CST-50沖擊試樣缺口投影儀（夏比投影儀）
一、 產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
沖擊試樣缺口投影儀（夏比投影儀）是專(zhuān)用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專(zhuān)用光學(xué)儀器。沖擊試樣缺口投影儀（夏比投影儀）是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V或U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對(duì)，以確定被檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格，操作簡(jiǎn)便，檢查對(duì)比直觀、效率高，是目前唯一切實(shí)可行、并能保證檢查質(zhì)量的方法，是相關(guān)理化試驗(yàn)室的必備儀器。
二、 主要技術(shù)指標(biāo)：
1、放大倍數(shù)：50×
2、投影屏尺寸：200×200mm
3、工作臺(tái)位移：縱向±10mm，橫向±10mm，升降±12mm（無(wú)刻度）
4、工作臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍：0～360о（無(wú)刻度）
5、光源：鹵鎢燈12V 100W
6、電源：220V 50HZ 150W
7、外形尺寸：515×224×603mm（長(zhǎng)×寬×高）