涂層測厚儀產品及廠家
鍍層膜厚分析儀注意事項開啟儀器電源開關時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2024-12-23
標準配置鍍層厚度分析儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。鍍層膜厚分析儀高低壓電源。
更新時間:2024-12-23
標準配置鍍層厚度分析儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。鍍層膜厚分析儀高低壓電源。
更新時間:2024-12-23
標準配置鍍層厚度分析儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。鍍層膜厚分析儀高低壓電源。
更新時間:2024-12-23
標準配置鍍層厚度分析儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。鍍層膜厚分析儀高低壓電源。
更新時間:2024-12-23
標準配置鍍層厚度分析儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。鍍層膜厚分析儀高低壓電源。
更新時間:2024-12-23
標準配置鍍層厚度分析儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。鍍層膜厚分析儀高低壓電源。
更新時間:2024-12-23
鍍層厚度測量儀鋅鎳合金專用光譜儀型號：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
更新時間:2024-12-23
合金成分鍍層膜厚分析儀器注意事項開啟儀器電源開關時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2024-12-23
鉛玻璃屏蔽罩。合金鍍層膜厚儀高低壓電源。x光管。高度傳感器保護傳感器計算機及噴墨打印機
更新時間:2024-12-23
鉛玻璃屏蔽罩。合金鍍層膜厚儀高低壓電源。x光管。高度傳感器保護傳感器計算機及噴墨打印機
更新時間:2024-12-23
合金成分鍍層厚度膜厚儀 注意事項開啟儀器電源開關時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2024-12-23
合金成分鍍層厚度膜厚儀 注意事項開啟儀器電源開關時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2024-12-23
電鍍液鍍層含量測定鍍層測厚儀 型號：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。
更新時間:2024-12-23
鍍層膜厚儀 型號：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。
更新時間:2024-12-23
xrf電鍍層膜厚儀 開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
更新時間:2024-12-23
xrf電鍍層膜厚儀 開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
更新時間:2024-12-23
xrf電鍍層膜厚儀 開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
更新時間:2024-12-23
鍍層厚度測試分析儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
更新時間:2024-12-23
天瑞儀器thick800a 注意事項開啟儀器電源開關時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞
更新時間:2024-12-23
x射線鍍層測厚檢測儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。高低壓電源。x光管。
更新時間:2024-12-23
國產鍍層膜厚儀注意事項開啟儀器電源開關時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2024-12-23
國產鍍層膜厚儀注意事項開啟儀器電源開關時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2024-12-23
國產x鍍層測厚儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。高低壓電源。
更新時間:2024-12-23
天瑞儀器光譜儀thick800a 同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）任意多個可選擇的分析和識別模型。
更新時間:2024-12-23
x鍍層測厚儀注意事項開啟儀器電源開關時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2024-12-23
電鍍滾鍍廠測厚儀：thick800a測定步驟：步：新建snpb-cu鍍層厚度標準曲線第二步：確定測試時間：40s第三步：測試其重復性得出相對標準偏差
更新時間:2024-12-23
x射線鍍層測厚檢測儀針對不規(guī)則樣品進行高度激光定位測試點分析；軟件可分析5層25種元素鍍層；通過軟件操作樣品移動平臺，實現不同測試點的測試需求；配置高分辨率si-pin半導體探測器，實現對多鍍層樣品的分析；
更新時間:2024-12-23
電鍍層測厚儀型號：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）任意多個可選擇的分析和識別模型。
更新時間:2024-12-23
任意多個可選擇的分析和識別模型。銅鍍鎳鍍鋅測厚膜厚儀相互立的基體效應校正模型。多變量非線性回收程序度適應范圍為15℃至30℃。電源: 交流220v±5v, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
更新時間:2024-12-23
多元素復合鍍層測試儀 型號：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。
更新時間:2024-12-23
thick800a 膜厚儀特點1.上照式2.儀高分辨率探測器3.鼠標定位測試點4.測試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽
更新時間:2024-12-23
thick800a 膜厚儀特點1.上照式2.儀高分辨率探測器3.鼠標定位測試點4.測試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽
更新時間:2024-12-23
鍍層膜厚測厚儀型號：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
更新時間:2024-12-23
電鍍層x射線光譜儀特點1.上照式2.儀高分辨率探測器3.鼠標定位測試點4.測試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽
更新時間:2024-12-23
鍍層厚度檢測儀 型號：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
更新時間:2024-12-23
五金配件鈦合金檢測儀特點1.上照式2.儀高分辨率探測器3.鼠標定位測試點4.測試組件可升降
更新時間:2024-12-23
pcb多電鍍鍍層測厚儀 針對不規(guī)則樣品進行高度激光定位測試點分析；軟件可分析5層25種元素鍍層；通過軟件操作樣品移動平臺，實現不同測試點的測試需求；配置高分辨率si-pin半導體探測器，實現對多鍍層樣品的分析；
更新時間:2024-12-23
x射線鍍層膜厚測厚儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
更新時間:2024-12-23
鍍層分析光譜儀特點1.上照式2.儀高分辨率探測器3.鼠標定位測試點4.測試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽
更新時間:2024-12-23
涂層測厚儀 dr120一體式手持型聯絡天津嘉諾德儀表，dr120采用電磁感應原理無損傷進行磁性金屬表面涂鍍層厚度的測量？蔁o損地測量磁性金屬基體（如：鋼、鐵、鎳）上非磁性覆層的厚度（如：油漆、電泳、琺瑯、橡膠、粉未、搪瓷、防腐層,鍍鋅、鉻等）;dr120一體式涂層測厚儀采用金屬測頭
更新時間:2024-12-23
產品特點涂層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體(如鐵和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等) 及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。涂鍍層測厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點，是控制和保證產品質量必不可少的檢測儀器，廣泛地應用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領域
更新時間:2024-12-23
產品特點涂層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體(如鐵和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等) 及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。涂鍍層測厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點，是控制和保證產品質量必不可少的檢測儀器，廣泛地應用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領域
更新時間:2024-12-23
mch系列電腦膜層測厚儀是高新技術的結晶。它采用微機技術，精度高，數字顯示，示值穩(wěn)定，功耗低，操作方便，無校正旋鈕，單探頭全量程測量，體積小重量輕。具有存貯，讀出，統計，低電壓指示、上下限報警功能。其性能達到國際同類產品先進水平。
更新時間:2024-12-23
mch系列電腦膜層測厚儀是高新技術的結晶。它采用微機技術，精度高，數字顯示，示值穩(wěn)定，功耗低，操作方便，無校正旋鈕，單探頭全量程測量，體積小重量輕。具有存貯，讀出，統計，低電壓指示、上下限報警功能。其性能達到國際同類產品先進水平。
更新時間:2024-12-23
mch系列電腦膜層測厚儀是高新技術的結晶。它采用微機技術，精度高，數字顯示，示值穩(wěn)定，功耗低，操作方便，無校正旋鈕，單探頭全量程測量，體積小重量輕。具有存貯，讀出，統計，低電壓指示、上下限報警功能。其性能達到國際同類產品先進水平。
更新時間:2024-12-23
mch系列電腦膜層測厚儀是高新技術的結晶。它采用微機技術，精度高，數字顯示，示值穩(wěn)定，功耗低，操作方便，無校正旋鈕，單探頭全量程測量，體積小重量輕。具有存貯，讀出，統計，低電壓指示、上下限報警功能。其性能達到國際同類產品先進水平。
更新時間:2024-12-23
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