產(chǎn)品介紹
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EDX 600——貴金屬檢測(cè)專家(可檢測(cè)金、銀、鉑、鈀等貴金屬),全球貴金屬行業(yè)檢測(cè)的經(jīng)典款型。
EDX600是集多年貴金屬檢測(cè)技術(shù)和經(jīng)驗(yàn),以獨(dú)特的產(chǎn)品配置、功能齊全的測(cè)試軟件、友好的操作界面來能滿足貴金屬成分檢測(cè)的需要,人性化的設(shè)計(jì),使測(cè)試工作更加輕松完成。 EDX600貴金屬檢測(cè)儀使用而實(shí)用的正比計(jì)數(shù)盒探測(cè)器,以實(shí)在的價(jià)格定位,滿足貴金屬的成分檢測(cè)和鍍層厚度測(cè)量的要求,且的更具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計(jì),加上全軟件控制的自動(dòng)調(diào)整移動(dòng)平臺(tái)和切換準(zhǔn)直器的裝置,使儀器操作更人性化、更方便。
應(yīng)用領(lǐng)域:黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。 金屬鍍層的厚度測(cè)量和電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。 主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu);電鍍行業(yè)。
性能特點(diǎn):專業(yè)貴金屬檢測(cè)、鍍層厚度檢測(cè)。 內(nèi)置信噪比增強(qiáng)器可提高儀器信號(hào)處理能力25倍以上。 一次可同時(shí)分析24個(gè)元素 針對(duì)不同樣品可自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片。 電制冷硅針半導(dǎo)體探測(cè)器,摒棄液氮制冷。 智能貴金屬檢測(cè)軟件,與儀器硬件相得益彰。 任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。 相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。 多變量非線性回收程序。
產(chǎn)品參數(shù):產(chǎn)品名稱: X熒光光譜儀 型號(hào):EDX600輸入電壓:220±5V(建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源) 環(huán)境溫度:15℃—30℃ 環(huán)境濕度:35%—70%外形尺寸:500 mm×400mm×400mm 重量:30.5Kg
獨(dú)特配置:單樣品腔。 二維軟件控制自動(dòng)移動(dòng)樣品平臺(tái)。 激光定位裝置。
超高分辨率,世界: 采用世界上的SDD硅漂移探測(cè)器 ,分辨率為139±5ev ,而常規(guī)的Si-PIN探測(cè)器,分辨率為160±5eV, 能更好的檢測(cè)鉑金中銥和金的含量。
超高精確度,性能: 使用25mm2大面積鈹窗探測(cè)器,大大提高樣品特征X熒光的接收能力。配合數(shù)字多道分析器技術(shù),提高分析速度,總體提高系統(tǒng)處理能力,計(jì)數(shù)率最大可達(dá)8萬,比Si-PIN 6mm2探頭提高了5-10倍,精度提高了2-4倍。
超清晰攝像頭,精確定位: 采用新型工業(yè)級(jí)相機(jī),樣品圖像更加清晰,輕松實(shí)現(xiàn)定位。
小準(zhǔn)直器,輕松實(shí)現(xiàn)精小部位測(cè)試: 提供多種準(zhǔn)直器,直徑最小達(dá)0.2mm,可輕松實(shí)現(xiàn)精小部位的精確測(cè)試,同時(shí)可根據(jù)測(cè)試需求電動(dòng)切換準(zhǔn)直器,使測(cè)量更加輕松更加。
一鍵式智能式操作,省去選曲線煩惱: FP法的完整使用,只需一鍵操作即可智能化自動(dòng)匹配曲線,操作一步到位。
技術(shù)參數(shù)
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)分析檢出限可達(dá)ppm級(jí)分析含量一般為ppm到99.99%任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型多變量非線性回歸程序溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃電源:交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源能量分辨率:139±5eV
