光學鍍膜產(chǎn)品及廠家
secs / gem通訊hmds鍍膜機通過對烘箱預處理過程的工作溫度、處理時間、處理時保持時間等參數(shù)的控制可以在硅片、基片表面均勻涂布一層hmds，改變了hmds處理后的硅片接觸角，降低了光刻膠的用量，提高光刻膠與硅片的黏附性。適用于硅片、砷化鎵、陶瓷、不銹鋼、鈮酸鋰、玻璃、藍寶石、晶圓等材料預處理及相關行業(yè)。
更新時間:2024-12-20
本儀器是一般是用標準器（如量塊）以比較法測量工件的尺寸。它可對五等量塊、量棒、鋼球、線形及平行平面狀精密量具和零件的外型尺寸作精密測量。
更新時間:2024-12-13
投影立式光學計是一種精密光學機械端度計量儀器。儀器利用標準量塊與被測件相比較的方法來測量零件的外形尺寸，是工廠計量室、車間檢定站或制造量具、工具與精密零件車間常用的精密儀器之一。
更新時間:2024-12-13
本儀器頭部亦可作為一個獨立體，在科研，生產(chǎn)過程控制及在線測量等方面，對被測件作微小位移測量。
更新時間:2024-12-13
bx202-or-901便攜式頻閃儀也叫頻閃燈、頻閃靜像儀或轉(zhuǎn)速計。bx202-or-901便攜式頻閃儀是能夠使作振動、 高速旋轉(zhuǎn)或周期運動構件變成“ 靜止不動 ” 構件的一種光學測量裝置。
更新時間:2024-12-13
candela 6300系列光學表面分析儀系統(tǒng)為金屬或玻璃數(shù)據(jù)存儲基底和成品介質(zhì)提供先進的計量和檢測能力。隨著數(shù)據(jù)存儲制造商努力通過進一步降低磁頭飛行高度來提高設備存儲容量，控制磁盤表面粗糙度變得越來越重要。6300系列光學表面分析儀利用業(yè)內(nèi)寬的空間帶寬覆蓋范圍(0.22 - 2000 m)和亞噪底來滿足全面粗糙度和微波紋測量的要求。
更新時間:2024-12-10
光學螺紋測量儀cordinspect2用于快速便捷地測試螺紋工件，它可以精確測量螺紋直徑、長度、半徑、通過旋轉(zhuǎn)接收軸測量跳動。該儀器通過一個大型觸摸屏操作或用鍵盤鼠標操作；诤昃庉嫓y試參數(shù)允許快速簡單的準備試驗方案。cordinspect2既可用于實驗室也可直接用在工廠車間。除此之外，可自動程序轉(zhuǎn)換。cordinspect2對于緊固件生產(chǎn)商和車削螺紋工件是非常有意義的。由于其靈活性強，便
更新時間:2024-12-02
英國crystran 光學材料的銷售團隊不僅在光學方面擁有廣泛的經(jīng)驗，而且在材料的化學和物理以及晶體生長方面也擁有豐富的經(jīng)驗。通過與客戶保持密切聯(lián)系并盡可能提供直截了當?shù)恼\實建議
更新時間:2024-11-06
平臺擁有光刻設備、薄膜沉積設備、刻蝕設備、表征測試設備、器件后道封裝設備以及自主研發(fā)的超滑實驗設備等共計200余臺套，其中主要設備40余臺；谝延性O備，對外提供工藝整合、共同工藝開發(fā)等技術服務。
更新時間:2024-11-05
如，微/納制造與微/納測量技術現(xiàn)已廣泛的應用于信息業(yè)、工業(yè)制造、生物與醫(yī)療科學、航空航天及環(huán)境科學等各個域，對于軍用和民用各個域的發(fā)展起著舉足輕重的作用。為此，我們上線微納加工打樣驗證服務，以求幫助客戶快實現(xiàn)產(chǎn)品驗證。
更新時間:2024-11-05
工藝整合及平臺能力—導電dlc膜層（超滑副，導電超硬膜層等）—ain／pzt薄膜工藝（壓電驅(qū)動材料）—大尺寸高定向碳材料生長和器件加工工藝—鍵合：陽鍵合、玻璃焊料鍵合、共晶鍵合（aige）、擴散鍵合工藝—氣氛或真空封裝、reseal—研磨減薄和原子拋光工藝—硅基全濕法微納加工工藝—柔性襯底微納器件加工
更新時間:2024-11-05
膜片鉗是一種多功能的高分辨率技術，可直接測量活細胞中的離子電流和/或膜電位。根據(jù)所采用的配置，epatch可以研究細胞和組織切片中廣泛的電特性，從切片中的神經(jīng)元放電活動到異源表達系統(tǒng)中的單通道事件記錄。低噪聲放大器、脈沖發(fā)生器和數(shù)字化儀都包含在小型頭級(僅42 x 18 x 78 mm)內(nèi)，可以直接安裝到微型機械臂安裝板上，并通過任何筆記本電腦的usb端口供電。
更新時間:2024-10-28
昊量光電全新推出的單晶釔鐵石榴石yig薄膜，由于其微波損耗非常低，釔鐵石榴石 （yig） 和摻雜 yig 等單晶鐵磁材料被用于微波技術中的器件。
更新時間:2024-10-28
