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ROHS有害物質(zhì)元素分析儀

當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時，驅(qū)逐一個內(nèi)層電子而出現(xiàn)一個空穴，使整個原子體系處于不穩(wěn)定的激發(fā)態(tài)，激發(fā)態(tài)原子壽命約為 10-12-10-14s，然后自發(fā)地由能量高的狀態(tài)躍遷到能量低的狀態(tài)。這個過程稱為馳豫過程。馳豫過程既可以是非輻射躍遷，也可以是輻射躍遷。當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時，所釋放的能量隨即在原子內(nèi)部被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，此稱為俄歇效應(yīng)，亦稱次級光電效應(yīng)或無輻射效應(yīng)，所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。它的能量是特征的，與入射輻射的能量無關(guān)。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不在原子內(nèi)被吸收，而是以輻射形式放出，便產(chǎn)生X 射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。因此，X射線熒光的能量或波長是特征性的，與元素有一一對應(yīng)的關(guān)系。

K層電子被逐出后,其空穴可以被外層中任一電子所填充，從而可產(chǎn)生一系列的譜線，稱為K系譜線：由L層躍遷到K層輻射的X射線叫Kα射線,由M層躍遷到K層輻射的X射線叫Kβ射線……。同樣,L層電子被逐出可以產(chǎn)生L系輻射。如果入射的X 射線使某元素的K層電子激發(fā)成光電子后L層電子躍遷到K層，此時就有能量ΔE釋放出來，且ΔE=EK-EL，這個能量是以X射線形式釋放，產(chǎn)生的就是Kα 射線，同樣還可以產(chǎn)生Kβ射線，L系射線等。莫斯萊(H.G.Moseley) 發(fā)現(xiàn)，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數(shù)Z有關(guān)，其數(shù)學(xué)關(guān)系如下：

λ=K(Z-s)-2

這就是莫斯萊定律，式中K和S是常數(shù)，因此,只要測出熒光X射線的波長,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系，據(jù)此，可以進(jìn)行元素定量分析。

（二）XR-306能量色散X熒光光譜儀特點(diǎn)

1.無需制樣即可直接測量.

2. 所有元素可以同時測量,且短短幾分鐘即可完成分析,可以應(yīng)付大批量待測樣品.

3. 檢出限低,可以滿足WEEE和ROHS指令要求.

4. 無損分析. 分析樣品不被破壞，分析快速，，便于自動化。

5. 沒有人為誤差,誰操作都得到一樣的結(jié)果.

6. 操作簡單,可以單鍵完成操作.

7.分析的元素范圍廣，從Na到U均可測定；

8.熒光X射線譜線簡單，相互干擾少，樣品不必分離，分析方法比較簡便；

9.分析濃度范圍較寬,從常量到微量都可分析。重元素的檢測限可達(dá)ppm量級，

10、連續(xù)測試重復(fù)性極強(qiáng)，測試數(shù)據(jù)穩(wěn)定

（三）能量色散光譜分析儀與波長色散光譜分析儀的區(qū)別

能量色散分析儀只有一個探測器，它對測量Ｘ射線能量范圍是不受限制的，而且這個探測器能同時測量到所有能量的Ｘ射線。也就是說只要激發(fā)樣品的Ｘ射線的能量和強(qiáng)度能滿足激發(fā)所測樣品的條件，對一組分析的元素都能同時測量出來。一般有以下三種基本類型的探測器可用于測量Ｘ射線：密封式或流氣式充氣探測器、閃爍探測器、半導(dǎo)體探測器。

能量色散的條件是當(dāng)樣品被激發(fā)后產(chǎn)生的Ｘ射線通過窗口進(jìn)入探測器探測器把Ｘ射線能量轉(zhuǎn)換成電荷脈沖，每個Ｘ射線光子在探測器中生成的電荷與該光子的能量成正比。該電荷被轉(zhuǎn)換成電壓脈沖，當(dāng)這些電壓脈沖經(jīng)充分放大后，被送入脈沖處理器，脈沖處理器把這些代表著各個元素的模擬信號再轉(zhuǎn)換成為數(shù)字信號，由計(jì)算機(jī)進(jìn)行分類，分別存入多道分析器（ＭＣＡ）的相應(yīng)通道內(nèi)，一般使用１０２４－２０４８道ＭＣＡ。這些通道覆蓋了分析的整個能量范圍。

