采用高精度恒流恒壓源，自動(dòng)顯示電流和電壓并根據(jù)測(cè)試產(chǎn)品特性自動(dòng)轉(zhuǎn)換測(cè)試量程，無(wú)需手動(dòng)調(diào)節(jié)和設(shè)定。4.3吋液晶屏幕顯示，自動(dòng)顯示測(cè)試測(cè)試電流、電壓、溫度、電阻率等數(shù)據(jù)，選配：如配備軟件可，通過(guò)軟件操控儀器工作，并獲得測(cè)試數(shù)據(jù)之圖表和測(cè)試結(jié)果。根據(jù)產(chǎn)品形狀不同可以選配測(cè)試治具.

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FT-336型四探針電阻率測(cè)試儀價(jià)格@采購(gòu)熱點(diǎn)

ft-336型四探針電阻率測(cè)試儀采用高精度ad芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。

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FT-510A智能炭塊電阻率測(cè)定儀

智能炭塊電阻率測(cè)定儀，采用步進(jìn)定位90度或120度旋轉(zhuǎn)測(cè)量系統(tǒng),壓力傳感器配備彈性緩存夾緊樣品,pc軟件分析數(shù)據(jù),可編輯報(bào)表生成,自動(dòng)分析均值,偏差值等數(shù)據(jù). 一體化設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu).人性化模塊操作界面.

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FT-8100B四探針?lè)ǚ勰╇妼?dǎo)率測(cè)試儀(手動(dòng)型)

四點(diǎn)探針測(cè)試儀參照gb/t 1551、gb/t1552-1995，astm f84美國(guó)a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)。the four-probe tester meets gb/t 1551, gb/t1552-1995, astm f84 u.s. a. s.t.m. standard.2）四探針?lè)ǚ勰y(cè)試平臺(tái)參照gbt308

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FT-362系列金屬涂層表面電阻（方阻）測(cè)試儀價(jià)格

金屬涂層表面電阻（方阻）測(cè)試儀適用于覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類(lèi)箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層。

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FT-8200系列雙電四探針?lè)勰╇娮杪蕼y(cè)試儀（智能型）使用說(shuō)明

雙電四探針?lè)勰╇娮杪蕼y(cè)試儀（智能型）使用說(shuō)明，全程采用pc軟件操作，粉體壓縮前及壓縮后壓力增減過(guò)程中粉體因自身特性內(nèi)聚力反彈形變或恢復(fù)過(guò)程變化曲線圖譜；自動(dòng)測(cè)試過(guò)程數(shù)據(jù)曲線及圖譜分析，實(shí)時(shí)分析壓強(qiáng)/壓力與電阻。

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FT-401干粉滅火劑電絕緣性測(cè)試儀生產(chǎn)廠家

參照標(biāo)準(zhǔn)basis：gb4066.1-2004干粉滅火劑通用技術(shù)條件之電絕緣性要求用于檢測(cè)干粉滅火劑之電絕緣性

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