南通振華可以提供全系列的濾光片，例如：窄帶濾光片、帶通濾光片、長通濾光片、短通濾光片、陷波濾光片、cpl 濾光片、ir 濾光片、uv 濾光片、中性密度濾光片、干涉濾光片、二向色濾光片、截止濾光片、彩色濾光片、降色溫玻璃等等。
更新時間:2024-10-08
南通振華可以提供全系列的濾光片，例如：窄帶濾光片、帶通濾光片、長通濾光片、短通濾光片、陷波濾光片、cpl 濾光片、ir 濾光片、uv 濾光片、中性密度濾光片、干涉濾光片、二向色濾光片、截止濾光片、彩色濾光片、降色溫玻璃等等。
更新時間:2024-10-08
slotdie狹縫涂布，狹縫式涂布機，狹縫擠出式涂布機，鈣鈦礦太陽能電池涂布機,有機光伏太陽能電池opv；鈣鈦礦太陽能電池；薄膜涂布機；薄膜涂布機；薄膜涂布機；perovskitepv；平板顯示(fpd),oled；石墨烯，碳納米管；超電容；及其他光伏應用；
更新時間:2024-09-15
t16055a琥珀色 3a鍍膜 ，美國諾斯north squire 安全眼鏡由上海書培實驗設備有限公司為您提供，歡迎， 實驗室常用耗材聚四氟乙烯產(chǎn)品 玻璃器皿 注射器&
更新時間:2024-07-21
ddbt智能型系列鍍膜泵上海之信儀器有限公司具有二十余年的蠕動泵生產(chǎn)歷史，設計的ddbt系列智能型蠕動泵是在借鑒國外產(chǎn)品的先進技術的基礎上，在*先采用電腦控制的智能化控制方案，裝入了工作流程軟件包，用
更新時間:2024-07-10
t16055 3a鍍膜 無色 ， 美國諾斯north squire 安全眼鏡由上海書培實驗設備有限公司為您提供，歡迎， 實驗室常用耗材聚四氟乙烯產(chǎn)品 玻璃器皿&nbs
更新時間:2024-05-26
t16055s 3a鍍膜 茶色 美國諾斯north squire 安全眼鏡由上海書培實驗設備有限公司為您提供，歡迎， 實驗室常用耗材聚四氟乙烯產(chǎn)品 玻璃器
更新時間:2024-03-22
thick8000電鍍膜厚測試儀廠家配件主機壹臺，含下列主要部件： (1)微焦斑x光管 &nbs
更新時間:2023-10-25
電鍍膜厚儀韓國xrf-2020 生產(chǎn)商 : micro pioneer原產(chǎn)地 : 韓國儀器功能 : 測量電鍍層厚度 儀器規(guī)格型號如下圖韓國microp測厚儀xrf-2020&nbs
更新時間:2023-09-07
電鍍膜厚測試幾種方法介紹金相顯微鏡法庫侖法x光射線法磁性法電渦流法金相顯微鏡是利用顯微鏡光學原理，對被測試物體進行放大，從而觀察到物體表面或斷面的金相顯微結(jié)構這種測試方法要破壞樣品，可以分析出電鍍品的
更新時間:2023-09-06
藝慈電鍍膜厚測試儀thick800a參數(shù)規(guī)格型號：thick 800a 電鍍膜厚測試儀元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。多變量
更新時間:2023-09-03
醫(yī)用制藥鍍膜精餾儀器裝置海南？谖逯干教旖騿⑽蹩萍加邢薰痉辣s裝置雙組分混合液的分離是zui簡單的精餾操作。典型的精餾設備是連續(xù)精餾裝置，包括精餾塔、再沸器、冷凝器等。精餾塔供汽液兩相接觸進行相際
更新時間:2023-08-20
電鍍膜厚測試儀先鋒xrf-2020x射線射到鍍層表面，產(chǎn)生x射線熒光根據(jù)熒光譜線元素能量位置以及其強度確定鍍層的組成以及厚度。用x熒光光譜儀測試金屬鍍層精確，測試范圍廣，并且細微的面積以及超薄的鍍層都
更新時間:2023-07-27
x-ray電鍍膜厚儀韓國micropioneerxrf-2020 型號規(guī)格 l型：測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg h型:測量樣品長寬55cm,高12cm:
更新時間:2023-07-26
電鍍膜厚測試儀金相顯微鏡法庫侖法x光射線法磁性法電渦流法金相顯微鏡是利用顯微鏡光學原理，對被測試物體進行放大，從而觀察到物體表面或斷面的金相顯微結(jié)構這種測試方法要破壞樣品，可以分析出電鍍品的品質(zhì)和找出
更新時間:2023-07-02
x-ray電鍍膜厚儀規(guī)格與型號如下圖所示：韓國微先鋒xrf2020系列 micropioneerxrf-2020系列測厚儀 原產(chǎn)地：韓國 品牌：micropion
更新時間:2023-06-23
電鍍膜厚儀xrf-2020 生產(chǎn)商 : micro pioneer原產(chǎn)地 : 韓國儀器功能 : 測量電鍍層厚度 儀器規(guī)格型號如下圖電鍍膜厚儀xrf-2020 適應于各類五
