工業(yè)近景攝影測量系統(tǒng)XTDP 拍照式三維掃描儀 大型工件尺寸測量 配合三維掃描儀高精度測量檢測 系統(tǒng)主要由高性能單反相機、編碼標志點、非編碼標志點、標尺、計算機及檢測分析軟件等組成。
0.1 系統(tǒng)特色工業(yè)近景攝影測量系統(tǒng)XTDP 拍照式三維掃描儀 大型工件尺寸測量 配合三維掃描儀高精度測量檢測
l 國內(nèi)自主研發(fā)的工業(yè)近景攝影測量系統(tǒng)
l 高精度的相機標定算法，適用于多種數(shù)碼相機
l 自主知識產(chǎn)權的核心算法，達到國際先進水平
l 測量范圍大：可測量0.3m~30m范圍的物體
l 測量精度高：最高精度可達±0.015mm/m
l 測量速度快：拍照方便快速，計算速度快，測量結果三維可視化
l 具備CAD數(shù)模對比模塊，可用于質(zhì)量檢測
l 具備靜態(tài)變形測量模塊，可測量工件變形數(shù)據(jù)
l 操作方便：設備不需要事先校正，使用方便，對操作人員無特殊要求
l 適應性強：不受環(huán)境及測量范圍限制，可在車間或工業(yè)現(xiàn)場測量
l 便攜式設計：設備輕便，單人可攜帶外出開展測量工作
l 支持64位系統(tǒng)操作系統(tǒng)，可多線程、多工程運算，計算速度更快。
0.2 系統(tǒng)功能工業(yè)近景攝影測量系統(tǒng)XTDP 拍照式三維掃描儀 大型工件尺寸測量 配合三維掃描儀高精度測量檢測系統(tǒng)采用近景攝影測量技術，在被測物體上放置編碼點及非編碼點，通過單反相機圍繞被測物體拍攝多張被測物圖像，快速檢測被測物表面關鍵的三維坐標、三維位移數(shù)據(jù)，測量結果三維彩色顯示。系統(tǒng)功能主要包括基本測量功能、變形測量功能、數(shù)模對比功能、分析報告功能等。具體功能如下：
（1）基本測量功能：
測量幅面：支持幾十厘米到幾十米的測量幅面
測量相機：支持多種單反、工業(yè)相機圖像計算
※相機數(shù)目：支持單個相機或多個相機圖像同時計算，提高大型工件的測量效率
※相機標定：軟件具備相機自標定功能，支持多種相機鏡頭畸變模型
計算模式：具備自動計算和自定義計算兩種模式，方便用戶靈活操作
※標志點類型：支持10、12、15位編碼點，支持黑底白點、白底黑點，更多類型可定制
※變形測量功能：通過多次測量不同變形狀態(tài)下的觀測標志點三維坐標，可以進行關鍵點三維變形偏差計算和色譜圖分析
※數(shù)模對比功能：可以對被測工件與CAD數(shù)模進行三維幾何形狀比對
測量結果：包含三維坐標、三維位移等數(shù)據(jù)，測量結果三維顯示
顯示設置：三維顯示可靈活設置，包括顏色，尺寸等，可顯示相機三維位置
※厚度補償：具備編碼點及非編碼點厚度自動補償功能
多工程測量：系統(tǒng)軟件支持多工程計算、顯示及分析
※多核加速：多核CPU并行運算，提高系統(tǒng)解算速度
支持系統(tǒng)：同時支持32位、64位系統(tǒng)
（2）變形測量功能：
參考模式：基準狀態(tài)可任意設置，可是狀態(tài)或者中間狀態(tài)
對齊模式：支持ID轉(zhuǎn)換、相對關系轉(zhuǎn)換、手動轉(zhuǎn)換等多種狀態(tài)對齊模式
搜索深度：支持任意指定標志點搜索半徑及搜索深度，提高標志點追蹤穩(wěn)定性
分析模式：支持多觀察域分析，觀察域自由選擇
測量結果：包含X，Y，Z三維位移分量及總位移E
