技術(shù)參數(shù)
測量方式 | 電磁式 | 渦流式 |
探頭名稱 | 磁性探頭 | 渦流探頭 |
測量對象 | 磁性金屬(鐵、鋼)上非磁性涂鍍層 | 非磁性金屬(非鐵)上的絕緣層 |
測量范圍 | 0~2500um(99mils) | 0~1200um(47mils) |
測量精度 | <50um:±1um; 50~1000um:±2%; >1000um:±3% | |
分辨率 | <100um:0.1um; >1000um:±1um | |
存儲數(shù)據(jù) | 約3000個 | |
預(yù)存通道 | 電磁式和渦流式各50個,共計100個 | |
顯示方式 | LCD數(shù)顯 | |
數(shù)據(jù)輸出 | 連接電腦或打印機(jī) | |
電源 | 5#電池×4個 | |
消費電量 | 80mW(不使用背光狀態(tài)下) | |
電池壽命 | 100小時(不使用背光狀態(tài)下連續(xù)使用的情況下) | |
室溫要求 | 0~40℃ | |
外形尺寸 | 主機(jī):75(W)×145(D)×31(H), 340g | |
標(biāo)準(zhǔn)配置 | 鐵基體,鋁基體,標(biāo)準(zhǔn)片,V型塊,主機(jī)皮套,電池×4個,使用說明書 | |
可選附件 | 標(biāo)準(zhǔn)片,專用臺架,軟件,數(shù)據(jù)線,探頭 |
國牛津儀器CMI900用于:Tyco膜厚儀,Molex膜厚儀,Amphenol膜厚儀技術(shù)規(guī)格和介紹可測量元素范圍:Ti22–U92;可同時測定5層/15種元素/共存元素較正;也可進(jìn)行鍍層的單層測量。 測量精度:被測元素厚度﹤20μin(0.5μm)時,第1層元素測量誤差±1μin,第2層元素測量誤差±2μin,第3層元素測量誤差±3μin,被測元素厚度>20μin(0.5μm)時,第1層元素測量誤差±5%,第2層元素測量誤差±10%,第3層元素測量誤差±15%, 測量斑點尺寸:在12.7mm聚焦距離時,最小測量斑點尺寸為:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>準(zhǔn)直器)在12.7mm聚焦距離時,最大測量斑點尺寸為:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm<即圓形12mil>準(zhǔn)直器) 測厚范圍:取決于您的具體應(yīng)用 X射線管采用垂直下照式,空冷式微聚焦型,W靶(可選用Rh、Mo、Ag等)、50W,且裝備有安全防射線光閘。 準(zhǔn)直器:可配置單準(zhǔn)直器或多準(zhǔn)直器,配多準(zhǔn)直器時最多可同時裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器;又分為圓形、矩形準(zhǔn)直器;圓形準(zhǔn)直器規(guī)格:4、6、8、12、13、20mil(即0.102、0.152、0.203、0.305、0.330、0.508mm)等矩形準(zhǔn)直器規(guī)格:1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16mil(即0.025*0.05、0.05*0.05、0.013*0.254、0.025*0.254、0.051*0.254、0.102*0.406mm)等 觀察系統(tǒng)選用30倍(可選用50倍和100倍)高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng),具有激光自動對焦功能、變焦距控制功能和固定焦距控制功能 樣品臺:最大尺寸610mm x 610mm,為開槽式樣品室;分固定臺、程控臺、自動臺,其Z軸為自動控制,移動高度43.18mm;固定臺、程控臺的X、Y軸為手動控制;自動臺的X、Y軸為自動控制,移動范圍152.4 x 177.8mm。 分析應(yīng)用軟件:Windows XP中文平臺、SmartLink FP分析軟件包
OSPRey 800膜厚量測儀詳細(xì)參數(shù):
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可測元素范圍:鈦(Ti) – 鈾(U) 原子序 22 – 92 。
準(zhǔn)直器:固定種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自動種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
電腦系統(tǒng):DELL品牌電腦,17寸液晶顯示器,惠普彩色打印機(jī)
綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析
鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.
鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標(biāo)準(zhǔn)藥液.
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度.