波長色散分析儀是用多個衍射晶體分開待測樣品中各元素的波長，由此對元素進(jìn)行測量。晶體被安裝在適當(dāng)位置，以滿足布拉格定律的要求。Ｘ射線熒光分析和其它光譜分析一樣，也是一種相對分析。這就是說，要有一套參考標(biāo)樣，這些參考標(biāo)樣能夠在可能感興趣的范圍內(nèi)覆蓋所測元素。首先對這些標(biāo)樣進(jìn)行測量，記錄欲分析元素的強(qiáng)度，建立濃度（含量）、強(qiáng)度（ＣＰＳ）校準(zhǔn)曲線，存入處理數(shù)據(jù)的計(jì)算機(jī)，供以后分析同一類型未知樣品時使用。最簡單的校準(zhǔn)線是直線，強(qiáng)度與濃度的依賴關(guān)系反映儀器的靈敏度。

另外由于校準(zhǔn)線要在很長一段時間內(nèi)使用，所以應(yīng)對儀器的漂移作出調(diào)整，盡管這種漂移不大，但它確實(shí)存在。這可以通過對每個分析元素選用高、低兩個參考點(diǎn)來實(shí)現(xiàn)。制備若干被稱作ＳＵＳ（調(diào)整樣）的特殊樣品，它們含有適量的分析元素，有很好的穩(wěn)定性。利用它們可以求出高、低強(qiáng)度值。

產(chǎn)品規(guī)格：

名稱	X熒光光譜儀
型號	XR-306
分析原理	能量色散X射線熒光分析法
分析元素	Na ～U任意元素, 鉛（Pb）、鎘(Cd)、汞（Hg）、六價鉻（Cr⁶⁺）、多溴聯(lián)苯（PBB）和多溴聯(lián)苯醚（PBDE）中的溴。
技術(shù)指標(biāo)	檢出下限(Cd/Pd)：Cd/Cr/Hg/Br≦2 ppm, Pb≦5 ppm 樣品形狀：任意大小，任意不規(guī)則形狀樣品類型：塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體 X射線管：靶材/Mo 管電壓/5～50 kV 管電流/最大1～1000 μA 照射直徑：2、5、8mm 探測器：Si(PIN)半導(dǎo)體高靈敏度探測器濾光片：八種新型濾光片自動選擇樣品定位：微動載物平臺（選配）樣品觀察：30倍彩色CCD攝像機(jī) 微區(qū)分析：X光聚焦微區(qū)分析系統(tǒng)（選配）軟件定量分析：理論Alpha系數(shù)法(NBS-GSC法) 數(shù)據(jù)處理：IMB PC/AT/內(nèi)存/256 MB 以上/硬盤/40 GB 以上系統(tǒng)：Windows XP正版功率：1.1kW 重量：40Kg 外形尺寸：550(W)×450(D)×450(H)mm
標(biāo)準(zhǔn)配置	標(biāo)準(zhǔn)配置：Si(PIN)半導(dǎo)體高靈敏度探測器(<150eV) X光光管(壽命>15000小時) 高壓電源（RSD<0.25%）大樣品倉高精密攝像機(jī)(130萬像素) Alpha系數(shù)法(NBS-GSC法)定量軟件計(jì)算機(jī)(P4品牌機(jī)) 打印機(jī)（愛普生彩色噴墨打印機(jī)）測試用樣品杯2個，測試用塑料薄膜數(shù)張標(biāo) 樣：歐盟EC681一片、銀校正標(biāo)樣一片。 1KVA UPS不間斷電源儀器工作臺
工作條件	工作溫度：10-30℃ 相對濕度：≤70% 電源：AC 220 V±10 %、50/60 Hz

TQ-3A型碳?xì)湓胤治鰞x

功能特點(diǎn)

吸收質(zhì)量法測定煤或其它有機(jī)物中碳和氫的

　含量。

三段獨(dú)立式自動恒溫控制系統(tǒng)，可分別任意

　設(shè)定、控制不同溫度。

數(shù)字式溫度顯示�？赏瑫r測定兩個試樣。

技術(shù)參數(shù)

測定范圍	碳1～100%,氫0～20%			測定精度	符合GB/T476-2001要求
測溫精度	0.2級			控溫范圍	100～1100℃
控溫精度	±10℃			工作電源	AC220V±22V，50Hz±1Hz
節(jié)爐爐膛溫度	850℃	額定功率	1200W	恒溫區(qū)長	60mm
第二節(jié)爐爐膛溫度	800℃	額定功率	1500W	恒溫區(qū)長	80mm
第三節(jié)爐爐膛溫度	600℃	額定功率	800W

