BRUKER(原來VEECO) 光學(xué)輪廓儀系統(tǒng)BRUKER(原來VEECO) 光學(xué)輪廓儀系統(tǒng)

ContourGT 

光學(xué)輪廓儀系統(tǒng) 

ContourGT™集合領(lǐng)先的64-bit,多核操作和分析軟件,專利的白光干涉(WLI)硬件以及史無前例的簡易操作性于一身,是目前最先進(jìn)的三維光學(xué)輪廓儀。這款第十代的光學(xué)輪廓儀在大視場上提供快速、埃級到毫米級的垂直測量范圍,并有靈活的樣品設(shè)置和行業(yè)領(lǐng)先的重現(xiàn)性。ContourGT是現(xiàn)今生產(chǎn)、研究和質(zhì)量控制領(lǐng)域中最具綜合性及直觀性的三維輪廓測量系統(tǒng)。 

無與倫比的測量性能,行業(yè)最大視場上的最高垂直分辨率 

放大倍率0.5×到200×,實(shí)現(xiàn)各種不同的表面形狀及材質(zhì)的 

在任何放大倍率下都有亞埃級到毫米級的垂直測量范圍,實(shí)現(xiàn)空前的測量靈活性 

可選的高分辨率照相機(jī)提升橫向分辨率,改善測量的重復(fù)性和再現(xiàn)性 

優(yōu)秀的測量硬件增強(qiáng)了在工業(yè)環(huán)境下的測量可靠性和重復(fù)性 

專利的高亮度雙光源照明LED提供卓越的測量質(zhì)量和放大倍率靈活性 

優(yōu)化的硬件設(shè)計(jì)提高了儀器防震能力和測量重復(fù)性及再現(xiàn)性。 

精選模式中的擁有專利的自校準(zhǔn)技術(shù)確保工具間的關(guān)聯(lián)性和測量準(zhǔn)確度及重復(fù)性 

內(nèi)置Vision64™的64位多核處理器促進(jìn)了三維輪廓的測量和分析 

新的架構(gòu)使應(yīng)用程序數(shù)據(jù)處理能力獲得了數(shù)量級增長 

運(yùn)用多核優(yōu)化和其它技術(shù)的并行數(shù)據(jù)處理方式,使得關(guān)鍵計(jì)量分析的生產(chǎn)效率提高10 

無可匹敵的拼接功能可將數(shù)以萬計(jì)的數(shù)據(jù)集拼接成一個(gè)連續(xù)的圖像 

用戶界面直觀性強(qiáng),自動(dòng)化程度最高,分析能力最強(qiáng) 

簡潔的用戶界面簡化了操作和數(shù)據(jù)采集,提高系統(tǒng)和操作者的工作效率 

獨(dú)特的可視化工作流程工具提供各種過濾器及分析菜單的直觀使用途徑 

可按用戶特殊需求定制報(bào)告的精煉分析數(shù)據(jù)

適用范圍廣,滿足各種特殊需求 

ContourGT具有行業(yè)領(lǐng)先的測量范圍及適應(yīng)性,能完成從粗糙界面到光滑界面,硬到軟,粘性的、可撓曲或其它難以測量表面的三維形貌精確測量。利用其獨(dú)一無二的直觀用戶界面和廣泛的自動(dòng)功能,ContourGT測量儀能通過自定義來滿足幾乎所有的測量應(yīng)用。

該公司產(chǎn)品分類: 儀器儀表

JD2A型臥式光學(xué)計(jì)

儀器總放大倍數(shù):      1650×   投影物鏡放大倍數(shù):    18.75×   分劃板分劃值:      0.001mm   零件調(diào)節(jié)范圍:      ±0.01mm   測量范圍:      外尺寸:     0~500mm      內(nèi)尺寸:   13.5~300mm      使用大測勾: 26.5~200mm      使用小測勾: 13.5~26.5mm   工作臺橫向移動(dòng)范圍:  不小于25mm   工作臺測微鼓分度值:    0.01mm