統(tǒng)計功能:能夠?qū)y量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計,方便有效的控制品質(zhì)一體磁性金屬涂層測厚儀 鍍層測厚儀 膜厚儀GT810F GT810F是具有廣泛使用范圍的磁性儀器。其技術(shù)參數(shù)符合國家標(biāo)準(zhǔn)。 本儀器是磁性便攜式一體磁性金屬涂層測厚儀,它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室,也可用于工程現(xiàn)場。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)必備的儀器。Fe質(zhì)探針可檢測所有非磁性涂層厚度,例如涂在鋼、鐵上的漆、粉末涂層、塑料、瓷、鉻、銅、鋅等。 功能:
深圳市速德瑞科技有限公司主營水分儀、涂層測厚儀、光澤度儀、顯微鏡、透光率儀、UV能量計、硬度計、張力計、萬用表等各類儀器儀表歡迎有需要的廠家及經(jīng)銷商來電聯(lián)系聯(lián)系電話: QQ:1612436831登錄www.speedre.com 了解更多詳情
型號:PIG455品牌:ERICHSEN(德國儀力信)品質(zhì)優(yōu)勢:同類產(chǎn)品中具有的品質(zhì)
測量步驟:1、 標(biāo)記:用標(biāo)記筆在所測量的涂層表面上作一小的比色標(biāo)記。2、 劃痕:按刀頭朝下,放大鏡視孔朝前的姿勢抓緊儀器,將刀頭放在標(biāo)記正前方 不遠(yuǎn)的地方,此時兩個導(dǎo)位螺栓和刀頭貼緊涂層表面,輕施壓力讓刀頭保持直線劃過標(biāo)記,且劃透涂層接觸到底材即可。3、 數(shù)格:打開放大鏡視孔旁邊的燈泡開關(guān),將放大鏡聚焦在標(biāo)記上的劃痕上,調(diào) 節(jié)底部的調(diào)焦旋鈕找到的焦距;旋轉(zhuǎn)上部的視孔筒和稍微調(diào)整儀器的位置使任意一長刻度線和面漆標(biāo)記劃痕線直線重疊, 然后從左至右數(shù)小刻度格數(shù),直到第二層漆層或底材,此為單層或多層的小格總數(shù)。4、取數(shù):依不同的型號將小格總數(shù)乘上相應(yīng)的系數(shù)即為涂層的各自單層或多層的總厚度。校正:儀器出廠時已經(jīng)校正。使用一段時間后,如需精確的測量,可使用標(biāo)準(zhǔn)厚度進(jìn)行定期的驗證。
技術(shù)參數(shù):
測量范圍:2-200μm精 度:1%尺 寸:110mm×85mm×25mm
透鏡燈: 3.7V/0.3A/base P13.5 s
用 途:廣泛應(yīng)用于塑膠、木材、混凝土和其他非金屬材料表面漆層和類似的涂層的測量用于劃格法測定,可作多種涂層的組分分析
電池:2個AA電池
測量范圍:2~200 μm(標(biāo)配為6號碳化物刀頭)
放大倍數(shù):50倍
刻 度:2 mm(1/100 格)
凈重:0.4kg
配9V電池以及皮套
可選配件:
910924741 特殊 1號 刀頭 用于最大 2000 um 厚的涂層910927441 特殊 4號 刀頭 用于最大 1000 um 厚的涂層910927641 特殊 5號 刀頭 用于最大 500 um 厚的涂層910927541 特殊 6號 刀頭 用于最大 200 um 厚的涂層
測試原理455測量基于標(biāo)準(zhǔn)楔形切割程序:涂層以一個定義的角度被劃破到基材,涂層的厚度(s)根據(jù)切割面的三角形投影(b)計算出來,這由一個顯微鏡和切割角(а)決定。依據(jù)相同的原理,多層涂層系統(tǒng)的每層涂層厚度也可計算出來,對于符合AS 1580 Meth 408.1標(biāo)準(zhǔn)的附著力測試,在切割操作中涂層卷起的區(qū)域?qū)挾扰c投影b有關(guān)。設(shè)計和功能PIG 455由1個黑色的氧化鋁部件構(gòu)成,它包含以下功能元件:—可更換的碳化物刀頭,具有精確的角度切割刀。—一個50倍的測量顯微鏡和一個刻度(2mm分為100格),它也適用于檢查任務(wù)。—兩對支腳用于支持測量顯微鏡和導(dǎo)向碳化物刀頭。—電池槽可放兩個AA電池—透鏡燈可更好的照明樣品—雙位開關(guān)設(shè)置(點亮/)
產(chǎn)品名稱:SQ-GT8102一體兩用涂層測厚儀/涂膜厚儀 |
產(chǎn)品編號:906 |
產(chǎn)品型號:SQ-GT8102 |
應(yīng)用雙功能測量技術(shù),能夠自動識別磁性或非磁性底材,然后采用相應(yīng)的測試方法,適用于各種測量環(huán)境。可測量非磁性底材上的非導(dǎo)電性涂層和磁性底材上的非磁性涂層的厚度。
SQ-GT8102是具有廣泛使用范圍的磁性和非磁性及兩用儀器。其技術(shù)參數(shù)符合國家標(biāo)準(zhǔn)。