XLt 797 WZ手提式XRF重金屬元素分析儀 rohs檢測儀

要特點(diǎn)

塑料模式：可測塑料樣品中13種標(biāo)準(zhǔn)元素；鈦、鉻、鐵、銅、鋅、硒、溴、鎘、錫、銻、汞和鉛? 應(yīng)對RoHS指令，無需樣品前處理過程? 同時檢測并顯示出Cd/Cr/Pb/Hg/Br等十幾種元素的ppm含量? 檢測時間0-300秒? 合金模式：可測合金、焊料以及金屬制品中的25種標(biāo)準(zhǔn)元素；鈦、釩、鉻、錳、鐵、鎳、銅、鋅、硒、鋯、鈮、鉬、鉿、鉭、鎢、錸、鉛、鉍、鈀、銀、錫、鎘、金和鉑? 用于合金鑒別、成分分析（百分比含量，可精確到0.01％即100ppm）? 無損樣品，檢測時間0-60秒? 同時檢測及顯示多達(dá)25種標(biāo)準(zhǔn)元素含量，可定做特殊元素? 適用于焊錫、不銹鋼、黃銅及其他金屬制品中鉛含量的檢測?

X-300電子電器元素分析儀器

電子電器元素分析儀器

EDX3000CROHS檢測儀器,鍍層測厚儀,全元素分析儀器

專門為RoHS檢測推出的新款儀器

在EDX3000B的基礎(chǔ)上，增加了準(zhǔn)直器和濾光片自動切換功能，使儀器更具智能化，人性化

技術(shù)指標(biāo)

分析元素：從硫到鈾

分析精度：1ppm-99.99%，ROHS規(guī)定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br）檢測限達(dá)1ppm。

能量分辨率：155±5V

高壓：5-50kv

管流：50-1000μA

適用溫度：15-30℃

自動濾光片選擇

多種準(zhǔn)直器自動自由切換

加強(qiáng)金屬元素感度分析器

三維自由度超大的樣品腔設(shè)計(jì)，樣品腔尺寸：1000＊1000＊100mm

三重安全保護(hù)模式

相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型

多變量非線性回歸程序

任意多個可選擇的分析和識別模型

一次可同時分析24個元素

電源：交流220v±5v

X-Strata980X-Strata980（X熒光鍍層測厚及痕量元素分析儀）

X-Strata980（X熒光鍍層測厚及痕量元素分析儀）

產(chǎn)品簡介：

X-Strata980結(jié)合了大功率X射線管和高分辨率探測器，能夠滿足多鍍層、復(fù)雜樣品和微小測試面積

的檢測需求。這款儀器的電制冷固態(tài)探測器確保的信/躁比，從而降低檢測下限。探測器分辨率極高，

能更容易地識別、量化和區(qū)分相鄰的元素。有害元素檢測結(jié)果可精確到ppm級，確保產(chǎn)品滿足環(huán)保要求，

幫助企業(yè)降低高昂的產(chǎn)品召回成本和法令執(zhí)行成本。您可以針對您的應(yīng)用選擇最合適的分析模型：經(jīng)驗(yàn)系

數(shù)法、基本參數(shù)法或兩者結(jié)合。這款儀器能對電子產(chǎn)品上的關(guān)鍵組裝區(qū)域進(jìn)行快速篩選性檢測。一旦識別

出問題區(qū)域，即可對特定小點(diǎn)進(jìn)行定量分析。大型樣品艙能夠靈活地檢測大件或形狀不規(guī)則的樣品，大艙

門使樣品更易放入。

應(yīng)用:

－－RoHS/WEEE

－－有害元素痕量分析

－－焊料合金成分分析和鍍層厚度測量

－－電子產(chǎn)品中金和鈀鍍層的厚度測量

－－五金電鍍、CVD、PVD鍍層的厚度測量

－－貴金屬合金分析和牌號鑒定

產(chǎn)品特點(diǎn):

－－100瓦X射線管

－－25mm2PIN 探測器

－－多準(zhǔn)直器配置

－－掃描分析及元素分布成像功能

－－靈活運(yùn)用多種分析模型

－－清晰顯示樣品合格/不合格

－－超大樣品艙

－－同時分析元素含量和鍍層厚度

技術(shù)參數(shù):