主要附件:   1. 內(nèi)測裝置:    大測溝        一付    小測溝        一付    量塊架(擋塊)     一付    環(huán)規(guī)         一付   2. φ8平測帽:      二件   3. R20球面測帽:     二件   4. 中刃形測帽:     二件    (φ2平測帽,小刃形測帽,φ14平測帽選購件)

各種型號光學(xué)窗口

 我們可為您加工訂做紅外窗口,石英窗口,氟化鈣(CaF2)窗口,硒化鋅(ZnSe)窗口,硅片等各種光學(xué)窗口

材料:光學(xué)玻璃、紫外熔石英(JGS1)、紅外熔石英(JGS3)以及氟化鈣(CaF2)、氟化鎂(MgF2)、氟化鋇(BaF2)、硒化鋅(ZnSe)、鍺(Ge)、硅(Si)等晶體材料
外圓: 4mm — 200mm 
平行度偏差: <30秒
表面精度: >λ/10
表面質(zhì)量: 40/20 
口徑: 90% 
鍍 膜: 按客戶需求可進(jìn)行鍍膜
該公司產(chǎn)品分類: 紅外鏡片,紅外透鏡系列 非球面鏡系列 濾光片系列 平面鏡,光學(xué)窗口系列 反射鏡系列 光學(xué)棱鏡系列 球面透鏡系列 柱面透鏡系列

8156A光學(xué)衰減器8156A光學(xué)衰減器

描述:8156A光學(xué)衰減器適用于快速的通信系統(tǒng)測量?砂阉渴鹪谘邪l(fā)和生產(chǎn)過程,適合應(yīng)用單模和50m多模。用戶可選擇不同的回?fù)p性能、內(nèi)置監(jiān)測路徑及整體精度,使8156A輕松滿足您的測量需求。 

特性

60dB衰減,分辨率為0.001dB,無需測距 

1200nm到1650nm的波長范圍 

60dB回?fù)p 

<±0.05dB典型線性 

<±0.005dB典型重復(fù)性 

<0.02dBpp典型從屬極化損耗 

+23dBm最大輸入功率

瑞普高電子除了上述8156A 以外還能為客戶提供以下衰減器: 

HA9

在提供有質(zhì)量的二手測試儀器同時(shí), 瑞普高電子還可以為貴公司提供測試儀器的維修,計(jì)量校準(zhǔn),租賃和回收服務(wù)等一系列的服務(wù)。更多咨詢請進(jìn):http:www.ruipugao.com

該公司產(chǎn)品分類: 光模塊 光示波器 LCR測試儀 光譜分析儀 頻譜分析儀 網(wǎng)絡(luò)分析儀

81625A回收安捷倫81625A/81628B大功率 光學(xué)探頭

 產(chǎn)品描述
Agilent/HP81625B 光功率探頭
  • 儀器型號:81625B
  • 儀器品牌:Agilent/HP
  •   The Agilent 81625B optical heads are specially designed for low PDL , low spectral ripple and high return loss and are used for optical component tests. The optical heads have to be operated with the single (Agilent 81618A) or dual (Agilent 81619A) interface modules. The heads come with a magnetic D-shape adapter and provide a safe stand. They are used in lightwave mainframe models 8163A/B, 8164A/B and 8166A/B.

    Features:

     

