光學測量儀產品及廠家

YY 0068.1標準硬性醫(yī)用內窺鏡光學性能測試方法
該設備是依據標準yy 0068.1—2008研發(fā)設計的。主要是用于檢測醫(yī)用內窺鏡光學性能。
更新時間:2024-12-23
YY0763-2009標準醫(yī)用內窺鏡檢測裝置供應商
yy0763標準醫(yī)用內窺鏡檢測裝置的檢測功能：1.內窺鏡光纜出光角測試2.光譜透過率測定3.光能傳遞效率測定4.扭轉試驗5.短暫壓扁試驗6.拉伸試驗
更新時間:2024-12-23
GB/T 20145標準燈和燈系統(tǒng)光生物安全檢測設備
燈和燈系統(tǒng)光生物安全檢測設備是西安信捷智能檢測科技有限公司依據行業(yè)標準《iec 62471:2006 燈和燈系統(tǒng)的光生物安全性》和《gb/t 20145-2006 燈和燈系統(tǒng)的光生物安全性》研發(fā)設計的。
更新時間:2024-12-23
YY 9706.241-2020診斷用照明燈輻擊照度測試解決方案
無影燈光色測試儀是依據標準yy 9706.241-2020醫(yī)用電氣設備 第2-41部分: 手術無影燈和診斷用照明燈的基本安全和基本性能用要求研發(fā)設計的。
更新時間:2024-12-23
供應GB7247.1標準全自動激光輻射類別檢測儀
1、設備的用途：設備中發(fā)光源的激光輻射類別檢測、輻射量、伴隨輻射等參數的檢測；2、依據的行業(yè)標準：《gb7247.1-2012》、《iec60825-1：2007》
更新時間:2024-12-23
西安信捷供應光學測量儀器-相機鏡頭焦距測量裝置
設備的用途：相機鏡頭焦距、各種光學零件、部件及光學系統(tǒng)的像質研究及光學基本量的測定。
更新時間:2024-12-23
GB 7247.1-2012激光產品安全檢測 全自動激光檢測分析儀 醫(yī)療器械檢測設備方案定制
全自動激光檢測分析儀符合標準《iec60825-1:2007》《gb7247.1-2012》《gb9706.20-2000》,用于醫(yī)療器械中醫(yī)用激光得分類檢測、激光輻射檢測、伴隨輻射檢測、允許照射量檢測、輻射量檢測等。采用觸摸屏控制和計算機軟件雙操作平臺，兩者可兼容操作也可獨立操作。
更新時間:2024-12-23
西安航天基地信捷IEM300紅光治療儀檢測設備光譜測試系統(tǒng)
西安航天基地信捷iem300紅光治療儀檢測設備光譜測試系統(tǒng)依據標準yy/t1496-2016、yy0669-2008和yy0901-2013,是一款為光譜治療設備如紅光治療設備、嬰兒光治療設備、紫外治療等設備光學性能評估而設計的一款檢測設備。
更新時間:2024-12-23
YY0068西安信捷醫(yī)用內窺鏡光學性能檢測裝置
西安信捷ecr900醫(yī)用內窺鏡光學性能檢測裝置是我公司依據標準yy0068.1-2008和yy1298-2016研發(fā)設計的一款用于檢測醫(yī)用內窺鏡光學成像性能的高精度、高效率、多功能、全自動的檢測儀器。
更新時間:2024-12-23
YY1081-2011西安信捷CLT800醫(yī)用內窺鏡冷光源檢測系統(tǒng)
yy1081-2011西安信捷clt800醫(yī)用內窺鏡冷光源檢測系統(tǒng)產品設計依據醫(yī)藥行業(yè)標準《yy 1081—2011醫(yī)用內窺鏡 內窺鏡供給裝置 冷光源》,主要用于
更新時間:2024-12-23
YY0068.1-2008檢測設備-醫(yī)用內窺鏡光學性能檢測儀
ecr900醫(yī)用內窺鏡光學性能檢測儀依據“yy 0068.1-2008 “醫(yī)用內窺鏡 硬性內窺鏡 第1部分：光學性能及測試方法”標準的測試要求，用于腹腔鏡、氣管鏡等多種常用內窺鏡的光學性能測試。適用于內窺鏡生產制造廠商對于產品的品控與設計驗證，檢測機構對于內窺鏡產品的質檢和監(jiān)督，科研院所對于內窺鏡的科學研究。
