日本尼康最新研發(fā)的LC15DX 激光掃描測(cè)頭完全可以替代接觸式測(cè)頭,用于日益普遍的高精度三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)應(yīng)用。
該測(cè)頭可在不影響生產(chǎn)周期的情況下更精確地測(cè)量產(chǎn)品尺寸,此外,它還能更高效地測(cè)量多種部件、幾何體及材料,其中包括因尺寸極小或易碎而不宜使用接觸式測(cè)頭測(cè)量的部件。
探測(cè)誤差(MPEp) | 2.5μm |
分辨率(點(diǎn)距) | 22μm |
數(shù)據(jù)采集(近似值) | 70,000點(diǎn)/秒 |
每線點(diǎn)數(shù)(近似值) | 900 |
測(cè)量溫度范圍 | 18-22℃ |
測(cè)頭兼容性 | PH10M, PH10MQ, CW43,PHS |