儀器配置
移動(dòng)樣品平臺(tái)信噪比增強(qiáng)器SDD探測(cè)器數(shù)字多道分析系統(tǒng)高低壓電源大功率X光管計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī) 外觀尺寸: 550×416×333mm 樣品腔尺寸:460×298×98mm 質(zhì)量:45Kg
應(yīng)用領(lǐng)域
黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)
性能特點(diǎn)
專業(yè)貴金屬檢測(cè)內(nèi)置信噪比增強(qiáng)器,可有效提高儀器信號(hào)處理能力25倍以上智能貴金屬軟件,與儀器相得益彰任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型多變量非線性回收程序
技術(shù)指標(biāo)
X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)空冷式微聚焦型X射線管,Be窗標(biāo)準(zhǔn)靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等X射線管:管電壓50KV,管電流1mA 可測(cè)元素:Ti~U 檢測(cè)器:正比計(jì)數(shù)管 樣品觀察:CCD攝像頭測(cè)定軟件:薄膜FP法、檢量線法 Z軸程控移動(dòng)高度 20mm
標(biāo)準(zhǔn)配置
X射線管,正比記數(shù)盒,高清攝像頭,高度激光,信號(hào)檢測(cè)電子電路。
應(yīng)用領(lǐng)域
金屬鍍層的厚度測(cè)量, 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。
X?zé)晒夤庾V儀EDX860D
型 號(hào):EDX860D
產(chǎn)品說明、技術(shù)參數(shù)及配置
本儀器專門針對(duì)貴金屬測(cè)試,可測(cè)試環(huán)形樣品內(nèi)壁及普通平面測(cè)試,具有以下特點(diǎn):體積小巧,外型莊重大方,手動(dòng)升降平臺(tái)滿足不同大小樣品的測(cè)試,樣品固定方便快捷,可方便更換準(zhǔn)直器,準(zhǔn)直器直徑為1.5mm,可測(cè)試較小區(qū)域,下照式,大窗口正比計(jì)數(shù)盒計(jì)數(shù)率滿足分析需要,寬闊樣品腔可滿足較大樣品的測(cè)試,攝像頭激光精確定位實(shí)現(xiàn)可視化定位,良好的射線屏蔽確保操作人員。
應(yīng)用領(lǐng)域首飾加工廠 金銀珠寶首飾店 貴金屬冶煉廠 質(zhì)量檢驗(yàn)部門 分析測(cè)試中心 典當(dāng)行
XRF檢測(cè)法與傳統(tǒng)檢測(cè)法比較
檢測(cè)法 | 結(jié)果 |
試金石法 | 主觀性強(qiáng),不科學(xué),性差 |
比重法 | 參照物的純度難以確定 |
化學(xué)法 | 成本高,操作復(fù)雜,對(duì)樣品有所損害 |
XRF分析法 | 快速、無損、科學(xué)、穩(wěn)定 |
核心技術(shù)
1.大功率光管;2. 超大窗口面積正比計(jì)數(shù)盒; 3. 外型小巧,莊重大方; 4. 寬闊樣品腔,方便操作及測(cè)試較大樣品; 5. 手動(dòng)升降平臺(tái)確保測(cè)試不同大小環(huán)狀樣品; 6.小準(zhǔn)直器,利于測(cè)試樣品小區(qū)域; 7. 攝像頭與激光定位,可視地定位到被測(cè)點(diǎn),測(cè)試時(shí)激光點(diǎn)自動(dòng)關(guān)閉,利于拍攝清晰照片; 8. 良好的射線屏蔽確保操作人員的安全。
儀器技術(shù)指標(biāo):
分析含量一般為1ppm到99.9%; 任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型; 相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型; 多變量非線性回歸程序; 多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.1%; 工作穩(wěn)定性為0.1%。 電源:交流220V±5V; 測(cè)量時(shí)間:60-200S 管壓:5-50KV 管流:50-1000μA 溫度適應(yīng)范圍:15℃-30℃
標(biāo)準(zhǔn)配置:
正比計(jì)數(shù)盒;50W X光管; 高壓電源 50kV@1mA;攝像頭激光定位裝置; 高靈敏度信號(hào)檢測(cè)電子電路;手動(dòng)升降平臺(tái); 樣品夾;橡皮泥; 準(zhǔn)直器直徑為1.5 mm。