－－元素范圍:S（16） to U（92）

－－可測鍍層層數(shù):5 層（4 層+ 底材）,可同時分析25種元素成份

－－X射線管功率:100W （50kV ａnd 2mA）微焦點(diǎn)鎢靶X射線管

－－探測器:25mm2 PIN 電制冷固態(tài)探測器

－－濾波器/準(zhǔn)直器:最多可包含5個初級濾波器和4個準(zhǔn)直器規(guī)格（0.1, 0.2, 0.3, 1.27mm Ø）

－－數(shù)字脈沖處理器:4096多道數(shù)據(jù)分析功能;自動數(shù)據(jù)處理,包括死時間修正

－－電腦/顯示器/系統(tǒng)軟件

Celeron, 1.86 GHz, 40 GbHD, 512Mb RAM, 相同或更高配置

15”LCD, 1024 x 768

MicrosoftTM XP SP2

－－攝像系統(tǒng):1/2” CMOS-640x480 VGA resolution

－－電源:85~130V or 215~265 V, 頻率47Hz to 63Hz

－－工作環(huán)境: 10－40℃、相對濕度小于98%，無冷凝水

－－XYZ軸行程: 203 x 152 x 216 mm （8 x 6 x 8.5”）

－－最大樣品尺寸

305 x 390 mm （12 x 15.4”），樣品高度為 50mm （2”）

305 x 352 mm （12 x 13.9”），樣品高度為 203mm （8”）

－－艙室尺寸: （W x D x H）:584 x 508 x 220mm （23 x 20 x 8.7”）

－－外型尺寸

高765mm （30.1”）

寬 700mm （27.5”）, 840mm （5.5”） with one mouse pad extended

深790mm （31.1”）, 990 mm （39”） with keyboard tray extended

－－重量: 135 kg

HJ-BS3D型智能有色金屬多元素分析儀器

1、主要技術(shù)參數(shù)： ◇分析方法：光電比色分析法 ◇量程范圍：吸光度值0～1.999A 濃度值0～99.99% ◇測量精度：符合GB223.3～5－88標(biāo)準(zhǔn) ◇電源電壓：220V±10% 50Hz 2、主要特點(diǎn)： ◇采用“智能動態(tài)跟蹤”和“標(biāo)準(zhǔn)曲線的非線性回歸”技術(shù)，結(jié)果數(shù)顯直讀百分含量，自動打印 ◇可儲存曲線數(shù)由原來的9條增加到15條，分析范圍更廣； ◇零點(diǎn)、滿度自動跟蹤，無需精確調(diào)整； ◇輕觸32鍵音響提示，減少組合操作，性更高、操作更簡單； ◇可輸入日期和爐號，自動打印結(jié)果； ◇調(diào)整波長、變更比色皿、改變稱樣量及合理利用曲線，可擴(kuò)大測量元素的品種及含量范圍 ◇采用了的冷光源技術(shù)，使測量數(shù)據(jù)更加穩(wěn)定。

該公司產(chǎn)品分類：碳硫分析儀元素分析儀器分析儀器

CE-440元素分析儀

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KDS-3C金屬元素分析儀

一、KDS-3C金屬元素分析儀主要技術(shù)參數(shù)： KDS-3C型金屬元素分析儀包含KDS-3A、3B型分析儀的所有功能并在原來九條工作曲線的基礎(chǔ)上增加至十五條工作曲線,大大拓寬了測量元素的種類. 零點(diǎn)、滿度均自動跟蹤,無需精確調(diào)整. 采用觸摸鍵盤,32鍵音響提示,多種快捷功能鍵,操作更為簡便. 可輸入日期和爐號,并可自動打印記錄. 采用了的冷光源技術(shù)使數(shù)據(jù)更加穩(wěn)定。

二、KDS-3C金屬元素分析儀技術(shù)參數(shù)： 1、波長范圍：400-750nm（濾光片） 2、吸光度范圍：0-2A 3、濃度范圍：0.000-9.999% 10.00-99.99%自動換檔顯示 4、數(shù)據(jù)存貯：EPROM，斷電數(shù)據(jù)可保持?jǐn)?shù)年 5、電源：交流220V±10% 6、耗電量：≤50W

該公司產(chǎn)品分類：碳硫分析儀多元素分析儀五大元素分析儀硅錳磷分析儀有色金屬分析儀鋅合金分析儀高頻紅外碳硫儀化驗(yàn)室設(shè)備碳硫聯(lián)測分析儀鉻鎳鉬銅測定儀鑄造用分析儀器爐前快速分析儀光譜分析儀金相顯微鏡便攜式看譜儀(鏡) 金屬元素分析儀合金分析儀爐前鐵水分析儀鐵合金分析儀碳硫儀