    • Large Area InGaAs Sensor
    • Optical Range of 850 to 1650 nm
    • Power Range of +27 dBm to -70 dBm
      • 深圳市卓興儀器有限公司 
      • 聯(lián)系人:陳曉東
      • 聯(lián)系電話 :13725836612
      • 微信:13725836612
      • QQ: 2020982994
      • 座機(jī):
      • 聯(lián)系人:陳卓
      • 聯(lián)系電話:13929557502
      • 公司地址:東莞市塘廈鎮(zhèn)環(huán)西路111
      • 深圳市卓興儀器有限公司是一家長期高價(jià)回收儀器儀表,長期供應(yīng)二手,全新儀器設(shè)備的企業(yè)有限公司,公司一直以誠信,公平,公正與現(xiàn)金的結(jié)算的方式運(yùn)作。提供上門提貨或物流公司代收款的操作模式高價(jià)收購國內(nèi)外儀器儀表設(shè)備讓您與您公司的閑置,廢棄,待處理的設(shè)備快速的資金回籠
      • 公司主營產(chǎn)品;手機(jī)綜合測試儀、藍(lán)牙測試儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、信號源信號發(fā)生器、示波器、功率計(jì)、頻率計(jì)、LCR電橋、電源、數(shù)據(jù)采集儀、噪聲系數(shù)分析儀、多用表校準(zhǔn)儀、萬用表、天饋線測試儀安立、溫度記錄儀、邏輯分析儀、色彩分析儀、光波測量系統(tǒng)、阻抗測試治具及附件、衰減器等。
      • 主營品牌;安捷倫、美國泰克、美國福祿克、艾法斯、日本菊水、北京普源、臺灣固緯、德國惠美、美國吉時(shí)利、摩托羅拉、美國力科、美國韋夫特克、、等國際知名品牌、德國羅德施瓦茨、英國馬可尼、英國施倫伯杰、日本安立(安利)
      • 回收品牌:
      • 安捷倫Agilent/HP、泰克Tektronix、安立Anritsu、羅德施瓦茨R&S、愛德萬Advantest、艾法斯Aeroflex、馬可尼IFR/Marconi、吉時(shí)利Keithley、日立Hitachi、 松下Panasonic、
      • 福祿克Fluke、致茂Chroma、力科Lecroy、萊特波特LitePoint、是德Keysight 、橫河Yokogawa、柯尼卡美能達(dá)KONICA MINOLTA、思博倫Spirent 等世界著名品牌。
      • 回收類型:
      • 通用儀器
      • 示波器、邏輯分析儀、動(dòng)態(tài)信號分析儀、交流/直流電源分析儀、函數(shù)信號發(fā)生器、波形監(jiān)視器、電子負(fù)載、波形脈沖發(fā)生器、電源、萬用表。
      • 射頻與微波儀器
      • 頻譜分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、阻抗分析儀、信號發(fā)生器、噪聲系數(shù)分析儀、電纜/天線分析儀、調(diào)制度分析儀、功率計(jì)/功率探頭、頻率計(jì)、LCR表、測量接收機(jī)。
      • 綜合測試儀
      • 手機(jī)綜合測試儀、TDMA測試儀、無線電綜合測試儀、PDC/PHS測試儀、天饋線測試儀、3G測試儀、DECT測試儀、藍(lán)牙綜合測試儀。
      • 音頻/視頻測試儀
      • 音頻/視頻信號發(fā)生器、有線電視分析儀、彩色/視頻分析儀、音頻分析儀、碼型發(fā)生器/誤碼率。
      • 光通信測試儀
      • 光譜分析儀、數(shù)字傳輸分析儀、協(xié)議分析儀、光網(wǎng)絡(luò)分析儀、光時(shí)域反射計(jì)、光功率計(jì)/功率探頭、誤碼儀、光衰減器、光示波器、等各類通訊測試儀器及光學(xué)量測儀等電子儀器量表。
該公司產(chǎn)品分類: 儀器儀表

TIV德國KK光學(xué)硬度計(jì),美國GE光學(xué)硬度計(jì)

亞測(上海)儀器科技有限公司是德國KK/美國GE中國區(qū)域一級代理商,德國KK TIV光學(xué)硬度計(jì)為亞測(上海)儀器科技有限公司無損檢測事業(yè)部UT二級人員經(jīng)常多次實(shí)驗(yàn)測試,現(xiàn)場勘查,精心為您推薦的一款原裝進(jìn)口光學(xué)硬度計(jì),主要是對工件進(jìn)行光學(xué)硬度分析。此款儀器精度高,易操作,讀數(shù)準(zhǔn)確等特點(diǎn)。為廣大硬度測量使用者所青睞