本儀器是磁性、渦流一體的便攜式覆層測厚儀,它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室,也可用于工程現(xiàn)場。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)必備的儀器。Fe質(zhì)探針可檢測所有非磁性涂層厚度,例如涂在鋼、鐵上的漆、粉末涂層、塑料、瓷、鉻、銅、鋅等。NFe質(zhì)探針檢測所有絕緣涂層厚度,例如漆、塑料、瓷等。這些涂層須涂在諸如鋁、銅、黃銅或不銹鋼等非磁性金屬基體上。
(一體化傳感器涂層測厚儀)
機(jī)身尺寸:102mm×66mm×24mm
附件:
標(biāo)準(zhǔn)片4片: 50um 、100um、 250um 、500um(選配:12um、25um)基體2塊(GT810 2塊基體)
電池2塊
清潔布1塊
說明書1份
保修卡1張
華南國家計量中心校準(zhǔn)證書
產(chǎn) 品 說 明 | ||||
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產(chǎn)品資料:國產(chǎn)華唯鍍層厚度檢測儀X射線熒光技術(shù)測厚儀涂層膜厚儀
UX-700 鍍層厚度檢測儀 華唯
配置型號 | 探測器 | X光管 | 高壓電源 |
Ux-700 M | AMPTEK Si-PIN X-123(進(jìn)口) | 上?祁U維(國產(chǎn)) | 咸陽威思曼(國產(chǎn)) |
Ux-700 H | AMPTEK Si-PIN X-123(進(jìn)口) | 上?祁U維(國產(chǎn)) | spellman(進(jìn)口) |
Ux-700 S | AMPTEK SDD X-123(進(jìn)口) | 上?祁U維(國產(chǎn)) | spellman(進(jìn)口 |
產(chǎn)品簡介:國產(chǎn)華唯鍍層厚度檢測儀X射線熒光技術(shù)測厚儀涂層膜厚儀
本著對插接件等細(xì)小結(jié)構(gòu)件的單鍍層和多鍍層厚度的測量,Ux-700更專業(yè)小樣品測試腔的設(shè)計,帶有聚焦光點的準(zhǔn)直器,高分辨率的探測系統(tǒng),眾多條件的選擇,保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
X射線熒光技術(shù)測試鍍層厚度的應(yīng)用,提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗條件,無損、快速和更準(zhǔn)確的特點,對在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗的保障。
Ux-700鍍層測厚儀配備了XY軸微移動平臺,可以通過鼠標(biāo)的點擊操作,選擇樣品的多點測試,特別適應(yīng)于細(xì)小結(jié)構(gòu)多種不同鍍層材料的測試。
Ux-700鍍層測厚儀具有高清晰、高放大倍數(shù)的攝像設(shè)備,測試樣品的部位清楚明了,同時攝像設(shè)備拍抓測試部位的圖片,和測試數(shù)據(jù)結(jié)果一同出現(xiàn)在測試報告中。
Ux-700鍍層測厚儀采用了華唯新專利技術(shù)FlexFp -Multi,不在受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制,在無鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度。
參數(shù)規(guī)格:國產(chǎn)華唯鍍層厚度檢測儀X射線熒光技術(shù)測厚儀涂層膜厚儀
測厚技術(shù):X射線熒光測厚技術(shù)
測試樣品種類:金屬鍍層,合金鍍層
測量下限:0.003um
測量上限:30-50um(以材料元素判定)
測量層數(shù):10層
測量用時:30-120秒
探測器類型:Si-PIN電制冷
探測器分辨率:149eV
高壓范圍:5-50Kv,50W
X光管參數(shù):5-50Kv,50W,側(cè)窗類;
光管靶材:Mo靶;
濾光片:專用鍍層濾光片
CCD觀察:260萬像素
微移動范圍:XY15mm
輸入電壓:AC220V,50/60Hz
測試環(huán)境:非真空條件
數(shù)據(jù)通訊:USB2.0模式
準(zhǔn)直器:Ø0.5mm
軟件方法:FlexFP-Mult
工作區(qū):開放工作區(qū) 自定義
樣品腔:70*20mm
整機(jī)重量:38kg
鍍層測厚方法:
1.磁性涂層測厚法
使用磁性測厚法可測鐵、鋼導(dǎo)磁金屬上面的所有非導(dǎo)磁金屬和所有非導(dǎo)電層的厚度,如鐵上鍍銅、鋅、鉻、金、銀等,涂的油漆、塑料、橡膠、磷化膜、玻璃鋼等。
2.渦流層層測厚法
可以測量非導(dǎo)磁導(dǎo)電金屬上面非導(dǎo)電涂層的厚度,如不銹鋼、銅、鋁金屬上的油漆層、氧化膜、磷化膜、玻璃鋼、橡膠等圖層的厚度
3.X射線熒光法
所有金屬材料/非金屬材料上單金屬成分、2元或多元合金材料的單層和多層厚度的測試,同時可以測試鍍層材料的合金成分含量比例。
常用單位:
微米(um),微英寸(u‘’)俗語“邁”,密耳(mil)
1um=39.4邁, 1um=0.04mil
國產(chǎn)華唯鍍層厚度檢測儀,X射線熒光技術(shù)測厚儀,涂層膜厚儀國產(chǎn)廠家直銷