主要特點(diǎn) 測(cè)試金屬種類: 鉛,銅,鎘,鋅,砷,汞。 Explorer II 特點(diǎn): ● 測(cè)量結(jié)果快速 ● 與 ICP-MS (電感耦合等離子體質(zhì)譜)具有極好的相關(guān)性(+/- 10%) ● TriTrode電極技術(shù) - 減少了電極線纜與接口的連接,安裝快速、操作簡(jiǎn)單。 - 單一連接具有更高穩(wěn)定性 - 電極清理和維護(hù)簡(jiǎn)單、方便 ● 支持多種測(cè)量技術(shù):溶出伏安法(Stripping voltammetry, SV),循環(huán)伏安法(Cyclic voltammetry , CV),安培測(cè)量法(Amperometric measurement),PH ,氧化還原電位(ORP),和離子電極(ISE)。 ● 基于Windows 系統(tǒng)的強(qiáng)大分析軟件, 用戶友好型界面。 ● 報(bào)告generation capability。 Nano-Band Explorer II 規(guī)格參數(shù): 電源 108-132VAC 60Hz 接變壓器。變壓器有NEMA 5-15 個(gè)插頭,可提供 +5V ,±12V 。聯(lián)合調(diào)度 ±5% 。功率:~1W 。 控制臺(tái) 臺(tái)式計(jì)算機(jī)或筆記本電腦 主機(jī)接口 串口,最大波特率:~120 kb 支持波特率:2.4kb,4.8kb,9.6kb,19.2kb,38.4kb,57.6kb和115.2kb 。 體積 20.6 cm × 25.4 cm × 6.9 cm 重量 儀器重:1.58 kg 操作環(huán)境 溫度:0 ℃ ~ 40 ℃ 相對(duì)濕度:20% ~ 90% 操作系統(tǒng) Windows 95/98/2000 ,Windows XP 數(shù)據(jù)格式 輸出為 Excel ,Matlab 表格形式 |
儀器介紹 Nano-Band Explorer II是科學(xué)研究和環(huán)境監(jiān)測(cè)的理想工具: 測(cè)試單一樣品時(shí)出現(xiàn)微小波動(dòng)屬正常現(xiàn)象。 Explorer II系統(tǒng)包含了臺(tái)式分析儀(代實(shí)驗(yàn)室型),測(cè)量快速、簡(jiǎn)單。 Explorer II 配備有便攜式的存儲(chǔ)箱,可帶至現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行測(cè)量 |
儀器介紹 本儀器專門針對(duì)貴金屬測(cè)試,可測(cè)試首飾內(nèi)壁及不規(guī)則樣品,具有以下特點(diǎn):體積小巧,優(yōu)美弧線造型;透明玻璃罩; 手動(dòng)升降平臺(tái)滿足不同高度樣品的測(cè)試;多種樣品固定方式(萬能夾具,橡皮泥,樣品托板)滿足不同外型樣品的測(cè) 試;上照式,可方便更換準(zhǔn)直器;準(zhǔn)直器直徑為1mm可測(cè)試較小區(qū)域,大窗口正比計(jì)數(shù)盒計(jì)數(shù)率滿足分析需要;寬 闊樣品腔可滿足較大樣品的測(cè)試;攝像頭激光精確定位實(shí)現(xiàn)可視化,方便快速定位,良好的射線屏蔽確保操作人員安全。 性能特點(diǎn) 大功率光管; 超大窗口面積正比計(jì)數(shù)盒; 優(yōu)美弧線造型,典雅大方, 寬闊樣品腔,方便操作及測(cè)試較大樣品; 多種樣品夾持方式(萬能夾具,樣品托板,橡皮泥),可完成普通測(cè)試,內(nèi)壁測(cè)試,不規(guī)則樣品測(cè)試; 手動(dòng)升降平臺(tái)確保測(cè)試不同厚度的樣品; 小準(zhǔn)直器,利于測(cè)試樣品小區(qū)域; 攝像頭與激光定位,可視地定位到被測(cè)點(diǎn),測(cè)試時(shí)激光點(diǎn)自動(dòng)關(guān)閉,利于拍攝清晰照片; 良好的射線屏蔽確保操作人員安全。 透明罩可透視清晰觀察測(cè)試過程; 技術(shù)指標(biāo) 元素分析范圍從鉀(K)到鈾(U); 分析含量一般為1ppm到99.9%; 任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型; 相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型; 多變量非線性回歸程序; 多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.1%; 工作穩(wěn)定性為0.1%; 電源:交流220V±5V; 能量分辨率為:200±5eV 測(cè)量時(shí)間:60-200S 管壓:5-50KV 管流:50-1000μA 溫度適應(yīng)范圍:15℃-30℃ 超大樣品腔:300X250X160mm 重量:39kg 外型尺寸:450X450X360mm 標(biāo)準(zhǔn)配置 正比計(jì)數(shù)盒; 50W X光管; 高壓電源輸出 50Kv@1mA; 攝像頭激光定位裝置; 高靈敏度信號(hào)檢測(cè)電子電路; 手動(dòng)升降平臺(tái); 萬能夾具; 橡皮泥; 準(zhǔn)直器直徑為1.0。 