德國KK公司便攜式TIV光學(xué)硬度計(jì)(Through Indenter Viewing通過壓痕觀察)通過一個(gè)特殊的光學(xué)系統(tǒng)和CCD鏡頭,將壓痕顯示在顯示屏上來測定測量的維氏硬度。雖然便攜式光學(xué)硬度計(jì)TIV并沒有同樣來自德國KK的超聲波硬度計(jì)MIC10DL功能強(qiáng)大,但作為硬度計(jì)來說,已經(jīng)能夠出色地完成項(xiàng)目的檢測任務(wù)。

Through Indenter Viewing-通過壓痕觀察法:按照維氏硬度的光學(xué)測試方法,通過CCD鏡頭及光學(xué)系統(tǒng),自動(dòng)或手動(dòng)壓痕的對角線長度?蓽y量不同的材料,無需額外的校準(zhǔn)。材料包括:鋼、非磁性金屬塑料、硬質(zhì)合金、玻璃、陶瓷。

便攜式光學(xué)硬度計(jì)TIV光學(xué)硬度計(jì)產(chǎn)品特性:

  • 第一款便攜式視覺硬度計(jì),配備彩色的大顯示屏fb-tiv-1
  • 當(dāng)探頭在被測物表面加載時(shí),鉆石壓痕圖像被自動(dòng)記錄和評估,直接測量對角線,不用再通過顯微鏡頭
  • 測量不受材料性質(zhì)的影響?蓽y量鋼和非磁性金屬、塑料、硬質(zhì)合金、玻璃、陶瓷,不用經(jīng)過校準(zhǔn)
  • 測量不受測量大小和形狀的影響,甚至可以測量硬幣、金屬板和金屬箔
  • 可直接通過彩色顯示屏觀察到壓痕形成的過程
  • 可顯示統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)的曲線、直方圖和表格

便攜式光學(xué)硬度計(jì)TIV光學(xué)硬度計(jì)主要應(yīng)用:

由于TIV不僅不受測試位置和測試角度的影響,也不受被測物的材料、大小和形狀的影響,因此可應(yīng)用于在一些傳統(tǒng)的便攜式硬度計(jì)不能勝任的場合。常規(guī)的應(yīng)用如下:- 熱處理行業(yè)?煞奖憧焖俚販y量表面硬度,無需通過校準(zhǔn)- 航空行業(yè)?蓽y量薄件和合金地硬度,無需額外地校準(zhǔn)- 造幣廠?蓽y量硬幣地硬度- 測試單位。TIV是一款通用地便攜式硬度計(jì)- 實(shí)驗(yàn)室和研究所?捎^察到壓痕的形成過程

德國KK TIV光學(xué)硬度計(jì)技術(shù)參數(shù)

 

探頭 測量范圍 顯示屏 操作語言 硬度制換算和分辨率 評估 自動(dòng)關(guān)機(jī) 電池 操作系統(tǒng) 接口 操作溫度 存儲(chǔ)溫度 尺寸重量

TIV105探頭,負(fù)載5kgf(50N),220x52mm TIV101探頭,負(fù)載1kg(10N),220x52mm 100HV~1000HV(配TIV105探頭) 30HV~500HV(配TIV101探頭) 1/4 VGA彩色TFT顯示屏,5.7"可視范圍,115.2x76.8mm,240x320象素,帶背光 德語、英語、法語 HV(1.0);HB(1.0);HS(1.0/0.5/0.1);HRC(1.0/0.5/0.1);HRB(1.0/0.5/0.1);N/mm2(5.0)。按照DIN 50150和ASTM E140自動(dòng)換算 測試數(shù)據(jù)的曲線、直方圖和表格。計(jì)算統(tǒng)計(jì)值如平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差 可選擇自動(dòng)關(guān)機(jī)時(shí)間。關(guān)機(jī)時(shí)回自動(dòng)存儲(chǔ)測試數(shù)據(jù)和儀器設(shè)置 充電電池,可連續(xù)測試1000次。有低電壓指示 WinCE RS232 0~50℃ -20~70℃ 78x215x180mm,包括電池1.4kg