更新時間:2024-12-23
萬濠全自動影像測量儀
購買萬濠全自動影像測量儀vms-5040h就來東莞市昊泰測量儀器有限公司，超值優(yōu)惠！
更新時間:2024-12-23
自動在線光學檢測儀 單軌在線AOI SMT焊接爐后檢測設備JTA-JUTI-X
aoi可以置于生產線上的多個位置，但有三個位子是主要的：1、錫膏印刷之后。將aoi的檢測放在錫膏印刷機之后，這是個典型的放置位置，因為很多缺陷是由于錫膏印刷的不良所造成的，如錫膏量不足可能會導致元件丟失或開路的原因。2、回流焊，將檢測設備放置于貼片后
更新時間:2024-12-21
PSD-PF100-1A-0.5 電子除塵箱
電子除塵箱，可分水平送風和垂直送風兩大類。電子除塵箱采用初效過濾器和高效過濾器對進入操作區(qū)的空氣進行兩過濾，可使工作區(qū)域的潔凈度達到10、100。整體結構緊湊，外形美觀，箱體全鋼結構噴塑，操作臺面采用不銹鋼材質制造而成，經久耐用？赏饨痈呒兊獨猓獨膺^濾組，使用萬向管進行定位吹掃？蛇x配自動選轉器（可正反轉動），便于均勻選轉。
更新時間:2024-12-21
日本理音RION粒子計數器
日本rion粒子計數器kc-01e ( 光散射法）,液體粒子計數器，測試粒徑（5個通道）：≥0.3μm， ≥0.5μm ， ≥1μm ， ≥2μm， ≥5μm
更新時間:2024-12-20
日本理音RION粒子計數器
日本rion粒子計數器kc-03b ( 光散射法）,測試粒徑（5個通道）：≥0.3μm， ≥0.5μm ， ≥1μm ， ≥2μm， ≥5μm
更新時間:2024-12-20
德國NETZSCH差示掃描量熱儀
差示掃描量熱儀dsc 300 ，是全面、可靠的dsc儀器系列，表征材料熱性能游刃有余。
更新時間:2024-12-20
德國NETZSCH 閃射法導熱儀
lfa 467 hyperflash 閃射法導熱儀，自由選擇測試氣氛，優(yōu)化結構設置與閃射光源，16位自動進樣器，高的測量效率，寬廣的溫度范圍，靈活配備冷卻系統(tǒng)，設計獨特，性能優(yōu)異，配備氙燈光源的，高溫測試系統(tǒng)，寬廣的溫度范圍，真空密閉爐體，確保氣氛純凈，防止氧化，內置微型管式爐，更高的測量效率，高數據采集速率- 用于薄膜與高導熱材料的解決方案
更新時間:2024-12-20
OAI UV METER
oai is a world leader in uv liight & energy measurement instrumentation used for reliable accurate calibrated control of the hotolithography processes in the semiconductor
更新時間:2024-12-20
美國泰克TEK Keithley半導體參數分析儀
美國泰克tek keithley半導體參數分析儀4200a-scs ，加快半導體設備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 業(yè)內領先性能參數分析儀，提供同步電流-電壓 (i-v)、電容-電壓 (c-v) 和超快脈沖 i-v 測量。
更新時間:2024-12-20
瑞士Nanosurf 原子力顯微鏡
瑞士nanosurf 原子力顯微鏡coreafm ，非常智能地聯合了原子力顯微鏡的核心部件來實現最多功能化與用戶方便使用性. 正是由于這種基礎的設計, coreafm非常合理的實現了最優(yōu)化的原子力顯微鏡的功能.