結果顯示：位移測量結果在三維視圖和圖像中以射線和色譜形式繪制，真實表達三維點的變形與運動，顯示效果可靈活設置
（3）數(shù)模對比功能：
※數(shù)模導入：支持stl，iges，step等多種數(shù)模文件格式
※分析模式：支持多觀察域分析，觀察域自由選擇
檢測結果：包含X，Y，Z三維偏差分量及總偏差E
結果顯示：三維彩色矢量箭頭直觀顯示偏差結果，顯示效果可靈活設置
（4）分析報告功能：
坐標轉(zhuǎn)換功能：321轉(zhuǎn)換、參考點擬合、全局點轉(zhuǎn)換、矩陣轉(zhuǎn)換等多種坐標轉(zhuǎn)換功能
※元素創(chuàng)建功能：三維點、線、面、圓、槽孔、矩形孔、球、圓柱、圓錐
※分析創(chuàng)建功能：點點距離、點線距離、點面距離、線線夾角、線面夾角、面面夾角
屏幕截圖功能：具備二維圖像及三維圖像截圖功能，截圖自動插入報告
數(shù)據(jù)輸出功能：測量結果及分析結果輸出成報表，支持TXT，XLS，DOC文件的輸出
（5）擴展接口
※系統(tǒng)擴展：可配合XTOM型三維光學面掃描系統(tǒng)使用，提高大型工件的拼接精度
0.3 技術指標（聯(lián) 系 方 式： 1 8 0 5 1 1 1 2 9 6 3） XTDP三維光學攝影測量系統(tǒng)，使用普通單反相機（非量測相機），通過多幅二維照片，基于工業(yè)近景攝影測量原理，重建工件表面關鍵點三維坐標。用于對中型、大型（幾米到幾十米）物體的關鍵點進行三維測量。與傳統(tǒng)三座標測量儀相比，沒有機械行程限制，不受被測物體的大小、體積、外形的限制，能夠有效減少累積誤差，提高整體三維數(shù)據(jù)的測量精度？梢源?zhèn)鹘y(tǒng)的激光跟蹤儀、關節(jié)臂、經(jīng)緯儀等，而且沒有繁瑣的移站問題，方便大型工件測量。系統(tǒng)主要由高性能單反相機、編碼標志點、非編碼標志點、標尺、計算機及檢測分析軟件等組成。0.1 系統(tǒng)特色
l 國內(nèi)自主研發(fā)的工業(yè)近景攝影測量系統(tǒng)
l 高精度的相機標定算法，適用于多種數(shù)碼相機
l 自主知識產(chǎn)權的核心算法，達到國際先進水平
l 測量范圍大：可測量0.3m~30m范圍的物體
l 測量精度高：最高精度可達±0.015mm/m
l 測量速度快：拍照方便快速，計算速度快，測量結果三維可視化
l 具備CAD數(shù)模對比模塊，可用于質(zhì)量檢測
l 具備靜態(tài)變形測量模塊，可測量工件變形數(shù)據(jù)
l 操作方便：設備不需要事先校正，使用方便，對操作人員無特殊要求
l 適應性強：不受環(huán)境及測量范圍限制，可在車間或工業(yè)現(xiàn)場測量
l 便攜式設計：設備輕便，單人可攜帶外出開展測量工作
l 支持64位系統(tǒng)操作系統(tǒng)，可多線程、多工程運算，計算速度更快。
0.2 系統(tǒng)功能系統(tǒng)采用近景攝影測量技術，在被測物體上放置編碼點及非編碼點，通過單反相機圍繞被測物體拍攝多張被測物圖像，快速檢測被測物表面關鍵的三維坐標、三維位移數(shù)據(jù)，測量結果三維彩色顯示。系統(tǒng)功能主要包括基本測量功能、變形測量功能、數(shù)模對比功能、分析報告功能等。具體功能如下：（1）基本測量功能：
測量幅面：支持幾十厘米到幾十米的測量幅面
測量相機：支持多種單反、工業(yè)相機圖像計算