亞測(上海)儀器科技有限公司是德國KK/美國GE中國區(qū)域一級代理商,現(xiàn)貨供應(yīng)USN60超聲波探傷儀USM35XS超聲波探傷儀、USM36超聲波探傷儀USM GO超聲波探傷儀、USM88超聲波探傷儀、USM86超聲波探傷儀、Phasor XS相控陣探傷儀、USLT2000汽車點(diǎn)焊探傷儀、USLT USB汽車點(diǎn)焊探傷儀、MIC10超聲波硬度計(jì)、MIC20超聲波硬度計(jì)TIV光學(xué)硬度計(jì)、DynaPOCKET袖珍型里氏硬度計(jì),以及DMS GO超聲波測厚儀、CL5超聲波測厚儀、DM5E超聲波測厚儀等系列產(chǎn)品,歡迎廣大新老客戶前來咨詢選購!18001735070

該公司產(chǎn)品分類: 韓國京都磁粉探傷儀 德國尼克斯涂層測厚儀 德國EPK涂層測厚儀 美國達(dá)高特 美國磁通儀器 武漢中科儀器 汕超電子儀器 萊州華銀儀器 北京時(shí)代儀器 儀器儀表配件 其它儀器儀表 其它品牌儀器 美國GE/德國KK 奧林巴斯儀器 射線探傷儀 里氏硬度計(jì) 粗糙度檢測儀 涂鍍層測厚儀 超聲波測厚儀 超聲波探傷儀

QWFT-B自動(dòng)平衡精密光學(xué)隔振平臺

1.儀器特點(diǎn):高導(dǎo)磁不銹鋼面板M6 25×25螺孔方陣 隔振支撐采用二層寶塔氣囊,小孔空氣阻尼配合, 隔振性能結(jié)構(gòu)緊湊, 穩(wěn)定適用于各種實(shí)驗(yàn)環(huán)境2.性能參數(shù):平面度不大于0.05mm/平方米表面粗糙度小于0.8微米固有頻率 垂直1.5Hz-2.0Hz, 水平1.2Hz-2.0Hz振幅不大于2微米規(guī)格(mm): 1200×800×800~6000×1500×800

SGC-10薄膜測厚儀(薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)測量系統(tǒng))

   通過分析薄膜表面的反射光和薄膜與基底界面的反射光相干形成的反射譜,用相應(yīng)的軟件來擬合運(yùn)算,得到單層或多層膜系各層的厚度d,折射率n,消光系數(shù)k。該設(shè)備關(guān)鍵部件均為國外進(jìn)口,也可根據(jù)客戶需要整機(jī)進(jìn)口。

儀器特點(diǎn)

1  非接觸式測量,用光纖探頭來接收反射光,不會(huì)破壞和污染薄膜;

2  測量速度快,測量時(shí)間為秒的量級;

3  可用來測薄膜厚度,也可用來測量薄膜的折射率n和消光吸收k;

4  可測單層薄膜,還可測多層膜系;

5  可廣泛應(yīng)用于各種介質(zhì),半導(dǎo)體,液晶等透明半透明薄膜材料;

6  軟件的材料庫中整合了大量材料的折射率和消光系數(shù),可供用戶參考;

7  內(nèi)嵌微型光纖光譜儀,結(jié)構(gòu)緊湊, 光纖光譜儀也可單獨(dú)使用。

參數(shù)和性能指標(biāo)

厚度范圍: 20nm-50um(只測膜厚),100nm-25um(同時(shí)測量膜厚和光學(xué)常數(shù)n,k)

度:     <1nm或<0.5%

重復(fù)性:     0.1nm

波長范圍: 380nm-1000nm

可測層數(shù): 1-4層

樣品尺寸: 樣品鍍膜區(qū)直徑>1.2mm

測量速度: 5s-60s

光斑直徑: 1.2mm-10mm可調(diào)

 

儀器成套性

測厚儀主體(內(nèi)含光源和光纖光譜儀),光纖跳線,光纖探頭,標(biāo)準(zhǔn)硅片,支撐部件,配套軟件

可擴(kuò)展性

通過光纖連接帶有C口的顯微鏡,就可以使本測量儀適用于微區(qū)(>10um)薄膜厚度的測量。

 