應(yīng)用領(lǐng)域 主要應(yīng)用貴金屬測(cè)量,也可用于相關(guān)行業(yè)的鍍層測(cè)量、RoHS測(cè)試等。 需要對(duì)貴金屬進(jìn)行X熒光分析的領(lǐng)域。 主要應(yīng)用于首飾店貴金屬檢測(cè)。 |
X射線測(cè)金儀享有無損、快速、精確等特點(diǎn),被廣泛用于首飾生產(chǎn)、加工、銷售、質(zhì)檢等部門。近年來我公司開發(fā)生產(chǎn)的各類X射線測(cè)金儀已遠(yuǎn)銷國內(nèi)外,獲得普遍好評(píng)。特點(diǎn)無損檢測(cè):被測(cè)金屬無論外觀、內(nèi)在質(zhì)量還是重量都不受任何損害測(cè)量范圍寬:各類黃金、白金及其他貴金屬合金都可測(cè)量測(cè)量速度快:根據(jù)測(cè)量要求,在幾秒到幾分鐘內(nèi)可以得出測(cè)量結(jié)果測(cè)量進(jìn)度高:測(cè)量誤差對(duì)純金在±0.3%, 對(duì)K金在±0.6%提供譜線重疊比較工具,便于用戶查明未知元素譜峰提供密度法復(fù)核軟件,可對(duì)本機(jī)測(cè)定結(jié)果進(jìn)行復(fù)核規(guī)格光管:Mo靶X光管高壓電源: 40 KV, 1mA探測(cè)器:充氣正比計(jì)數(shù)管多道分析器:512道軟件:基于 Windows XP的應(yīng)用軟件電源:交流 220V 50Hz體積:500mm x 480mm x 210mm重量:24Kg
性能優(yōu)勢(shì)
超高分辨率,世界: 采用世界上的SDD硅漂移探測(cè)器 ,分辨率為139±5ev ,而常規(guī)的Si-PIN探測(cè)器,分辨率為160±5eV, 能更好的檢測(cè)鉑金中銥和金的含量。
超高精確度,性能: 使用25mm 2大面積鈹窗探測(cè)器,大大提高樣品特征X熒光的接收能力。配合數(shù)字多道分析器技術(shù),提高分析速度,總體提高系統(tǒng)處理能力,計(jì)數(shù)率最大可達(dá)8萬,比Si-PIN 6mm2探頭提高了5-10倍,精度提高了2-4倍。
超清晰攝像頭,精確定位: 采用新型工業(yè)級(jí)相機(jī),樣品圖像更加清晰,輕松實(shí)現(xiàn)定位。
小準(zhǔn)直器,輕松實(shí)現(xiàn)精小部位測(cè)試: 提供多種準(zhǔn)直器,直徑最小達(dá)0.2mm,可輕松實(shí)現(xiàn)精小部位的精確測(cè)試,同時(shí)可根據(jù)測(cè)試需求電動(dòng)切換準(zhǔn)直器,使測(cè)量更加輕松更加。
一鍵式智能式操作,省去選曲線煩惱: FP法的完整使用,只需一鍵操作即可智能化自動(dòng)匹配曲線,操作一步到位。
技術(shù)參數(shù)
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)分析檢出限可達(dá)ppm級(jí)分析含量一般為ppm到99.99%任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型多變量非線性回歸程序多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.02%(含量96%以上)工作穩(wěn)定性為0.05%(含量96%以上)溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃電源:交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源能量分辨率:139±5eV樣品腔尺寸:439mm×300mm×50mm儀器尺寸:550mm×410mm×320mm儀器重量:45kg
儀器配置
移動(dòng)樣品平臺(tái)信噪比增強(qiáng)器SDD探測(cè)器數(shù)字多道分析系統(tǒng)高低壓電源大功率X光管計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
應(yīng)用領(lǐng)域
黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)