※相機數(shù)目：支持單個相機或多個相機圖像同時計算，提高大型工件的測量效率
※相機標定：軟件具備相機自標定功能，支持多種相機鏡頭畸變模型
計算模式：具備自動計算和自定義計算兩種模式，方便用戶靈活操作
※標志點類型：支持10、12、15位編碼點，支持黑底白點、白底黑點，更多類型可定制
※變形測量功能：通過多次測量不同變形狀態(tài)下的觀測標志點三維坐標，可以進行關鍵點三維變形偏差計算和色譜圖分析
※數(shù)模對比功能：可以對被測工件與CAD數(shù)模進行三維幾何形狀比對
測量結果：包含三維坐標、三維位移等數(shù)據(jù)，測量結果三維顯示
顯示設置：三維顯示可靈活設置，包括顏色，尺寸等，可顯示相機三維位置
※厚度補償：具備編碼點及非編碼點厚度自動補償功能
多工程測量：系統(tǒng)軟件支持多工程計算、顯示及分析
※多核加速：多核CPU并行運算，提高系統(tǒng)解算速度
支持系統(tǒng)：同時支持32位、64位系統(tǒng)
（2）變形測量功能：
參考模式：基準狀態(tài)可任意設置，可以是狀態(tài)或者中間狀態(tài)
對齊模式：支持ID轉(zhuǎn)換、相對關系轉(zhuǎn)換、手動轉(zhuǎn)換等多種狀態(tài)對齊模式
搜索深度：支持任意指定標志點搜索半徑及搜索深度，提高標志點追蹤穩(wěn)定性
分析模式：支持多觀察域分析，觀察域自由選擇
測量結果：包含X，Y，Z三維位移分量及總位移E
結果顯示：位移測量結果在三維視圖和圖像中以射線和色譜形式繪制，真實表達三維點的變形與運動，顯示效果可靈活設置
（3）數(shù)模對比功能：
※數(shù)模導入：支持stl，iges，step等多種數(shù)模文件格式
※分析模式：支持多觀察域分析，觀察域自由選擇
檢測結果：包含X，Y，Z三維偏差分量及總偏差E
結果顯示：三維彩色矢量箭頭直觀顯示偏差結果，顯示效果可靈活設置
（4）分析報告功能：
坐標轉(zhuǎn)換功能：321轉(zhuǎn)換、參考點擬合、全局點轉(zhuǎn)換、矩陣轉(zhuǎn)換等多種坐標轉(zhuǎn)換功能
※元素創(chuàng)建功能：三維點、線、面、圓、槽孔、矩形孔、球、圓柱、圓錐
※分析創(chuàng)建功能：點點距離、點線距離、點面距離、線線夾角、線面夾角、面面夾角
屏幕截圖功能：具備二維圖像及三維圖像截圖功能，截圖自動插入報告
數(shù)據(jù)輸出功能：測量結果及分析結果輸出成報表，支持TXT，XLS，DOC文件的輸出
（5）擴展接口
※系統(tǒng)擴展：可配合XTOM型三維光學面掃描系統(tǒng)使用，提高大型工件的拼接精度
| 型號:JX204234GD-III光電效應試驗儀 | 型號:JX204235GCY-Ⅳ光速測定儀 | 型號:JX204230SZS-ZL夫蘭克—赫茲實驗儀 |
可用譜線：3650Å 4050Å 4360Å 5460Å 5770Å
本儀器由光學系統(tǒng)和信號處理系統(tǒng)兩部分組成，它根據(jù)光拍頻原理設計，通過光電轉(zhuǎn)換檢測，在普通示波器上同時觀察和比較兩束光的波形和相位，測量光程差和位相差，求得光速。
采用新的分頻、觸發(fā)措施，能在示波器上觀察到、清晰的波形。
實驗誤差＜±5‰(位相差=2n時)
頻率≈35MHz
激光管波長：6328Å
功率＞1.5mW
連續(xù)工作時間：≥20h
體積：1480×420×270mm3，適合普通桌面