強(qiáng)大的軟件功能

界面友好,操作簡便;

可保存測量得到的反射譜;

可讀取保存的反射率數(shù)據(jù);

可選擇是否測量折射率n,消光系數(shù)k;

可選擇光譜范圍;

可猜測薄膜厚度以節(jié)省測量時(shí)間;

可從大量的材料庫中選擇薄膜和基底的材料;

用戶可自己擴(kuò)充材料庫。

同類產(chǎn)品鏈接:

SGC-2 自動(dòng)橢圓偏振測厚儀 http://www.tjgd.com/view/product.asp?id=147

SGC-1A 橢圓偏振測厚儀  http://www.tjgd.com/view/product.asp?id=50

光學(xué)棱鏡

 我公司能夠生產(chǎn)多種規(guī)格種類光學(xué)棱鏡,包括,直角棱鏡,等邊棱鏡,及定制棱鏡。
材料:各種光學(xué)玻璃以及紫外熔石英、紅外熔石英、氟化鈣等晶體材料,并可根據(jù)客戶要求提供鍍膜服務(wù)
另還可生產(chǎn)球面鏡、柱面鏡、光學(xué)窗口、平面鏡、反射鏡、膠合鏡、棱鏡、非球面等各種高精密光學(xué)元件,基底材料包括各種火石玻璃、紫外熔石英、紅外熔石英等光學(xué)玻璃以及氟化鈣(CaF2)、鍺(Ge)、硒化鋅(ZnSe)、硅(Si)等光學(xué)晶體材料,并可以提供鍍膜和檢測服務(wù)。公司產(chǎn)品性能、精度等指標(biāo)可達(dá)到國際先進(jìn)水平,產(chǎn)品種類豐富、質(zhì)量優(yōu)良,大部分產(chǎn)品均備有充分的現(xiàn)貨庫存,也可以按客戶需求設(shè)計(jì)和制作產(chǎn)品。
 
該公司產(chǎn)品分類: 光學(xué)鏡片

KEYENCE LV-H42系列遠(yuǎn)距離數(shù)字激光光學(xué)傳感器

■特點(diǎn):遠(yuǎn)距離大表面檢測 檢測范圍1000mm LED指示器顯示檢測穩(wěn)定性 利用狹縫板可調(diào)節(jié)表面寬度 16位高精度大功率模式■說明:遠(yuǎn)距離大面積檢測

表面光點(diǎn)檢測更為使用傳統(tǒng)的傳感器,當(dāng)遠(yuǎn)離目標(biāo)或使用細(xì)微光點(diǎn)時(shí)檢測區(qū)焦點(diǎn)不能對準(zhǔn)因而模糊不清。LV - H42解決了這些問題。 即使當(dāng)傳感器離目標(biāo)很遠(yuǎn),傳感器也能產(chǎn)生清晰的線狀光點(diǎn)。這樣即使檢測位置和目標(biāo)形狀發(fā)生變化,檢測結(jié)果也能。

超緊湊型傳感器頭適用于任何地方雖然LV系列傳感器頭是半導(dǎo)體激光反射型的,但尺寸只有我們普通型的一半。

傳感器探頭安裝有LED指示器標(biāo)明檢測穩(wěn)定性"LED指示器"是所有型號傳感器的標(biāo)準(zhǔn)部件,被用來標(biāo)明檢測的穩(wěn)定性,操作狀態(tài)與穩(wěn)定性不用通過放大器就可以很容易地察看到。

半導(dǎo)體激光被用作光源利用半導(dǎo)體作為光源可使LV系列產(chǎn)品遠(yuǎn)距離生成強(qiáng)烈的聚束光點(diǎn)。甚至當(dāng)遠(yuǎn)離目標(biāo)時(shí),LV系列產(chǎn)品也能精確地檢測和辨別,而利用發(fā)光二極管作為光源的傳感器不可能做到這一點(diǎn)。 ■應(yīng)用:

最新產(chǎn)品

熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計(jì) 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計(jì)(PH計(jì)) 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