更新時間:2024-12-20
韓國Ecopia霍爾效應測量系統(tǒng)
韓國ecopia霍爾效應測量系統(tǒng)hms3000，hms5000，用于研究半導體材料/光電材料的電學特性，可以測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數及載流子類型。
更新時間:2024-12-20
美國 MMR 霍爾效應測量系統(tǒng)
美國 mmr 霍爾效應測量系統(tǒng) h5000，用于研究光電材料的電學特性，利用范德堡測量技術測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數及載流子類型。整套系統(tǒng)主要包括控制器、樣品室、磁場三部分。
更新時間:2024-12-20
半導體測試探針臺
半導體測試探針臺kup007，emp100c，emp100b，emp50s
更新時間:2024-12-20
德國Mecwins 掃描式激光分析儀
德國mecwins 掃描式激光分析儀scala，它是用激光入射掃描樣品表面，收集反射信號得到樣品表面的三維形貌和特征。
更新時間:2024-12-20
美國NANOVEA三維表面形貌儀
美國nanovea三維表面形貌儀hs1000型，是一款高速的三維形貌儀，最高掃描速度可達1m/s,采用國際領先的白光共聚焦技術，可實現對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試，具有測量精度高，速度快，重復性好的優(yōu)點，該儀器可用于測量大尺寸樣品或質檢現場使用。
更新時間:2024-12-20
德國YXLON 高分辨率Ｘ射線檢測設備
德國 yxlon 高分辨率ｘ射線檢測設備 y.cougar smt 平板探測器（標配） y.cheetah 高速平板探測器（標配）
更新時間:2024-12-20
美國Royec芯片拾取及放置系統(tǒng)
美國royec芯片拾取及放置系統(tǒng)die pick & place systems,new !! ap+ 全自動芯片分選系統(tǒng)
更新時間:2024-12-20
美國Royec半自動型芯片拾取系統(tǒng)
美國royec半自動型芯片拾取系統(tǒng)de35-st ,最小200微米芯片拾取,可選配背面，側面檢測,可選配芯片轉向功能.
更新時間:2024-12-20
美國RTI自動特性圖示儀
美國rti自動特性圖示儀 mt century curve tracer，是一個性價比較高的曲線追蹤設備。最多到96個channel，提供4種型號可供客戶選擇，mt century curve tracer 與rti其他大型curve trace擁有一樣的可靠性，功率和軟件。像其他rti機型一樣，mt century系統(tǒng)的設計有與950系列的測試夾具及其它專用夾具連接的接口。
更新時間:2024-12-20
德國Klocke Nanotech 3D納米級三維測量儀
德國klocke nanotech納米級三維測量儀3d nanofinger，是一種實用的納米精度坐標和形貌綜合測量設備。由臺架、控制系統(tǒng)、探頭、針尖組成. 可測量樣品外形尺寸，表面輪廓、粗糙度等，并可與超精密微加工、微組裝系統(tǒng)組合，進行在線檢測、質量控制等。
更新時間:2024-12-20
日本A&D粒子計數器（粒度計）
日本a&d粒子計數器（粒度計）sv-1a,是使用點監(jiān)測的低成本替代設備,計數值高達2,000,000個粒子/ft.
更新時間:2024-12-20
美國Filmetrics 薄膜厚度測量系統(tǒng)
美國filmetrics 薄膜厚度測量系統(tǒng)f20，f30，f40，f50，f60，f3-xxt 系列，臺式薄膜厚度測量系統(tǒng)
更新時間:2024-12-20
美國 SONIX 超聲波掃描顯微鏡
美國 sonix 超聲波掃描顯微鏡:echo-vs, echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,sonix echo vs™ 是專為更高精度要求，更復雜元器件設計的新一代設備。echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,編程自動判別缺陷,高產量,無需人員重復設置.