更新時間:2023-06-07
醫(yī)用制藥鍍膜精餾儀器裝置海南？谖牟偤Ｌ旖騿⑽蹩萍加邢薰痉辣s裝置評價精餾操作的主要指標是：①產(chǎn)品的純度。板式塔中的塔板數(shù)或填充塔中填料層高度，以及料液加入的位置和回流比等，對產(chǎn)品純度均有一定影
更新時間:2023-05-29
電鍍膜厚測試儀金相顯微鏡法庫侖法x光射線法磁性法電渦流法金相顯微鏡是利用顯微鏡光學原理，對被測試物體進行放大，從而觀察到物體表面或斷面的金相顯微結(jié)構這種測試方法要破壞樣品，可以分析出電鍍品的品質(zhì)和找出
更新時間:2023-05-18
我公司能夠生產(chǎn)多種規(guī)格、半徑、基底材料不同的透鏡，可鍍寬帶增透膜，單點增透膜，寬帶高反膜，金屬反射膜，反射鏡，帶通濾光片，分光鏡，衰減片，窄帶濾光片
更新時間:2023-01-31
我公司能夠生產(chǎn)多種規(guī)格、半徑，單點增透膜，寬帶高反膜，金屬反射膜，反射鏡，帶通濾光片，分光鏡，衰減片，窄帶濾光片、基底材料不同的球面鏡,柱面鏡，棱鏡。也可以對透鏡鍍膜y如：寬帶增透膜另外，我們有上千余種的標準產(chǎn)品，并有部分標準產(chǎn)品的庫存滿足您的需要
更新時間:2023-01-31
鍍膜我公司能夠生產(chǎn)多種規(guī)格、半徑、基底材料不同的球面鏡,柱面鏡，棱鏡。也可以對透鏡鍍膜如：寬帶增透膜，單點增透膜，寬帶高反膜，金屬反射膜，反射鏡，帶通濾光片，分光鏡，衰減片，窄帶濾光片
更新時間:2023-01-31
美國extech cg304鍍膜測厚儀cg304 是一款便攜式非侵入性鍍膜厚度測量儀表，該儀表可自動識別待測材料。該儀表采用兩種測量方法：電磁感應（鐵磁性金屬基材）與渦流（非鐵磁性金屬基材
更新時間:2022-07-15
xu型國產(chǎn)x射線熒光測厚儀電鍍膜厚儀技術指標 產(chǎn)品名稱:x-ray電鍍膜厚儀型號：xu-100元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）同時可以分析30種以上元素，五層鍍層分析含量一般為ppm到99.
更新時間:2022-06-27
儀器簡介：xd鍍層測厚儀是一款專用于檢測各種異形件，特別適用于五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。該系列儀器不但可以應對平面、微小樣品的檢測，在面對凹槽曲面深度0
更新時間:2022-06-19
儀器簡介：xd鍍層測厚儀是一款專用于檢測各種異形件，特別適用于五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。該系列儀器不但可以應對平面、微小樣品的檢測，在面對凹槽曲面深度0
更新時間:2022-06-18
中國品牌電鍍膜厚測試儀技術指標分析元素范圍：硫（s）～鈾（u）同時檢測元素：多24個元素，多達5層鍍層分析含量：一般為2ppm到99.9%鍍層厚度：一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）sdd探測器：
更新時間:2022-06-10
珀金埃爾默鍍膜片n6711147美國pe，tbmtx td 4.5 coated ss disk n6711147。產(chǎn)品*，常備現(xiàn)貨，歡迎新老顧客詳詢 珀金埃爾默鍍膜片n6711147美國pe
更新時間:2022-05-07
現(xiàn)貨供應：xrf樣品膜、xrf薄膜、edx樣品膜、edx薄膜、樣品薄膜、x-ray樣品膜、rohs測試膜、x-ray樣品膜、x熒光光譜儀樣品膜、光譜儀樣品膜、邁拉膜、麥拉膜、mylar膜、美國chemplex樣品膜、聚酯薄膜、邁拉膜250、聚酯薄膜、邁拉膜250
更新時間:2021-09-07
應用二氧化硅，一種低折射率材料，比其他晶體質(zhì)的化合物得到更廣泛的應用。二氧化硅薄膜很多優(yōu)越的性能已經(jīng)被注意到，如它在可見光和紫外光下的透明度，對大部分其它氧化物薄膜好的附著性能，高沉積率，薄膜的高硬度和優(yōu)秀的環(huán)境穩(wěn)定性等等。sio2能被用于激光鏡的多層膜鍍膜，增透膜，濾光膜，分光膜，以及薄膜電容器。
更新時間:2021-06-11
最新產(chǎn)品
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- 日本Magnescale（原SONY）磁柵尺 2024/12/22 3:08:22