更新時間:2024-12-20
德國Bruker傅氏轉換紅外光譜儀
德國bruker傅氏轉換紅外光譜儀ftir -利用紅外線光譜經傅利葉轉換進而分析雜質濃度的光譜分析儀器。
更新時間:2024-12-20
德國Bruker FT-NIR光譜儀
德國bruker ft-nir光譜儀tango,mpa,matrix-i.ft-nir光譜儀已經在包括制藥，食品，農業(yè)和化學行業(yè)在內的所有行業(yè)的質量控制應用中得到了很好的應用。它為耗時的濕法化學方法和色譜技術提供了一種實用的替代方法。ft-nir無破壞性，不需要樣品制備或危險化學品，使其定量和定性分析快速可靠。
更新時間:2024-12-20
德Bruker光學輪廓儀
德bruker光學輪廓儀contorugt-表面量測系統(tǒng)-供生產qc/qa及研發(fā)研用的非接解觸型光學輪廓儀
更新時間:2024-12-20
德國Sentech 實時監(jiān)測儀
sentech ald實時監(jiān)測儀是一種新型的光學診斷工具，是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率，厚度，折射率)，在短時間內開發(fā)新工藝、實時研究ald循環(huán)中的反應機理是sentech ald實時監(jiān)測儀的主要應用。
更新時間:2024-12-20
美國OGP光學式坐標測量儀
美國ogp光學式坐標測量儀 zip 250 ，5:1 accucentric 電動變焦透鏡，在每次放大變倍時自動校準，可選配接觸式探頭、激光和微型探針。
更新時間:2024-12-20
接觸角測定儀
jy—pha接觸角測定儀，用于液體對固體的浸潤性，通過測量液體對固體的接觸角、計算、測定液體對固體的附著力，張力及固體表面能等指標。
更新時間:2024-12-20
接觸角測量儀
100標準型接觸角測量儀，采用高性能日本原裝進口工業(yè)機芯，工業(yè)級連續(xù)變倍顯微鏡，確保圖像的真實性，獲取最佳的成像效果。
更新時間:2024-12-20
美Associated 耐壓測試儀​
美associated 耐壓測試儀​hypotmax 7710 ，是一款12 kvdc hipot測試儀，用于為電纜、電線、線束和電氣元件測試提供高直流輸出電壓。該產品非常易于使用，并為安全有效的測試提供了各種特性。它有專利smartgfi®操作,它還包括電荷lo®和斜坡嗨®系統(tǒng)。最后，該系統(tǒng)具有遠程安全聯鎖和數控電弧檢測系統(tǒng)。
更新時間:2024-12-20
美Montana超精細多功能無液氦低溫光學恒溫器
montana 新型超精細多功能無液氦低溫光學恒溫器完全擺脫了液氦。完全閉循環(huán)的制冷系統(tǒng)只需要極少量的氦氣即可讓系統(tǒng)達到極限低溫。系統(tǒng)具有超快降溫、超低震動和超高的溫度穩(wěn)定性。全自動化的控制軟件，簡化了用戶的操作流程。
更新時間:2024-12-20
德國Attocube磁共振顯微鏡/低溫強磁場磁共振顯微鏡
德國attocube磁共振顯微鏡/低溫強磁場磁共振顯微鏡attocsfm,完美集成了由完全無磁性材料制備的高數值孔徑（na）共聚焦顯微鏡與原子力顯微鏡來滿足odmr實驗的需求。
更新時間:2024-12-20
美國sinton少子壽命測試儀
sinton少子壽命測試儀wct-120，suns-voc，硅片少子壽命測試系統(tǒng)，采用了獨特的測量和分析技術，包括準穩(wěn)定態(tài)光電導(qsspc)測量方法？伸`敏地反映單、多晶硅片的重金屬污染及陷阱效應,表面復合效應等缺陷情況。
更新時間:2024-12-20
布魯克Bruker白光干涉光學輪廓儀
布魯克bruker白光干涉光學輪廓儀 contour x, 滿足微納米表面測量需要
更新時間:2024-12-20
布魯克Bruker 三維光學輪廓儀
布魯克bruker contourx-200 三維光學輪廓儀，靈活的臺式表面形貌測量設備
更新時間:2024-12-20
布魯克臺階儀-探針式表面輪廓儀
布魯克 dektakxt 臺階儀（探針式表面輪廓儀）設計創(chuàng)新，實現了更高的重復性和分辨率，垂直高度重復性高達 5å。第十代 dektakxt臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術突破，實現了納米尺度的表面輪廓測量，從而可以廣泛的應用于微電子器件，半導體，電池，高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學域。
更新時間:2024-12-20
日本RION液體光學顆粒度儀
日本rion液體光學顆粒度儀ks-41b，可檢測光阻產品、sog 等產品中 0.1um 的顆粒。
更新時間:2024-12-20
日本RION液體光學顆粒度儀
日本rion液體光學顆粒度儀ks-19f,寬廣的測試范圍，可測試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數據。
更新時間:2024-12-20

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